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文档简介
无损检测技术标准操作手册引言无损检测(Non-destructiveTesting,NDT)是在不破坏被检测对象使用性能与内部组织的前提下,借助物理或化学手段,对试件的结构、性质、状态及缺陷情况进行检测的技术。本手册旨在规范无损检测各方法的操作流程,确保检测结果准确可靠,为产品质量控制、在役设备安全评估提供科学依据。超声检测(UT)超声波在介质中传播时,遇不同声阻抗界面(如缺陷与基体、基体与空气)会发生反射、折射和衰减。通过分析缺陷反射波的位置、幅度、波形,可判定缺陷的位置、大小、性质。装备与耗材探伤仪:数字式超声波探伤仪,需具备波高调节、时基校正、增益控制功能,确保信号捕捉精准。探头:直探头(检测平面缺陷、厚工件)、斜探头(角度5°-70°,检测焊缝、管材周向缺陷)、双晶探头(检测近表面缺陷)。耦合剂:机油、浆糊或专用超声耦合剂,作用是填充探头与工件间隙,减少声能损失。试块:标准试块(如CS-1-5、RB系列)校准探伤仪时基线、灵敏度;对比试块模拟工件缺陷,调整检测灵敏度。操作步骤1.设备校准:连接探头与探伤仪,将探头置于标准试块探伤面,调节“时基线”使试块不同深度反射波(如CS-1-5试块的φ1×6-6dB孔波)对应正确深度;调节“增益”/“衰减器”,使某一反射波幅度达满屏80%,确定检测灵敏度。2.工件准备:清理检测面及附近(范围≥探头直径2倍),去除油污、锈迹、氧化皮,必要时打磨至Ra≤6.3μm,保证表面平整。3.耦合剂涂抹:均匀涂抹耦合剂于检测面,厚度以探头移动时声信号无明显跳动、无气泡为宜。4.扫查检测:采用“之”字形、平行线或格子线扫查,探头移动速度≤150mm/s,相邻扫查区域重叠≥探头宽度10%。检测焊缝时,斜探头沿焊缝两侧锯齿形扫查,前沿距焊缝边缘5-10mm,观察屏幕波形,记录异于底波、始波的反射波声程、幅度、波形特征。5.缺陷判定:根据反射波声程(换算深度/水平距离)、幅度(与试块缺陷波对比确定当量尺寸)、波形(裂纹波尖锐连续,气孔波单峰圆润),结合工件结构,判定缺陷类型、位置、大小。注意要点探头选择:厚工件(≥100mm)选低频(2.5MHz)、大角度(45°-60°)斜探头;薄工件(≤20mm)选高频(5MHz)、小角度(30°-45°)斜探头。环境控制:远离强电磁干扰(如电焊机、大型电机),温度5-40℃、湿度≤85%,避免影响探伤仪稳定性。耦合剂管理:禁止使用易腐蚀工件的耦合剂(如铝合金工件避免含氯离子耦合剂),检测后及时清理工件表面耦合剂。结果评定依据GB/T____或JB/T4730,按缺陷当量尺寸、位置、性质,将焊缝/工件分为Ⅰ-Ⅳ级(Ⅰ级最优,Ⅳ级不合格)。射线检测(RT)X射线或γ射线穿透工件时,缺陷(如气孔、裂纹、未焊透)对射线的衰减能力与基体不同,导致射线透过缺陷后的强度变化。通过胶片(胶片法)或数字探测器(DR/CR法)接收射线,形成缺陷影像,从而判定缺陷情况。装备与耗材射线源:X射线机(管电压≤450kV,用于中薄工件)、γ射线源(如Ir-192、Co-60,用于厚工件或现场检测)。成像介质:胶片(工业X射线胶片,如AGFAC7、柯达AA400)、增感屏(前屏铅箔,后屏荧光增感屏);或数字探测器(平板探测器、成像板)。辅助器材:像质计(与工件材质相同或等效,如Fe-1、Al-1型)、标记(工件编号、部位号、透照日期、搭接标记)、暗袋、洗片机(胶片法)、铅板(屏蔽防护)。操作步骤(胶片法为例)1.工艺规划:依据工件厚度、材质、缺陷类型,确定透照参数(管电压/γ源活度、管电流/曝光时间、焦距、透照方式)。焦距需满足L1≥10d²/Ug(d为焦点尺寸,Ug为几何不清晰度允许值),透照方式如纵缝用单壁单影、环缝用双壁双影。2.工件与胶片布置:工件置于射线源与胶片之间,胶片放入暗袋紧贴工件;像质计放射线源侧工件有效透照区边缘(与焊缝垂直,避开余高);标记放胶片暗袋外,与像质计同侧。3.射线曝光:启动射线机/γ源装置,设置曝光参数(如X射线机:200kV、5mA、3min;γ源:Ir-192、10min),曝光时设警示标识,人员撤离辐射区。4.暗室处理:显影(20±2℃,3-5min,搅拌均匀)→停显(0.5-1min)→定影(5-10min)→水洗(15-30min)→干燥(≤60℃)。5.影像分析:观片灯(亮度≥____cd/m²)下观察胶片,识别缺陷影像(气孔为圆形黑点,夹渣为不规则灰黑条纹,裂纹为细长黑线,未焊透为焊缝根部黑线)。注意要点辐射防护:佩戴个人剂量计,与射线源保持≥10m距离或用铅板屏蔽;检测现场设警示,曝光时人员撤离。像质计使用:材质与工件匹配(碳钢用Fe型,铝合金用Al型),透照厚度≤20mm时放射线源侧,>20mm时可放胶片侧(报告注明)。胶片管理:暗室避光干燥,显影液/定影液定期更换(显影液≤100张胶片后更换);胶片避免折痕划伤,检测后归档。结果评定依据GB/T3323或NB/T____,按缺陷类型、尺寸、数量、分布,将焊缝评为Ⅰ-Ⅳ级(Ⅰ级缺陷最少、尺寸最小)。磁粉检测(MT)铁磁性材料(如碳钢、低合金钢)被磁化后,内部磁力线均匀分布;若存在表面/近表面缺陷,磁力线会在缺陷处逸出形成漏磁场,磁粉被漏磁场吸附形成磁痕,从而显示缺陷。装备与耗材探伤机:交直流两用磁粉探伤机,具备周向(通电法、中心导体法)、纵向(线圈法、磁轭法)磁化功能。磁粉:干法磁粉(粒度10-50μm,黑色/荧光)、湿法磁悬液(非荧光磁粉10-25g/L,荧光磁粉0.5-3g/L,水/油配制)。试块:A型试块(检测探伤机灵敏度)、C型试块(检测磁粉性能及操作正确性)。操作步骤1.工件预处理:清理检测面及附近(≥50mm),去除油污、锈、漆,粗糙度≤Ra12.5μm;焊缝余高磨平,避免盲区。2.磁化方法选择:周向磁化(检测纵向缺陷,通电法I=(10-30)D,中心导体法I=(5-20)d);纵向磁化(检测横向缺陷,线圈法NI=(____-____)/L,磁轭法间距≤200mm);复合磁化(检测任意方向缺陷)。3.磁粉施加:干法(磁化同时/后,喷粉器撒布磁粉,厚度≤1mm,观察磁痕);湿法(磁化时,喷壶喷洒磁悬液/工件浸入,荧光磁粉需暗室黑光灯<强度≥1000μW/cm²>下观察)。4.磁痕分析:观察磁痕形状(裂纹细而清晰,气孔圆或椭圆)、长度、宽度,区分伪磁痕(划痕、氧化皮引起,宽且边缘模糊),标记缺陷位置并测量尺寸。5.退磁:对剩磁影响后续加工/使用的工件,检测后用退磁机/交流电退磁,剩磁≤0.3mT(剩磁仪检测)。注意要点磁化规范:周向磁化电流保证有效磁化区(通电法盲区≤10mm);磁轭法间距>200mm时,增加电流或换磁轭。磁粉质量:干法磁粉流动性好无结块,湿法磁悬液无沉淀,浓度定期检测(梨形管/比重计)。安全防护:戴口罩避免磁粉吸入,荧光磁粉观察戴防护眼镜;探伤机接地良好,防止触电。结果评定依据GB/T____或JB/T4730,按磁痕类型、尺寸、数量,将工件评为Ⅰ-Ⅳ级(Ⅰ级无可见磁痕或仅少量微小磁痕)。渗透检测(PT)渗透液(着色/荧光)借助毛细管作用渗入工件表面开口缺陷;去除表面多余渗透液后,显像剂吸附缺陷内渗透液,形成放大的缺陷显示(着色为红色,荧光为黄绿色),从而观察缺陷。装备与耗材渗透液:着色渗透液(红色,含染料)、荧光渗透液(含荧光染料,需黑光灯激发)。显像剂:干式(白色粉末,吸附强)、湿式(悬浮液,成膜薄匀)、快干式(溶剂型,干燥快)。清洗剂:水基(水清洗型渗透液)、溶剂(溶剂清洗型渗透液,如丙酮、乙醇)。辅助器材:黑光灯(荧光法,波长365nm,强度≥1000μW/cm²)、干燥箱(≤60℃)、清洗槽、显像槽。操作步骤1.工件表面处理:彻底清理检测面,去除油污、锈、氧化皮、漆层,粗糙度≤Ra12.5μm;焊缝余高磨平,保证缺陷开口畅通。2.渗透:工件浸入/喷涂渗透液,时间:着色5-10min,荧光10-30min,温度10-50℃;温度<10℃时,时间加倍。3.清洗:水清洗型(压力≤0.3MPa流动水,10-40℃,冲洗方向30-45°,时间≤2min,避免过度清洗);溶剂清洗型(干净布蘸溶剂轻擦,先边缘后中间,避免往复)。4.干燥:自然干燥(10-20min)或干燥箱(50-60℃,5-10min),去除表面水分。5.显像:干式(喷粉器撒布,厚度≤0.05mm,5-60min);湿式(浸入/喷涂,成膜薄匀,5-30min);快干式(喷涂后自然干燥1-5min)。6.缺陷观察:着色法白光下(亮度≥500lx)观察,荧光法暗室黑光灯下观察,记录缺陷位置、形状(裂纹线状,气孔圆点状)、尺寸。注意要点渗透液选择:奥氏体不锈钢、钛合金用低硫低氯渗透液;低温环境选快渗型。清洗控制:溶剂清洗远离火源(防爆),水清洗水压不可过大(防止冲蚀表面)。环境要求:温度5-50℃,湿度≤90%,否则渗透液粘度增大、显像剂吸附力下降。结果评定依据GB/T____或JB/T4730,按缺陷显示类型、尺寸、数量,将工件评为Ⅰ-Ⅳ级(Ⅰ级无可见缺陷显示或仅少量微小显示)。涡流检测(ET)交变电流通过探头线圈,在工件(导电材料)中感应出涡流;缺陷(表面/近表面)会改变涡流大小、相位,导致探头线圈阻抗、感应电压变化。通过检测这些变化,可判定缺陷情况。装备与耗材涡流探伤仪:具备频率调节(1-10MHz)、相位分析、增益控制、报警设置功能。探头:点式(检测小面积、横向缺陷)、线圈式(检测大面积、纵向缺陷)、阵列式(高速检测、成像)。标准样块:带人工缺陷(如φ1mm孔、0.1mm深槽)的样管、样块,用于校准探伤仪灵敏度。操作步骤1.仪器校准:探头置于标准样块探伤面,调节频率(铝合金管材选5MHz,碳钢选2MHz)、增益、相位,使人工缺陷信号幅度达满屏80%,设置报警阈值(如缺陷信号≥满屏50%时报警)。2.工件准备:清理工件表面,去除油污、锈、氧化皮,保证表面光滑(Ra≤6.3μm);工件为导电材料(如铜、铝、碳钢),非铁磁性或铁磁性但导电(如退火态碳钢)。3.扫查检测:探头沿工件表面移动(或工件通过探头,在线检测),速度≤1m/s,保证探头与工件表面距离恒定(提离≤0.1mm,弹簧压块控制)。观察屏幕信号,记录异于背景噪声的信号位置、幅度、相位特征。4.信号分析:结合标准样块信号特征,分析缺陷信号(裂纹信号相位角变化>45°,气孔信号相位角变化<30°);通过相位分析或对比样块,估算缺陷深度(相位角每变10°,深度约变0.1mm,需依材质、频率修正)。注意要点探头选择:管材用内穿式(内壁缺陷)/外夹式(外壁缺陷)探头;板材用平板探头,尺寸与缺陷匹配(小缺陷用小探头,大缺陷用大探头)。提离效应:用提离补偿功能/机械装置控制提离,避免误判。材质影响:工件材质不均匀(电导率变化、热处理状态不同)产生噪声信号,用滤波/相位分析区分缺陷与材质变化。结果评定依据GB/T7735或NB/T____,按缺陷信号幅度、长度、深度,将工件评为Ⅰ-Ⅳ级(Ⅰ级无缺陷信号或仅少量微小缺陷信号)。通用操作要求人员资质无损检测人员需持有相应方法的资格证书(如UTⅡ级、RTⅡ级),并在证书允许范围内开展工作;检测报告需由Ⅱ级及以上人员审核签发。设备管理校准:探伤仪、试块、像质计、磁粉探伤机等设备,按标准定期校准(探伤仪每季度,试块、像质计每年),校准记录归档。维护:探伤仪防潮防摔,定期清洁探头;磁粉探伤机检查线圈绝缘、电极磨损;射线机检修管头、电缆;渗透/涡流设备更换药液、校准探头。检测环境温度:5-40℃(渗透检测可放宽至10-50℃),湿度≤85%(渗透检测≤90%)。照明:射线检测观片灯亮度≥____cd/m²,磁粉/渗透检测白光亮度≥500lx,荧光检测黑光灯强度≥1000μW/cm²。安全:射线检测设辐射警示,磁粉检测戴口罩,渗透检测通风良好,涡流检测接地良好。检测报告与记录检测报告包含:工件信息(编号、材质、规格)、检测方法、设备参数、缺陷位置/尺寸/性质、评定结果、检测/审核人员签字、日期。
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