（磁粉）标准对比

磁粉检测——问答为什么旋转磁场磁粉探伤仪不能用于剩磁法？用剩磁法检测的首要条件是能够获得足够的剩磁。因此，当采用交流设备磁化工件时必须配有断电相位控制器。因为交流电产生的磁场强度在不断地变化，如果不采用断电相位控制，让它能在达到最大剩磁的时限内停止磁化，就不能确保获得最大的剩磁。而旋转磁场磁粉探伤仪是由两相正弦交变磁场形成的旋转磁场，不仅其磁场的大小在不停地变化，而且其方向也在360°范围内在不断的改变。所以，无论在什么时候断电，磁场的大小和方向都是未知的，更无法保证获得稳定的最大剩磁。因此，旋转磁场磁粉探伤仪只能用于连续法，而不能用于剩磁法。磁粉检测——标准对比范围JB/T4730的本部分规定了承压设备磁粉检测方法及质量分级要求。本部分适用于铁磁性材料制承压设备的原材料、零部件和焊接接头表面、近表面缺陷的检测。与承压设备有关的支承件和结构件，如有要求也可参照本标准进行磁粉检测。JB/4730标准只适用于压力容器无损检测，JB/4730-2005标准将适用范围扩大到锅炉压力容、压力管道等承压设备的检测，与承压设备有关的支承件和结构件磁粉检测也可参照执行。磁粉检测程序1、预处理；2、磁化；3、施加磁粉或磁悬液4、磁痕的观察与记录；5、缺陷评级；6、退磁；7、后处理。JB4730-1994无对应条款。磁粉检测设备1、JB/4730-1994对工件退磁后剩磁值要求太高，既没有必要，也难于达到，故参考美国标准由原剩磁160A/m变更为240A/m。2、JB/4730-1994无交叉磁轭方面的相应规定，由于交磁轭一次可以检测一个区域内各个方向缺陷，因此在锅炉、压力容器行业得到了广泛使用，磁粉标准修改组在我国现有交叉磁轭设备进行提升力和灵敏度试验基础上，提出了交叉电磁轭的提升力要求。磁粉、载体及磁悬液1、对表面不规则工件（如螺纹根部）进行荧光检测时，为防止产生过度背景，宜选择较低浓度的磁悬液，因此JB/T4730-2005将荧光磁粉配制浓度下限值降低至0.5g/L。2、JB4730-1994规定的油基载体的粘度为动力粘度，而磁粉检测主要考虑粘度对磁悬液流动性的影响，采用运动粘度更为合适，国家标准GB/T15822和国外绝大多数标准也采用运动粘度方式表示，因此JB/T4730-2005标准修改为运动粘度值。标准试件1、JB4730-1994标准中只推荐使用A型和C型试片，无D型和M1型试片。2、JB/T6065规定了D型试片内容，D型试片适应于探伤而窄小或工作表面曲率半径较小的场合。3、M1型试片由铁道科学研究院金化所生产，它是由三个不同深度而间隔相等的人工刻槽以同心圆形式做在同一试片上，一片多用，观察磁痕显示差异直观。磁化电流类型及其选用JB4730-1994对磁化规范电流值类型未作详细规定，新标准对比进行补充完善。磁化方向JB4730-1994无复合磁化内容，鉴于复合磁化在承压设备检测上已广泛应用，标准增加了复合磁化的内容，以适应我国承压设备磁粉检测现状。磁化规范JB4730-1994无相应内容。轴向通电法和中心导体法的磁化规范1、JB4730-1994中I=（12~20）D，不适合有特殊要求的工件检验，因此选择的磁化电流扩大了。在交流电连续中I=（6~10）D同样不适合于有特殊要求的工件检验本标准轴向通电法中，因此JB/T4730-2005标准将磁化电流上限扩大，交流电连续法I=（8~15）D；直流电（整流电）连续法：I=（12~32）D，与ASMESE-709一致。2、JB4730-1994中表11-4中心导体法磁化电流值计算方法太繁杂，本标准将其删去。偏置芯棒法1、JB4730-1994规定芯棒偏心放置时，芯棒与工件内表面的间距为10mm~152、JB/T4730-2005表3“通电法和中心导体法磁化规范”同样适应于偏置芯棒法，不同的是通电法和中心导体法磁化电流计算公式中D为工件横截面上最大尺寸，而偏置芯棒法时D为芯棒直径为2倍工件壁厚。触头法JB4730-1994以工件厚度T=20mm作为参照基准选择磁化电流，JB/T4730-2005标准改为19磁轭法JB4730-1994磁轭的磁极间距应控制在50mm~200mm由于磁极附近会产生漏磁场吸引磁粉形成非相关显示，为排除此漏磁场干扰，JB/T4730-2005标准将最小磁极间距扩大到75，与ASME规范一致。线圈法1、JB4730-1994标准中低充填正中放置时，I=1720R/N[6（L/D）-5]，而美国SE-709标准中低填充正中放置时NI=1690R/[（6L/D）-5]，（±10%）。JB/T4730-2005标准根据SE-709规定对此进行改动。2、JB4730-1994无中充填因素线圈磁化内容和有效直径Deff磁化公式，JB/T4730-2005标准增加了这方法的内容，扩大了线圈法的应用范围。质量控制JB4730-1994无此内容。安全防护JB4730-1994无对应条款。被检工件表面的准备1、JB4730-1994中除工件表面粗糙度Ra不大于12.5μm时，由于焊接件等工件检测难以达到此粗糙度规定，因此JB/T4730-2005标准对此不作硬性规定，只强调表面的不规则状态不得影响检测结果的正确性和完整性，并将打磨后被检工件的表面粗糙度放宽到Ra≤25μm，使之更符合检测实际。2、JB4730-1994无反差增强剂内容，在承压设备磁粉检测中也有使用反差增强剂情况，效果不错，新标准对此进行补充。检测方法JB4730-1994有平行电缆法内容，由于平行电缆法检测时磁力线的一部分在空气中，被检工件中的磁场被大大减弱、扭曲并且分布不均匀，因而检测不可靠。故新标准将JB4730-1994中的平行电缆法删去，并增加了交叉磁轭法内容。干法干法通常用于交流和半波整流的磁化电流或磁轭进行连续法检测的情况，采用干法时，应确认检测面和磁粉已完全干燥，然后再施加磁粉。湿法主要用于连续法和剩磁法检测。交叉磁轭法我国大多数交叉磁轭产生的是椭圆形的旋转磁场多，如果交叉磁轭固定位置，分段对工件进行探伤，就会使被探工件表面各点处于不同幅值的椭圆形旋转磁场作用下，结果造成各点探伤灵敏度的不一致，对某些方向裂纹的探伤灵敏度降低，因此JB/T4730规定检测时交叉磁轭要对工件作相对运动。磁痕显示的分类和记录JB4730-1994无相关显示、非相关显示和伪显示内容，其他内容与新标准相同。缺陷磁痕的观察1、JB4730-1994规定非荧光磁粉检测时，工件被检面处可见光照度应不小于5001x，新标准将此要求提高到10001x，并考虑到现场采用便携式设备检测的环境条件，可见光照度可以适当降低，但不得低于5001x。2、在荧光磁检测时，JB4730-1994未对检测人员作任何限制；由于光敏（光致变色）眼镜在存在紫外线辐射时会变暗，变暗程度与辐射的入射量成正比，影响对荧光磁粉磁痕的观察和辩订，因此新标准规定了“检测人员不准戴对检测有影响的眼镜”这一条款。复验由于返修后须进行检测复验已在相关标准中规定，新标准JB4730-1994中“经返修后的部