GB/T 44937.8-2025集成电路电磁发射测量第8部分：辐射发射测量IC带状线法

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

集成电路电磁发射测量

第8部分辐射发射测量IC带状线法

:

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticemissions—

Part8Measurementofradiatedemissions—ICstrilinemethod

:p

IEC61967-82023IDT

(:,)

2025-12-31发布2026-07-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

概述

4………………………2

试验条件

5…………………2

通则

5.1…………………2

电源电压

5.2……………2

频率范围

5.3……………2

试验设备

6…………………2

通则

6.1…………………2

射频测量仪器

6.2………………………3

前置放大器

6.3…………………………3

带状线

6.4IC……………3

终端

6.550Ω……………3

试验布置

7…………………3

通则

7.1…………………3

试验配置

7.2……………3

试验板

7.3EMC(PCB)…………………4

试验程序

8…………………4

通则

8.1…………………4

环境条件

8.2……………4

运行检查

8.3……………4

带状线射频特性的验证

8.4IC…………4

试验技术

8.5……………5

试验报告

9…………………5

通则

9.1…………………5

测量条件

9.2……………5

发射参考电平

10IC………………………5

附录规范性带状线的描述

A()IC………………………6

通则

A.1…………………6

带状线结构的特性阻抗

A.2……………7

Ⅰ

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

不同有效导体高度的转换

A.3…………7

带状线的结构示例

A.4IC………………8

附录资料性发射电平规范

B()…………9

范围

B.1…………………9

概述

B.2…………………9

发射电平规范

B.3………………………9

结果表述方式

B.4………………………9

参考文献

……………………11

Ⅱ

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是集成电路电磁发射测量的第部分已经发布了以下

GB/T44937《》8。GB/T44937

部分

:

第部分通用条件和定义

———1:;

第部分辐射发射测量小室和宽带小室法

———2:TEMTEM;

第部分辐射发射测量表面扫描法

———3:;

第部分传导发射测量直接耦合法

———4:1Ω/150Ω;

第部分传导发射测量工作台法拉第笼法

———5:;

第部分传导发射测量磁场探头法

———6:;

第部分辐射发射测量带状线法

———8:IC。

本文件等同采用集成电路电磁发射测量第部分辐射发射测量带

IEC61967-8:2023《8:IC

状线法

》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本文件由全国集成电路标准化技术委员会归口

(SAC/TC599)。

本文件起草单位中国电子技术标准化研究院天津先进技术研究院北京智芯微电子科技有限公

:、、

司海研芯青岛微电子有限公司厦门海诺达科学仪器有限公司广州市诚臻电子科技有限公司工业

、()、、、

和信息化部电子第五研究所中国汽车工程研究院股份有限公司浙江诺益科技有限公司深圳市中兴

、、、

微电子技术有限公司中山大学北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司上海机动车检测认证技

、、、

术研究中心有限公司北京无线电计量测试研究所天津大学中国信息通信研究院长沙芯连心智慧系

、、、、

统有限责任公司河南省电子信息产品质量检验技术研究院广州广电计量检测上海有限公司思科

、、()、

系统中国研发有限公司福州物联网开放实验室有限公司北京中电华大电子设计有限责任公司

()、、、

中家院北京检测认证有限公司中国合格评定国家认可中心亚锐檀桐检测技术上海有限公司

()、、()、

国网电力科学研究院有限公司

。

本文件主要起草人付君崔强靳冬吴建飞乔磊王新才方文啸朱赛徐蛟叶畅梁吉明

:、、、、、、、、、、、

李楠褚瑞黄雪梅郑益民陈梅双龙发明吴倩王晓迪刘星汛臧琦王紫任李彦鹏冯星辉江峰

、、、、、、、、、、、、、、

楼建全赖秋辉连恒兴焦璨刘佳邓勇鞠文静

、、、、、、。

Ⅲ

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

引言

为规范集成电路电磁发射测量以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方

,

法集成电路电磁发射测量规定了集成电路电磁发射测量的通用条件定义和不同测

,GB/T44937《》、

量方法的试验程序和试验要求拟由个部分构成

,9。

第部分通用条件和定义目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义

———1:。。

第部分通用条件和定义近场扫描数据交换格式目的在于规定近场扫描数据交换

———1-1:。

格式

。

第部分辐射发射测量小室和宽带小室法目的在于规定小室和宽带

———2:TEMTEM。TEM

小室法的试验程序和试验要求

TEM。

第部分辐射发射测量表面扫描法目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求

———3:。。

第部分传导发射测量直接耦合法目的在于规定直接耦合法的

———4:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

试验程序和试验要求

。

第部分传导发射测量直接耦合法应用指南目的在于给出直

———4-1:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

接耦合法应用指导

。

第部分传导发射测量工作台法拉第笼法目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序

———5:。

和试验要求

。

第部分传导发射测量磁场探头法目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求

———6:。。

第部分辐射发射测量带状线法目的在于规定带状线法的试验程序和试验要求

———8:IC。IC。

Ⅳ

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

集成电路电磁发射测量

第8部分辐射发射测量IC带状线法

:

1范围

本文件描述了使用带状线测量集成电路电磁辐射发射的方法被评估安装在带状线结

(IC)。ICIC

构的有效导体和地平面之间的试验板上

EMC(PCB)。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

国际电工术语第部分电路理论

IEC60050-131131:[InternationalElectrotechnical

Vocabulary(IEV)—Part131:Circuittheory]

注电工术语电路理论

:GB/T2900.74—2008(IEC60050-131:2002,MOD)

国际电工术语第部分电磁兼容

IEC60050-161161:[InternationalElectrotechnical

Vocabulary(IEV)—Part161:Electromagneticcompatibility]

注电工术语电磁兼容

:GB/T4365—2024(IEC60050-161:2021,MOD)

集成电路电磁发射测量第部分通用条件和定义

IEC61967-11:(Integratedcircuits—Meas-

urementofelectromagneticemissions—Part1:Generalconditionsanddefinitions)

注集成电路电磁发射测量第部分通用条件和定义