CN119479747A 具有存储器修复机制的存储器装置及其操作方法 （美光科技公司）

202010824444.22020.08.17具有存储器修复机制的存储器装置及其操本申请案涉及一种具有存储器修复机制的用于存储用于一或多个有缺陷存储器单元的每一修复的修复分段定位符及修复地址的熔丝及据所述修复分段定位符及用于读取或写入操作确定所述有效分段地址是否匹配用于所述读取或所述写入操作的所述地址，以在用于所述读取/写入操作的所述地址对应于所述一或多个有缺陷存储器单元时用多个冗余单元替换所述一2型样来测试所述存储器装置处的存储器阵列；至少部分地基于所述内置自测试过程，将指示所述存储至少部分地基于指示所述一或多个地址包括所述一或多个失效的信息而执行修复操发出激活命令以激活所述一或多个地址用于修复，使用所述一或多个预定数据型样来检测所述一或多个失效，其作为所述修复操作的一部分，至少部分基于所述操作地址与被指包括使用一或多个预定数据型样来测试所述存储器装置处至少部分地基于所述内置自测试过程，将指示所述存储至少部分地基于指示所述一或多个地址包括所述一或多个失效的信息来执行修复操3发出激活命令以激活所述一或多个地址用于修复，使用所述一或多个预定数据型样来检测所述一或多个失效，其作为所述修复操作的一部分，至少部分基于所述操作地址与被指为存储所述信息，所述处理电路经配置以使得为读取所述信息，所述处理电路经配置以使得4置以修复位失效的电路。图1是包含一组可修复存储器单元的存储器装置100的部分框图。[0006]在替换有缺陷单元104中，存储器装置100可实施行修复及/或列修复。对于行修图解说明，存储器装置100可用冗余行RR0替换其中含有有缺陷单元104的行R0。对于列修置100包含位于裸片上的熔丝阵列中的熔丝或非易失性存储器(未展示)。存储在熔丝阵列中的信息在初始化时广播并加载到每一库中的5单元及经配置以替换所述多个存储器单元中的一或多个有缺陷存储器单元的多个冗余单用所述多个冗余单元替换所述一或多个有缺陷储器单元及经配置以替换所述多个存储器单元中的一或多个有缺陷存储器单元的多个冗所述一或多个有缺陷存储器单元，其中当用于所述读取/写入操作的地址对应于所述一或6备包含位于局部熔丝锁存器与地址解码器之间且经配置以根据缺陷分配熔丝并修复存储过添加寻址修复区域或分段的熔丝及熔丝锁存器同时减少熔丝组的数目以匹配最差情形[0029]图2是根据本发明技术的实施例的实例存储器装置200(例如包含三维集成(3DI)[0030]存储器装置200可包含例如存储器阵列250的储器单元阵列。存储器阵列250可包位线的交叉点处的多个存储器单元。存储器单线BL的选择可由列解码器245执行。可为对应位线BL提供感测放大器(SAMP)且可将其连接[0031]存储器装置200可采用多个外部端子，其包含分别耦合到命令总线及地址总线以由命令/地址输入电路205将供应到地址端子的地址信号及库地址信号转移到地址解码器将库地址信号供应到行解码器240及列解码[0033]命令及地址端子可从存储器控制器及/或邪恶芯片组(nefariouschipset)供以7用于选择存储器装置200以响应于提供到命令及地址端子的命令及地址。当将有效芯片选含用以解码内部命令信号ICMD以产生用于执行存储器操作的各种内部信号及命令(举例来置200执行的自刷新操作的计数)的一或命令解码器可将内部命令提供到输入/输出电路260，使得可根据RDQS时钟信号经由读取/据可由输入/输出电路260中的数据接收器接收且经由输入/输出电路260及读取/写入放大器255供应到存储器阵列250。写入数据可被写入由行地址及列地址指定的存储器单元中。输入/输出电路260产生的电力供应噪声不传播到信号也可为互补的。互补时钟信号可具有相对时钟电平且同时在相对时钟电平之间转换。8路220可接收外部时钟信号以产生内部时钟信号ICLK。可将内部时钟信号ICLK供应到内部部时钟电路230可包含接收内部时钟信号ICLK且将各种时钟信号提供到命令解码器215的信号可被供应到输入/输出电路260且可用作时序信号以确定读取数据的输出时序及/或写到时序产生器235且因此可产生各种内部时[0040]存储器装置200可连接到能够将存储器用于信息的暂时或永久存储的若干个电子245的一或多个地址解码器的修复电路211。修复电路211可经配置以修复存储单元中的缺步包含经配置以根据位置信息应用冗余存储器单元及/或存储在熔丝内的地址的分段地址[0043]局部熔丝锁存器区302可包含经配置以存储/锁存与修复相关联的位置信息(例9选择与对于当前读取/写入操作有效的分段312相关联的修复地址322中的一者(对应冗余段312中的每一者的冗余存储器314的直接连接[0045]将列修复用作说明性实例，修复地址322可表示包含一或多个有缺陷单元的存储306可接收选择电路304的输出(例如，修复完的主阵列列选择)及读取/写入列地址(RD/WR用于读取或写入的有缺陷列而不是有缺陷列本身的冗余列。[0046]为了促进修复，局部熔丝锁存器区302可包含对应于第一测量332及第二测量334对应于存储器的1Gb或更多。阵列区域中的存储器单元可进一步组态为各自包含四个冗余3B及图3C是根据本发明技术的实施例的存储器装置200的一部分(例如，选择电路304及比段选择电路(CRSegSelect)的输出)控制，所述列分段识别符识别与读取/写入地址相关联较有效分段地址386与读取/写入列地址388(CA<6:0>)以产生用于冗余列RCS0的匹配旗标389。如上文所描述，列解码器可代替由读取/写入列地址388指示的经替换列存取冗余列[0049]而且，图3C图解说明包含用于使用冗余列RCS0控制指派或修复的多路复用器392复用器392可由列分段识别符384(ColSeg<9:0>)控制以产生有效分段地址386。换句话说，多路复用器392可通过根据列分段识别符384选择修复地址322中的一者来产生有效分段地[0051]局部熔丝锁存器区402可包含经配置以存储/锁存与修复相关联的位置信息(例较器电路406的输出可由位置解码器用于存取区域平面410内的目标位置(例如，存储器阵实施全局修复并将来自修复平面415的存储器输入/输出(MIO)与数据路径中的修复完的主器区402可进一步包含各自对应于修复地址422中的一者的修复分段定位符424。修复分段址确定电路404可根据对当前读取/写入操作有效的分段412确定修复地址422。换句话说，修复分段定位符424表示指示用于每一熔丝及熔丝锁存器组的分段412[0053]使用列修复作为说明性实例，修复地址422可表示包含一或多个有缺陷单元的存使用修复地址422及修复分段定位符424来确定读取或写入何时针对对应有缺陷存储器列。在一些实施例中，分段地址确定电路404可基于与读取或写入命令相关联的有效行地址路406可接收分段地址确定电路404的输出(例如，与对应于读取器写入命令的列分段相关联的冗余列选择(RCS)地址)及读取/写入列地址(RD/WRCA)以进行比较。当RD/WRCA(例路406可产生旗标。解码器可使用比较器的输出来存取经指派以替换用于读取或写入的有缺陷列而不是有缺陷列本身的冗余列。[0054]为了促进修复，局部熔丝锁存器区402可包含对应于第一测量426及第二测量428可针对不同列平面，因此可减少修复的总数目以匹配真实失效率而非所有可能的失效情[0056]第二测量428的增加(例如，与图3A中所图解说明的实例比较)可对应于列分段的图4E是根据本发明技术的实施例的存储器装置200的一部分(例如，分段地址确定电路404[0058]如上文所论述，局部(列)熔丝锁存器区402可包含经减少数目的修复地址422(Def0_2RCS0<7:0>)，所述修复地址各自具有对应修复分段定位符424(Def0_2RCS0<11:8相关联的列分段的列分段识别符434(ColSegEnc<3:0>)(例如，列行分段选择电路RCS0)的有效分段地址436(ActiveSegRCS0<7:0>)。举例来说，当经配对修复分段定位符为与读取/写入命令所针对的列区段相关联的修复地址422。比较器电路406可接收并比较有效分段地址436与读取/写入列地址438(CA<6:0>)以产生用于冗余列的匹配旗标439。如[0059]图4C图解说明包含用于使用冗余列(例如，RCS0)控制指派或修复的多路复用器含经减少数目的修复地址422(Def0_2RCS0<7:0>)，其各自具有对应修复分段定位符424[0060]控制电路450可包含用于使用冗余列(例如，RCS0)控制指派或修复的分段匹配电的一个修复分段定位符424及列分段识别符434(ColSegEnc<3:0>)以进行比较。基于比较，分段匹配电路452可产生指示修复分段定位符424中的一或多者是否对应于列分段识别符复分段定位符424是否匹配列分段识别符434的唯一选[0061]控制电路450可进一步包含接收修复地址422连同选择信号454的多路复用器45456可产生有效分段地址436，所述有效分段地址是匹配由选择信号454指示的修复分段定信号454指示的修复分段定位符424的修复[0063]图4D图解说明包含用于使用冗余列(例如，RCS0)控制指派或修复的缓冲器472的类似于上文所描述的图4C的控制电路450。举例来说，控制电路470可包含分段匹配电路址436的缓冲器472。缓冲器472中的每一者可接收修复地址422中的一者并由选择信号454者对应于当前读取/写入地址并因此产生选择信号454。缓冲器472可传输匹配由选择信号454指示的修复分段定位符424的修复地址[0065]在一些实施例中，控制电路470可包含经配置以处置不匹配情形的修复停用电路用电路474可包含接收默认停用修复地址476的缓冲器，所述缓冲器耦合到接收选择信号454的NOR门或由其控制。修复停用电路474可预充电或在ActiveSeg启用熔丝/位开关(经[0066]图4E图解说明包含用于使用冗余列(例如，RCS0)控制指派或修复的缓冲器472的类似于上文所描述的图4C的控制电路450及/或图4D的控制电路470。举例来说，控制电路490可包含基于比较修复分段定位符424与列分段识别符434来产生选择信号454的分段匹于冗余列的匹配旗标439。控制电路490可进一步包含经配置以根据选择信号454产生有效[0067]在一些实施例中，控制电路490可包含根据选择信号454产生不匹配信号494的修匹配信号494)而不是提供图4D的默认停用修复地址476作为有效分段地址436。举例来说，于有效分段地址436而基于不匹配信号494的有效[0068]分段地址确定电路404及/或修复停用电路474/494提供用于图2的存储器装置200图4A)所论述的实例，分段地址确定电路404及/或修复停用电路474/494可将多路复用器、路由及逻辑的数目及/或大小从10的倍数(例如，对于图3A的10个熔丝锁存器组实例)减少用于图4A中图解说明的分段地址确定电路404、比较器电路406及/或其部分)的详细框图。502可在激活命令之后比较每一修复的经熔断分2的存储器装置200及/或控制电路502可经配置以使用未经使用解码中的一或多者来指示[0071]如下文详细论述，控制电路502可包含用以在经熔断分段地址被烧断到对应于有502可包含当经熔断分段地址匹配经激活分段地址时及/或当经熔断分段地址烧断到经保留用于满列修复的解码时进行肯定匹配的逻辑。控制电路502可允许经保留解码在任何分段上匹配且移除将一个修复直接系接到单个行空间的限制。控制电路502可包含分段匹配段选择电路(CRSegSelect)的输出)及对应于有缺陷存储器位置及/或经保留解码的一个修复较高等级缺陷的有缺陷满列选择。分段匹配电路504中的每一者可产生指示经接收修复分段定位符508是否匹配列分段识别符434的唯一选择信[0072]控制电路502可包含用于使用冗余列(例如，RCS0)控制指派或修复的缓冲器50路504可识别修复分段定位符508中的哪一者对应于当前读取/写入地址并因此产生选择信号506。缓冲器503可传输匹配由选择信号506指示的修复分段定位符508的修复地址510中分段地址436(ActiveSegRCS0<7:0>)并将其与读取/写入列地址438(CA<6:0>)比较的比较512可类似于图4D的修复停用电路474及/或图4E的匹配信号494)而不是提供图4D的默认停用修复地址476作为有效分段地址436。举例来说，于有效分段地址436而基于不匹配信号494的有效[0074]分段匹配电路504及/或修复停用电路512提供用于存储器装置2002的经减少资的实例，分段匹配电路504及/或修复停用电路512可减少多路复用器、路由及逻辑的数目(例如，一个)修复熔丝组及/或更少满RCS来实施针对满列/全局列缺陷的修复[0076]分段匹配电路504可包含经配置以确定图5A的列分段识别符434是否匹配图5A的配置以在列分段识别符434(ActSEG<0>_ActSEG<3>)与修复分段定位符508(经熔断SEG<0定列分段识别符434是否匹配修复分段定[0077]分段匹配电路504可进一步包含经配置以确定修复分段定位符508是否匹配经保分554可包含对应于经保留解码值的一或多个反相器，及经配置以检测修复分段定位符508何时匹配经保留解码值的逻辑AND。对于图5B中图解说明的实例，经保留解码值可对应于复分段定位符508是否匹配经保留用于激活每一分段的解码。SegMatch输出可对应于图5A说明使用图4A的冗余存储器414及/或图4A的修复平面415的针对图4A的区域平面410的修复的实例。图6图解说明可对应于图2的局部熔丝锁存器区402或其中的部分的修复熔丝锁全局列修复方案可包含平行于其它主阵列列平面的作[0081]图7是图解说明根据本发明技术的实施例操作设备(例如，图2的存储器装置200)4A的分段地址确定电路404及/或图4A的比较器电路406以根据图4A的修复地址422及图4A的修复分段定位符424及/或图5A的修复分段定位符508及图5B的修复地址510用冗余存储器单元替换一或多个有缺陷存储器单元。方法700可将用于修复地址422/510的熔丝及/或址并接着读取同一地址以确认同一数据型样。当读取型样不匹配预定经写入数据型样时，存储器装置200可将对应于差异的存储器单元识器装置200可确定与包含有缺陷存储器单元的经识别分段412及/或区域平面410相关联的装置200可确定识别图4A的修复平面415缺陷位置中，存储器装置200可存储用于每一有缺陷存储器单元或其每一分组的修复地址在与第一组熔丝配对且与区域平面410相关联的第二组[0086]可例如通过代替有缺陷存储器单元而存取/利用冗余存储器单元来将有缺陷存储位期间将经存储修复地址422/510及经存储修复分段定位符424/508加载到对应锁存器(例510)。存储器装置200可基于将信息从第一及第二经经配对熔丝组加载到对应熔丝锁存器路来比较修复分段定位符424/508与列分段[0092]当修复分段定位符424/508不匹配列分段识别符434时，例如在框766处所图解说停用电路474、图4E的修复停用电路492及/或图5A的修复停用电路512来确定不匹配情景。确定电路404(例如，修复停用电路474)可产生包含图4D的默认停用修复地址476的图4D的有效分段地址436。在一些实施例中，修复停用电路492/512可产生图4E/5A的不匹