心血管器械检查cmr安全性恢复

心血管植入器械后行磁共振检查安全性问题的专家共识,Hundley et al. JACC Vol. 55, No. 23, 2010 :261462.,植入器械的CMR安全性常见原因： 1、静止磁场：导致铁磁性材料的位移。 2、梯度磁场：扫描时快速变化，在线圈及导线产生电流。 3、射频波：导致机体及电极尖端发热。,植入器械后的CMR检查一般建议： 由非铁磁性材料（300系列不锈钢、钛、钛合金、镍钛合金）生产的装置没有电磁成分，不会因为CMR而产热，可以在植入后即刻行CMR检查。 对于弱铁磁性的装置，每种装置的CMR安全性尚未确定，植入后立即行CMR可能会造成装置位移。而稳定植入血管壁或邻近组织的装置移动的可能很小，特别是对于心脏瓣膜，心脏搏动的力量比CMR导致弱磁性位移的力量大很多。 总体上，如果CMR是病人的选择之一，可以考虑在植入一段时间后如6周再行检查。对于弱铁磁性装置，植入后即刻行CMR的风险及获益应该权衡，以确定是否行CMR扫描。,冠脉支架及外周血管支架 绝大多数冠状动脉支架及外周血管支架呈弱铁磁性或无铁磁性。锚定在血管壁可以对抗运动位移而6-8周后由于组织新生覆盖会进一步锚定支架。对于非铁磁性冠脉支架，没有理由或临床数据提示植入后延迟 CMR 检查是必须的。 对于特定冠脉支架的数据显示许多支架在低场强(1.5T)都是CMR安全的。 尚没有CMR检查后支架内亚急性及晚期血栓形成风险的报道。 药物支架与普通支架一样有铁磁性的考虑。有报道支架的升温（1度；重叠支架2度）问题；但这对药物支架的影响尚不清楚。 温度的升高可能因为血流的热流效应而缓解。一项研究于支架植入后2周行MR检查，随访30天及6月，与正常对照在不良事件发生率方面无显著差异。,心脏内装置： 绝大多数心脏瓣膜及瓣环均标识MR safe；少数标识MR conditional。总体上来说，瓣膜及瓣环成形术后行高达3T场强的CMR检查均非禁忌症。其对瓣膜的应力左右远远小于心脏搏动及跳动对瓣膜的作用。从瓣环上抽出一根缝线的力量大于4.7T场强产生的力量。瓣膜假体病人在行临床磁共振检查时瓣膜破裂的风险很小。CMR相关发热效应在1度以内，由于血流的热-流效应可能会更低。因磁共振检查导致的瓣膜功能异常尚未见报道。 心脏闭合器及左心耳封堵器根据使用材料不同，要么是弱铁磁性，或者非铁磁性。绝大多数心脏闭合器及封堵器标识MR safe；少数标识MR conditional。非铁磁性材料闭合器及封堵器治疗后任何时间均可行MRI检查，而弱铁磁性材料植入者需因人而异、个体化判定。对于植入后几天到几周的患者，如果磁共振检查潜在获益较大，CMR检查的获益会超过CMR的风险。 心外科手术或瓣膜置换手术中胸骨缝线也非CMR检查的禁忌症。,血流动力学监测及临时起搏装置 留置的临时心外膜起搏电极长度相对较短，无较大环路。这被认为在CMR中无明显风险。尚未见到留置电极因为CMR检查引发的并发症。 包含导线的血流动力学监测导管及少数临时经静脉起搏导线为MR unsafe. 肺动脉血流动力学监测/热稀释导管（如Swan-Ganz导管）不能进行CMR监测，除非标识或说明允许行CMR检查。 非铁磁性无电路的肺动脉导管行CMR检查是安全的。 安装临时起搏器的患者禁忌行CMR,可能会损毁机器；CMR检查时病人的临时起搏也是不可靠的。,永久心脏起搏器及ICD 起搏器及ICD含有铁磁性材料及复杂电路系统，且有1个或几个电极植入心肌中。 CMR对起搏器或ICD的副作用可能包括：机器的损坏或位移，起搏输出抑制，错误电刺激发放，电极尖端发热等。 这些因素可能导致某些临床并发症包括：起搏或除颤阈值的改变，起搏器ICD功能异常及破坏（包括电池消耗）、心律失常及猝死等。,截至2010年美国上市的起搏器都标识MR unsafe。目前对于起搏器病人并不推荐CMR检查，且需要在经验丰富的中心进行，需要有临床强指证，且获益超过风险。 近期，磁共振兼容起搏器获得FDA批准上市。,留置的经静脉起搏及除颤电极 因为这些电极无射频屏蔽，可能会在电极尖端发生明显的产热。 这些情况下不建议行CMR，只有在电生理专家及CMR检查无替代的情况下进行检查。 对于已知电极断裂的患者，禁止行CMR检查。,血流动力学辅助装置 血