现代材料分析测试技术

现代材料分析测试技术Tag内容描述：<p>1、1,&2-3 倒易点阵,2,倒易点和倒易原点 晶体点阵中的晶面和相应倒易点的关系 整个晶体中各种方位、各种面间距的晶面所对应的倒易点之总和，构成了一个三维的倒易点阵。正空间与倒空间,倒易点阵的引入,3,4,1.倒易点阵中单位矢量的定义式,a*b = a*c = b*a = b*c = c*a = c*b =0 a*a = b*b = c*c =1 a* b* c*的表达式为：V空间点阵单位晶胞的体积,5,某一倒易基矢垂直于正点阵中和自己异名的二基矢所成的平面 正倒点阵异名基矢点乘为0,同名基矢点乘为1,6,倒易点阵与正点阵的倒易关系及倒易矢量及性质,无数倒易点组成点阵倒易点阵 倒易点阵的倒易。</p><p>2、中南大学粉末冶金研究院 电子与物质的相互作用 第6章 电子与物质的相互作用 孔毅 2010年4月6日 中南大学粉末冶金研究院 电子与物质的相互作用 一一 物质对入射电子的散射物质对入射电子的散射 1 1 电子束来源及主要。</p><p>3、扫描探针显微镜扫描探针显微镜 Scanning Probe Microscopy SPM 孔毅 2010年5月6日 扫描探针显微镜 SPM 探测表面性质仪器的一个大家族 扫描隧道显微镜 STM 原子力显微镜 AFM 揭示表面形貌 也可以测量许多表面的其它。</p><p>4、电子衍射与衍衬技术 II 孔毅 2010年4月20日 不完整晶体的电子衍衬像 晶体的不完整性可由以下原因引起 1 由取向关系改变引起的 例如 晶界 孪 晶界 沉淀物与基体界面 2 晶体缺陷引起的弹性位移 例如 点 线 面 体缺陷 3。</p><p>5、扫描电子显微镜II 孔 毅 2010年4月27日 特征X射线的检测 对试样发出的特征X 射线波长 或能量 进行分光 可以对 分析区域所含化学元素作定性和定量分析 以布拉格衍射为 依据利用分光晶体 对特征X射线波长进行分光 一般。</p><p>6、材料近代分析测试方法小结II材料近代分析测试方法小结II 关于透射电镜部分请看小结I 孔毅孔毅 2010年6月4日 扫描电子显微分析小结扫描电子显微分析小结 Scanning Electron Microscopy SEM Scanning Electron Microsc。</p><p>7、电子衍射与衍衬技术 孔毅 2010年4月13日 电子衍射的信息 电子衍射 电子射出波的空间频谱分析 电子射出波 的强度定性分析 电子射出波 的强度定量分析 电子射出波 的全息分析 选区的平均效应 衍射花样衍射花样 强度衍。</p><p>8、第7章 透射电镜 IV小结 孔 毅 2010年4月20日 商业化透射电镜分类 目前生产的透射电镜大致可分为三类 1 常规的TEM 加速电压为100 200千伏 代表性产品有 日本电子的JEM 2010 日立的H 8000 菲利浦的 CM200 FEI的TECNAI2。</p><p>9、材料表面分析技术 II 孔毅 2010年5月4日 X射线光电子谱射线光电子谱 XPS X ray Photoelectron Spectroscopy XPS ESCA Electron Spectroscopy for Chemical Analysis X射线光电子能谱分析射线光电子能谱分析 电子能谱。</p><p>10、材料表面分析技术 I 孔毅 2010年5月4日 俄歇电子能谱俄歇电子能谱 Auger Electron Spectroscopy 简称简称AES 一 简介 当电子束照射到样品表面时 将有带着该样品特征 的 简介 当电子束照射到样品表面时 将有带着该样。</p><p>11、扫描电子显微分析 孔毅 2010年4月22日 Scanning Electron Microscopy SEM 历史回顾 扫描电镜的概念最早是由德国的Knoll在1935年提出 1938年Von Ardenne在透射电镜上加了个扫描线圈做 出了扫描透射显微镜 STEM 第一台。</p><p>12、现代材料分析测试技术 材料篇 绪论 目的与要求 材料科学与工程是研究其成分 结构 制备 加工 性能 使用性能及其关系的科学 材料科学与工程的定义 国际公认 是 研究有关材料成份 结构 制备 合成 性能 组织和使用效能及其关系的科学技术与生产 对材料四要素的认识和理解 要有动态的观念 材料科学与工程四个基本要素的说明和控制应放在更高 更深的层次 即分子 原子尺度来阐释和控制 材料的结构与成分应更着重。</p><p>13、本部分的主要目的： 介绍透射电镜分析、扫描电镜分析、表面成分分析及相关技术的基本原理，了解透射电镜样品制备和分析的基本操作和步骤，掌握扫描电镜在材料研究中的应用技术。在介绍基本原理的基础上，侧重分析技术的应用！ 讲课18学时，实验：4学时，考试2学时。,电子显微分析技术,主要要求： 1)掌握透射电镜分析、扫描电镜分析和表面分析技术及其在材料研究领域的应用； 2）了解电子与物质的交互作用以及电磁透镜。</p><p>14、X射线衍射晶体学,晶体和非晶体,晶体是质点（原子、离子或分子）在空间按一定规律周期性重复排列构成的固体物质。 非晶体是指组成物质的分子（或原子、离子）不呈空间有规则周期性排列的固体。它没有一定规则的外形，如玻璃、松香、石蜡等。它的物理性质在各个方向上是相同的，叫“各向同性”。它没有固定的熔点。所以有人把非晶体叫做“过冷液体”或“流动性很小的液体”。,晶体的基本性质,1 均一性：指晶体内部在其任一部。</p>