可控硅故障及分析实用教案

1、1/9一、可控硅故障类型(lixng) 可控硅有单向和双向可控硅，我们讨论的是双向可控硅 全击穿 全断路 半击穿 （正反向阻抗不对称） 不触发(chf) 漏电第1页/共10页第一页，共11页。2/9二、各类故障(gzhng)分析 全击穿： 阻焊机不受控制箱控 制，控制箱有报警示(jn sh)， 变压器始终有电，如果 有冷却水，变压器不会 烧坏，如果进行焊接， 普遍表现为电流大， “炸 点”，用万用表测量可控 硅两个主电极为通路。第2页/共10页第二页，共11页。3/9 全断路： 焊机没有(mi yu)电气通 路，变压器无电 流，焊机不能进行 焊接，控制箱有报 警指示，用万用 表测量可控硅两个

2、主电极为断路。第3页/共10页第三页，共11页。4/9 半击穿： R=0；通过变压器是直 流电，变压器空载电流 急剧增大，变压器声音 明显变大，并且有明显的 震动，即使有冷却水，变 压器也会烧毁，用万用表 测量可控硅主电极(dinj)是导通 的； R=0，也会产生上述现 象，但用万用表较难判断， 只有听变压器空载声音判 断，判断方法同上。第4页/共10页第四页，共11页。5/9不触发： 可控硅不触发，是指可控硅主电极用万用表测试双向不通，而可控硅不工作，可控硅触发极的电阻几十，如果测得的数据偏差(pinch)太大，可怀疑触发极有问题。第5页/共10页第五页，共11页。6/9 可控硅漏电： 完好

3、的可控硅在额定工作电压下是不漏电 的，发生漏电说明可控硅本身(bnshn)状况开始恶 化。可控硅漏电分为两种情况，一种是可控 硅本身(bnshn)漏电，另一种是冷却回路造成的漏电 （指管式冷却）。漏电可能造成焊钳对地打 火，焊钳麻手状况，这种现象容易和接地不 良混淆，排除方法是先易后难，即先查接地 后查可控硅。第6页/共10页第六页，共11页。7/9几点说明(shumng)： 万用表测量可控硅触发极应用R1档， 主电极测量可用R1K或更高档(godng)； 万用表R1档经常是精确度较差，不同万用表R1档测量同一电阻数据不一定相同； 不同电流档次可控硅，触发极电阻是不同的，我们使用的500-80

4、0A可控硅触发极电阻一般在几十，只能作为参考值；第7页/共10页第七页，共11页。8/9 可控硅在全导通时用万用表测量是最准确的，可以断定损坏。所以如果可控硅不属于全导通损坏，我们经常拿到测试台上试验鉴别； 现场我们判断可控硅好坏，多数不是用万用表鉴别，而是根据焊机其他表现断定可控硅损坏可能性，然后换一个(y )新的试一试。 以焊机其他表现断定可控硅，就是以上介绍的内容； 可控硅入厂试验分耐压试验和温升试验，第8页/共10页第八页，共11页。9/9 耐压试验： 1600V可控硅试验电压2000V DC，泄露小于3mA；1200V可控硅试验电压1500V DC，泄露小于3mA； 温升试验是给可控硅按额定电流通电3小时(xiosh)，再进行耐压试验，以判定可控硅性能。第9页/共10页第九页，共11页。谢谢您的观看(gunkn)！第10页/共10页第十页，共11页。NoImage内容(nirng)总结1/9。第1页/共10页。震动，即使有冷却水，变。用表测试双向不通，而可控硅不工作，。硅本身漏电，另一种是冷却回路造成的漏电。火，焊钳麻手状况，这种现象容易和接地不。良混淆，排除方法是先易后难，即先查接地。万用表测量可控硅触发极应用R1档， 主电极测量可用R1K或更高档。万用表R1档经