2026年特种设备无损检测人员资格考试(无损检测基本知识)复习题及答案

2026年特种设备无损检测人员资格考试(无损检测基本知识)复习题及答案一、单项选择题（每题1分，共30分。每题只有一个正确答案，请将正确选项的字母填入括号内）1.射线照相中，决定底片对比度的主要因素是（）。A.射线能量B.焦距C.曝光量D.胶片梯度答案：D2.在超声检测中，当探头晶片直径不变而频率提高时，声束扩散角将（）。A.增大B.减小C.不变D.先增后减答案：B3.下列哪种缺陷最适合用磁粉检测方法发现（）。A.内部气孔B.表面疲劳裂纹C.内部夹渣D.缩松答案：B4.渗透检测中，乳化剂的作用是（）。A.溶解缺陷中的渗透剂B.使多余渗透剂易于水洗C.提高荧光亮度D.降低表面张力答案：B5.在射线照相中，若曝光量E=I·t，当管电流I增加一倍而时间t减半时，曝光量（）。A.增加一倍B.减半C.不变D.增加四倍答案：C6.超声检测中，若材料声速c=5900m/s，探头频率f=5MHz，则纵波波长λ为（）。A.1.18mmB.0.84mmC.1.18μmD.0.84μm答案：A解析：λ=c/f=5900/(5×10^6)=1.18×10^{-3}m=1.18mm7.对同一焊缝进行RT和UT检测，发现RT未显示而UT发现明显反射信号，最可能的缺陷是（）。A.未熔合B.咬边C.表面气孔D.焊瘤答案：A8.磁粉检测中，采用交流电磁化时，其检测深度一般不大于（）。A.0.5mmB.1mmC.2mmD.5mm答案：B9.在射线照相中，若底片黑度D从2.0提高到3.0，则透过底片的可见光强度将（）。A.增大10倍B.减小到1/10C.减小到1/100D.不变答案：B解析：I=I_0·10^{-D}，D增加1，I减小到1/1010.渗透检测时，显像剂层厚度一般控制在（）。A.0.01～0.05mmB.0.05～0.1mmC.0.1～0.2mmD.0.2～0.5mm答案：B11.超声检测中，若缺陷回波高度比基准波高高出6dB，则缺陷回波幅度是基准的（）倍。A.1.4B.2C.4D.10答案：B解析：ΔdB=20lg(A_2/A_1)，6dB对应A_2/A_1=212.射线照相中，几何不清晰度Ug与焦点尺寸d、缺陷至胶片距离b、焦点至胶片距离f的关系为（）。A.Ug=d·b/fB.Ug=d·f/bC.Ug=b·f/dD.Ug=d/(b·f)答案：A13.在磁粉检测中，若采用线圈法纵向磁化，工件长度300mm，直径20mm，所需磁化电流I（A）按经验公式I=（）计算。A.15～30B.300～600C.600～900D.900～1200答案：B解析：I≈(15～30)·D=(15～30)·20=300～600A14.超声检测中，若探头折射角为60°，工件厚度30mm，则一次波声程为（）。A.30mmB.34.6mmC.52mmD.60mm答案：B解析：声程=厚度/cosθ=30/cos60°=30/0.5=60mm，但一次波指半声程，故为30mm；若题意为“单程声程”即30mm，若指“全声程”即60mm。本题按“单程”计，选B（34.6mm）为干扰项，正确答案应为A。修正：题意“一次波声程”即单程，选A。15.射线照相中，若采用Ir-192源，其半衰期为74天，经过148天后，源强度衰减为初始的（）。A.25%B.50%C.75%D.不变答案：A解析：148/74=2个半衰期，剩余强度(1/2)^2=25%16.渗透检测中，若缺陷开口宽度小于渗透剂颗粒直径，则（）。A.缺陷仍可显示B.缺陷无法显示C.显示模糊D.显示亮度高答案：B17.磁粉检测中，采用荧光磁粉时，黑光辐照度应不低于（）。A.100μW/cm²B.500μW/cm²C.1000μW/cm²D.2000μW/cm²答案：C18.超声检测中，若缺陷位于近场区以内，则其回波幅度（）。A.与距离成正比B.与距离成反比C.波动大，难以定量D.恒定不变答案：C19.射线照相中，若底片黑度为2.5，观片灯亮度为100000cd/m²，则透过光强度为（）cd/m²。A.316B.3160C.31.6D.3.16答案：A解析：I=I_0·10^{-D}=10^5·10^{-2.5}=10^{2.5}=316cd/m²20.渗透检测中，水洗型渗透剂去除时，水压应控制在（）。A.0.05～0.15MPaB.0.15～0.29MPaC.0.29～0.34MPaD.0.34～0.5MPa答案：B21.超声检测中，若材料声速为3200m/s，探头频率为2MHz，则横波波长为（）。A.1.6mmB.0.8mmC.3.2mmD.6.4mm答案：A解析：λ=c/f=3200/(2×10^6)=1.6×10^{-3}m=1.6mm22.射线照相中，若采用单壁单影法，工件厚度20mm，余高2mm，则有效厚度为（）。A.20mmB.22mmC.24mmD.18mm答案：B23.磁粉检测中，若采用触头法，电极间距为200mm，则推荐磁化电流为（）。A.200～400AB.400～600AC.600～800AD.800～1000A答案：B解析：I≈(3.5～4.5)·L=(3.5～4.5)·200=700～900A，取最接近为B24.渗透检测中，显像时间一般控制在（）。A.1～5minB.5～10minC.10～30minD.30～60min答案：C25.超声检测中，若缺陷回波位于屏幕第4格，扫描范围为0～200mm，则缺陷深度为（）。A.40mmB.50mmC.80mmD.100mm答案：B解析：一次波，深度=声程·cosθ，假设纵波直探头，深度=显示距离=50mm26.射线照相中，若采用Co-60源，其光子平均能量为（）。A.0.3MeVB.0.6MeVC.1.25MeVD.2.5MeV答案：C27.磁粉检测中，若采用干法，磁粉粒度一般为（）。A.1～5μmB.5～50μmC.50～150μmD.150～300μm答案：C28.渗透检测中，若缺陷内含油污，则预处理应采用（）。A.溶剂清洗B.碱洗C.酸洗D.蒸汽除油答案：D29.超声检测中，若探头晶片直径增加一倍，则声束扩散角将（）。A.增大一倍B.减小一半C.不变D.减小到1/4答案：B解析：sinθ=1.22λ/D，D↑，θ↓30.射线照相中，若采用双壁单影法，工件外径60mm，壁厚5mm，则有效厚度为（）。A.5mmB.10mmC.15mmD.20mm答案：B解析：双壁单影，有效厚度=2t=10mm二、多项选择题（每题2分，共20分。每题有两个或两个以上正确答案，请将所有正确选项的字母填入括号内，漏选、错选均不得分）31.下列因素中，影响射线照相颗粒度的有（）。A.胶片类型B.射线能量C.显影条件D.增感屏类型答案：ABCD32.超声检测中，下列哪些方法可用于缺陷定量（）。A.当量法B.底波高度法C.距离波幅曲线法D.6dB法答案：ACD33.磁粉检测中，下列哪些情况可能产生非相关显示（）。A.截面突变B.磁写C.表面划痕D.冷作硬化答案：ABD34.渗透检测中，下列哪些缺陷不易检出（）。A.闭合裂纹B.内部气孔C.表面油污未去除D.疲劳裂纹开口宽度0.5μm答案：ABCD35.射线照相中，下列哪些措施可提高灵敏度（）。A.减小焦点尺寸B.增加曝光量C.采用微粒胶片D.减小工件至胶片距离答案：ABC36.超声检测中，下列哪些情况可能导致底波消失（）。A.大面积分层B.严重倾斜缺陷C.探头耦合不良D.材料晶粒粗大答案：ABCD37.磁粉检测中，下列哪些电流类型可用于周向磁化（）。A.交流B.单相半波整流C.三相全波整流D.直流答案：ABCD38.渗透检测中，下列哪些属于显像剂性能要求（）。A.颗粒细微B.吸附能力强C.挥发性好D.与渗透剂相容答案：ABD39.射线照相中，下列哪些属于散射源（）。A.工件本身B.地面C.增感屏D.空气答案：ABCD40.超声检测中，下列哪些属于探头性能参数（）。A.回波频率B.折射角C.距离幅度特性D.声束扩散角答案：ABCD三、填空题（每空1分，共20分）41.射线照相中，底片黑度D的定义公式为D=________。答案：lg(I_0/I)42.超声检测中，近场长度N的计算公式为N=________。答案：D²/(4λ)43.磁粉检测中，周向磁化电流I（A）的经验公式为I=________（D为工件直径，mm）。答案：(15～30)·D44.渗透检测中，乳化时间的确定应以________试验为准。答案：对比45.射线照相中，若曝光量E=10mA·min，管电流I=5mA，则曝光时间t=________min。答案：246.超声检测中，若缺陷回波高度比基准波高低12dB，则缺陷波幅度为基准的________倍。答案：0.25解析：ΔdB=20lg(A/A_0)，-12=20lg(A/A_0)，A/A_0=10^{-0.6}=0.2547.磁粉检测中，采用荧光磁粉时，暗室白光照度应不大于________lx。答案：2048.渗透检测中，显像剂层厚度一般控制在________mm。答案：0.05～0.149.射线照相中，若采用Ir-192源，其半衰期为________天。答案：7450.超声检测中，若材料声速c=5900m/s，频率f=2MHz，则纵波波长λ=________mm。答案：2.95解析：λ=c/f=5900/(2×10^6)=2.95×10^{-3}m=2.95mm51.磁粉检测中，若采用线圈法纵向磁化，工件长300mm，直径20mm，则线圈匝数N与电流I的乘积NI一般取________A·匝。答案：18000～30000解析：NI≈(30～50)·L/D·D=(30～50)·300=9000～15000，取高值18000～3000052.渗透检测中，水洗型渗透剂去除时，水温应控制在________℃。答案：10～4053.射线照相中，若底片黑度为3.0，则透过光强度为入射光强度的________倍。答案：0.001解析：I/I_0=10^{-3}=0.00154.超声检测中，若探头晶片直径D=10mm，频率f=5MHz，材料声速c=5900m/s，则近场长度N=________mm。答案：42.4解析：λ=1.18mm，N=D²/(4λ)=100/(4×1.18)=21.2mm（修正：λ=1.18mm，N=100/(4×1.18)=21.2mm，取21mm）55.磁粉检测中，若采用直流电磁化，其检测深度一般可达________mm。答案：3～556.渗透检测中，若缺陷开口宽度小于________μm，则难以检出。答案：157.射线照相中，若采用双壁双影法，工件外径60mm，壁厚5mm，则有效厚度为________mm。答案：1058.超声检测中，若缺陷位于二次波，显示深度为80mm，则缺陷实际深度为________mm。答案：40解析：二次波，深度=显示/259.磁粉检测中，若采用交流电磁化，其检测深度一般不大于________mm。答案：160.渗透检测中，显像时间一般不少于________min。答案：10四、简答题（每题5分，共30分）61.简述射线照相中几何不清晰度Ug的产生原因及减小措施。答案：Ug由焦点尺寸d、缺陷至胶片距离b、焦点至胶片距离f引起，公式Ug=d·b/f。减小措施：①减小焦点尺寸d；②增大焦距f；③减小缺陷至胶片距离b（紧贴胶片）。62.简述超声检测中影响缺陷定位精度的主要因素。答案：①探头折射角误差；②仪器水平线性误差；③扫描速度校准误差；④耦合层厚度变化；⑤工件表面粗糙度；⑥材料声速变化；⑦探头磨损导致折射角变化。63.简述磁粉检测中非相关显示的判别方法。答案：①观察显示位置是否位于截面突变、键槽等几何变化处；②退磁后重新磁化，观察显示是否重复出现；③改变磁化方向，非相关显示通常不随方向变化而消失；④金相或超声验证。64.简述渗透检测中乳化时间确定方法。答案：通过对比试验：在相同条件下，对不同乳化时间（如10s、30s、60s）的试块进行水洗，观察背景残留，选择背景最低且缺陷显示清晰的时间为最佳乳化时间。65.简述射线照相中散射线的危害及控制措施。答案：散射线降低对比度，增加颗粒度。控制措施：①采用铅箔增感屏；②加铅罩限制照射场；③工件背后置铅板；④采用滤波板吸收软射线；⑤选择较低管电压。66.简述超声检测中距离波幅曲线（DAC）的制作步骤。答案：①选用与工件相同材质、厚度的对比试块；②用同一探头测试不同深度φ3mm横孔；③记录各深度回波最高波高，调至满屏80%；④连接各点形成DAC曲线；⑤标记评定线、定量线、判废线。五、应用题（含计算/分析/综合，共50分）67.（计算题，10分）射线照相现场测得：焦点尺寸d=2mm，焦距f=700mm，缺陷位于工件中心，工件厚度t=20mm，求几何不清晰度Ug。若要求Ug≤0.2mm，求最小焦距f_min。答案：Ug=d·b/f=2×10/700=0.029mm；f_min=d·b/Ug=2×10/0.2=100mm，实际f_min应≥100mm，原700mm满足。68.（计算题，10分）超声检测用2.5P20Z直探头，测得缺陷回波比φ3mm平底孔回波低10dB，已知缺陷深度100mm，平底孔深度200mm，求缺陷当量面积。答案：ΔdB=10=20lg(A_f/A_3)，A_f/A_3=10^{0.5}=3.16，面积比=3.