光缆测试知识试题及答案

光缆测试知识试题及答案一、单选题（每题仅有一个正确答案，错选、多选均不得分）1.在单模光纤链路中，使用OTDR进行双向平均测试的主要目的是A.消除连接器反射盲区B.抵消光纤折射率误差C.消除事件损耗的方向性偏差D.降低测试时间答案：C解析：单方向测试时，同一事件在不同方向测得的损耗值可能因模场直径失配而存在偏差，双向平均可消除方向性误差，得到真实损耗。2.某1550nm单模链路测得全程衰耗为0.25dB/km，若改用1310nm窗口，其衰耗系数理论上将A.增大至0.30dB/km以上B.基本不变C.降至0.20dB/km以下D.与弯曲半径无关答案：A解析：1310nm处材料吸收与瑞利散射均高于1550nm，故衰耗系数增大。3.在OTDR曲线中，若出现“正增益”现象，最合理的解释是A.后段光纤模场直径小于前段B.后段光纤模场直径大于前段C.后段光纤存在裂纹D.前段光纤过度弯曲答案：B解析：后段模场直径变大，光功率更易耦合，OTDR测得反向散射电平升高，表现为正增益。4.对带拉曼放大器的海缆进行OTDR测试时，必须A.关闭放大器泵浦并等待5分钟B.降低脉宽至5nsC.使用1625nmLive测试模式D.将放大器输出端断开答案：A解析：拉曼泵浦光功率极高，直接测试会烧毁OTDR接收机；关闭泵浦并等待放大器自发辐射完全衰减，方可安全测试。5.某链路测得ORL（光回波损耗）为35dB，若需提升至45dB，应优先A.更换为UPC连接器B.增加一段衰减器C.改用APC连接器D.降低发射功率答案：C解析：APC端面8°斜角可将反射光引出纤芯，回波损耗降低10dB以上，是提升ORL最直接手段。6.在1625nm测得宏弯损耗0.05dB/圈，若波长改为1310nm，同圈径下宏弯损耗将A.减小至0.02dB以下B.增大至0.10dB以上C.基本不变D.与涂层无关答案：B解析：宏弯损耗与波长平方近似成反比，波长越短损耗越大。7.对G.657.A1光纤进行最小弯曲半径验证时，IEC60793147规定单圈最小弯曲半径为A.5mmB.7.5mmC.10mmD.15mm答案：C解析：G.657.A1在10mm半径单圈1550nm附加损耗≤0.1dB，满足标准。8.使用光功率计测试带CWDM的链路时，为消除邻道串扰，应优先选择A.大面积探测器B.低暗电流探测器C.带通滤波器D.提高参考功率答案：C解析：CWDM信道间隔20nm，带通滤波器可抑制邻道功率，确保测试精度。9.某OTDR事件表显示“反射峰损耗值=负值”，其物理含义是A.该点为增益现象B.仪器计算错误C.该点实际为反射而非损耗D.需重新校准折射率答案：A解析：负损耗即正增益，表明后段反向散射电平高于前段。10.在PON网络中，使用1490nmOTDR测试OLT到ONT全程，若分光比1:64，建议初始脉宽设置为A.5nsB.30nsC.100nsD.1μs答案：D解析：高损耗链路需大脉宽提高信噪比，1μs可兼顾动态范围与死区。11.对长度为18km的链路进行双向OTDR测试，若两端折射率设置偏差0.001，则测得长度误差约A.8mB.18mC.36mD.90m答案：B解析：长度误差ΔL=L×Δn/n，n≈1.468，ΔL≈18000×0.001/1.468≈12m，最接近18m。12.在OTDR测试中，若需将死区降至0.5m，应选择的脉宽约为A.3nsB.10nsC.50nsD.100ns答案：B解析：死区≈脉宽×光速/(2n)，10ns对应死区约1m，考虑滤波算法可降至0.5m。13.某连接器在1310nm测得IL=0.15dB，若端面污染增加1%，理论上IL将A.增加0.01dBB.增加0.1dBC.增加0.3dBD.基本不变答案：C解析：端面污染引入空气隙，菲涅尔反射增大，IL近似线性增加，1%污染对应约0.3dB。14.对ADSS光缆进行OTDR测试时，发现1310nm全程损耗正常，1550nm损耗显著增大，最可能原因是A.光纤老化B.微弯累积C.氢损D.外护套破损答案：B解析：微弯对长波长敏感，1550nm损耗增大而1310nm正常，符合微弯特征。15.使用OTDR进行光纤长度测量时，若将折射率从1.468误设为1.480，则测得长度将A.偏短1%B.偏长1%C.偏短0.8%D.偏长0.8%答案：A解析：L测=L真×n设/n真，n设>n真，故测得长度偏短。16.在1625nmLive测试中，为确保不影响业务，OTDR输出功率应低于A.10dBmB.20dBmC.30dBmD.45dBm答案：D解析：ITUTL.41建议Live测试功率≤45dBm，避免拉曼串扰与接收机饱和。17.对G.652.D光纤进行PMD测试，若测得PMDQ=0.08ps/√km，则400km链路PMD值约为A.0.08psB.1.6psC.3.2psD.32ps答案：B解析：PMD链路值=PMDQ×√L=0.08×20=1.6ps。18.在OTDR事件分析中，若两点间距离为50m，损耗0.02dB，则每公里损耗为A.0.2dB/kmB.0.4dB/kmC.0.02dB/kmD.无法确定答案：B解析：0.02dB/0.05km=0.4dB/km。19.某链路使用拉锥型分路器，OTDR测试发现分支损耗比标称值大0.5dB，其最可能原因是A.波长漂移B.拉锥区微弯C.连接器脏污D.光纤错位答案：B解析：拉锥区微弯引入附加辐射损耗，导致分支损耗增大。20.对OPGW光缆进行1550nmOTDR测试时，发现起始端出现饱和盲区，最佳处理方式是A.增加发射光纤B.降低脉宽C.提高折射率D.更换APC连接器答案：A解析：发射光纤（盲区光纤）将饱和区移至非关注段，保护OTDR接收机并看清近端事件。二、多选题（每题有两个或以上正确答案，多选、漏选、错选均不得分）21.下列哪些因素会导致OTDR测得光纤长度大于真实值A.折射率设置偏低B.温度升高C.光纤受拉D.折射率设置偏高答案：A、B、C解析：折射率偏低、温度升高导致n下降、光纤受拉使几何长度增加，均使OTDR测得长度偏长。22.关于光时域反射仪（OTDR）的动态范围，下列说法正确的是A.动态范围越大，可测链路损耗上限越高B.动态范围与脉宽成正比C.动态范围与平均时间平方根成正比D.动态范围与探测器带宽成反比答案：A、B、C解析：动态范围∝脉宽×√平均时间，与探测器带宽无直接反比关系。23.在PON网络中，使用OTDR进行故障定位时，下列哪些做法可有效识别分支故障A.采用1625nm波长B.使用1μs以上脉宽C.结合光分路器端口逐一测试D.采用带外波长并关闭ONU答案：A、C、D解析：1625nm为带外波长，ONU关闭避免干扰；逐端口测试可定位分支。24.下列哪些属于宏弯损耗测试的必要条件A.规定弯曲半径B.规定圈数C.规定波长D.规定张力答案：A、B、C解析：宏弯损耗与半径、圈数、波长均相关，标准测试无需规定张力。25.关于OTDR的“鬼影”事件，下列描述正确的是A.鬼影出现在真实事件之后B.鬼影无损耗C.鬼影反射峰高度与真实峰相同D.改变脉宽可识别鬼影答案：A、B、D解析：鬼影为多次反射伪影，出现在真实事件后，无损耗，改变脉宽鬼影位置变化，可识别。26.下列哪些操作可降低OTDR测试误差A.双向平均B.使用发射与接收光纤C.校准折射率D.提高温度答案：A、B、C解析：提高温度引入额外损耗与长度误差，非降低误差手段。27.对海缆进行SLA测试时，需记录哪些参数A.全程衰耗B.每对纤双向OTDR曲线C.PMD值D.氢损系数答案：A、B、C解析：氢损系数为光纤材料参数，非现场测试记录项。28.下列哪些情况会导致OTDR曲线出现“台阶”而非尖峰A.光纤老化B.微弯累积C.熔接点D.连接器答案：A、B、C解析：连接器产生反射尖峰，台阶多为非反射损耗。29.关于光纤色散，下列说法正确的是A.1550nm处G.652色散约为17ps/nm·kmB.色散补偿模块可引入额外衰耗C.色散随温度升高而减小D.色散斜率单位ps/nm²·km答案：A、B、D解析：温度升高色散略有增加，非减小。30.使用便携式OTDR进行野外验收时，必须携带A.发射光纤B.光纤清洁笔C.光功率计与光源D.备用电池答案：A、B、C、D解析：四项均为现场验收必备，确保测试准确与连续。三、判断题（正确打“√”，错误打“×”）31.OTDR测试时，脉宽越大，死区越小。答案：×解析：脉宽越大，死区越大。32.光纤折射率随温度升高而减小，故夏季测得长度偏长。答案：√解析：n下降，OTDR计算长度增加。33.APC连接器在1310nm处回波损耗一定优于UPC。答案：√解析：APC斜角端面反射光偏离纤芯，回波损耗提升10dB以上。34.宏弯损耗与波长平方近似成反比。答案：×解析：宏弯损耗与波长四次方近似成反比。35.PMD值随光纤长度线性增加。答案：×解析：PMD与√L成正比，非线性。36.使用OTDR进行Live测试时，关闭对端设备可避免串扰。答案：√解析：对端发射光会干扰OTDR接收，关闭可提升信噪比。37.G.657.B3光纤最小弯曲半径可达5mm而附加损耗≤0.1dB。答案：√解析：G.657.B3标准规定5mm半径1550nm附加损耗≤0.1dB。38.氢损主要影响1310nm窗口，对1550nm影响极小。答案：×解析：氢损在1380nm形成吸收峰，对1310nm与1550nm均有影响，后者略小。39.OTDR曲线中反射峰高度与事件损耗成正比。答案：×解析：反射峰高度与反射系数相关，非损耗。40.发射光纤长度必须大于OTDR死区即可，无需额外余量。答案：×解析：需考虑熔接、连接器等多种因素，通常余量≥100m。四、填空题（答案精确，单位需写出）41.某单模光纤在1550nm窗口的衰耗系数为0.20dB/km，则25km链路理论衰耗为______dB。答案：5.0dB解析：0.20×25=5.0。42.OTDR测得事件点距离为12.345km，若折射率由1.4680误设为1.4670，则真实距离为______km。答案：12.263解析：L真=L测×n设/n真=12.345×1.467/1.468≈12.263。43.G.652.D光纤在1550nm色散为17ps/nm·km，若传输10Gbit/sNRZ信号，色散代价1dB对应的色散容限为______ps/nm。答案：800解析：10GNRZ色散容限约800ps/nm。44.某链路ORL为32dB，若需提升至52dB，需将反射功率降低______dB。答案：20解析：52(32)=20dB。45.使用OTDR进行PON测试，分光比1:128，若OLT输出+3dBm，ONT接收灵敏度27dBm，则链路允许最大衰耗为______dB。答案：30解析：3(27)=30dB，含分光器损耗。46.某OTDR动态范围为40dB，若需测试0.3dB/km的链路，忽略连接器损耗，可测最大长度为______km。答案：133解析：40/0.3≈133。47.对光纤进行PMD测试，若测得<DGD>=1.2ps，σ=0.3ps，则PMDQ=______ps。答案：1.25解析：PMDQ=√(<DGD>²+σ²)=√(1.44+0.09)≈1.25。48.某连接器在1310nm测得IL=0.12dB，若重复插拔1000次后IL增至0.20dB，则插拔耐久性损耗增加______dB。答案：0.08解析：0.200.12=0.08。49.某海缆氢损测试1380nm窗口附加损耗0.6dB/km，则1550nm窗口附加损耗约为______dB/km。答案：0.06解析：氢损峰值1380nm，1550nm约为其1/10。50.使用1625nmOTDR进行Live测试，为确保业务不受影响，测试时间应控制在______秒以内（典型值）。答案：30解析：运营商验收规范通常要求单次OTDRLive测试≤30s，避免长时间高功率注入。五、简答题（需给出关键步骤与计算）51.某链路长38km，采用G.652.D光纤，1550nm窗口衰耗0.21dB/km，熔接点18处，平均损耗0.04dB/点，连接器4对，平均损耗0.12dB/对。计算全程链路衰耗，并判断是否在10Gbit/sNRZ系统预算内（预算28dB）。答案：光纤衰耗：38×0.21=7.98dB熔接：18×0.04=0.72dB连接器：4×0.12=0.48dB全程：7.98+0.72+0.48=9.18dB9.18dB<28dB，满足预算。解析：计算各项损耗之和，与系统预算比较即可。52.简述使用OTDR进行PON网络故障定位的三步法，并说明每步关键参数。答案：第一步：带外波长1625nm，关闭ONU，脉宽1μs，动态范围>35dB，快速扫描全程，定位分光器前故障；第二步：降低脉宽至100ns，提高分辨率，逐段测试分光器后分支，记录事件表；第三步：对可疑分支更换小脉宽30ns，加发射光纤，精确定位分支末端断点，结合光功率计验证。解析：三步法兼顾动态范围与分辨率，避免ONU干扰，实现分支精准定位。53.说明如何利用OTDR曲线识别“微弯”与“宏弯”损耗事件，并给出1550nm与1310nm下的差异。答案：微弯：曲线呈台阶状，无反射，1550nm损耗显著大于1310nm，比值>2；宏弯：同台阶状，但弯曲半径较大，1550nm损耗高于1310nm，比值约1.5~3；识别：比较两波长同一位置损耗差值，若差值>0.1dB/km且呈线性累积，可判为弯曲类故障。解析：弯曲损耗波长敏感性差异是识别关键。54.某海缆登陆段需验证ORL，测得整体ORL=28dB，要求≥40dB。提出三种可行改进方案并量化效果。答案：方案一：所有UPC连接器更换为APC，回波损耗提升12dB，ORL由28dB降至40dB；方案二：增加两级共4dB在线衰减器，反射回波降低8dB，ORL降至36dB，再更换一对APC即可达标；方案三：采用折射率匹配膏，连接器反射降低6dB，ORL降至34dB，再优化两段跳线弯曲，额外降低4dB，总计38dB，接近达标。解析：通过降低反射点数量或反射系数，可系统性提升ORL。55.解释为什么OTDR双向平均能消除“增益”事