IE五大手册——讲义

1、Statistical Process control统计过程限制根本概念:特性过程般特性：只要是关键特性:Designed 及 LLC早NO:LLC-ts05ReVB曰年格就可以;持 续 诙 进 及KPC 计 过 程控 制一平安、法规配合、功能不仅仅合格,还要尽可能接近目标值.检验分类:计数型：检验时仅分为合格、不合格；计量型：检验时可确定值的大小.第一章持续改良及统计过程限制概述应用统计技术来限制产生输生的过程时,才能在改良质 量、提升生产率、降低本钱上发挥作用.第一节预防与检测检测 容忍浪费预防 防止浪费第二节过程限制系统过 程 共同工作以产生输生的供方、生产者、人、设备、 输入材料、方

2、法和环境以及使用输生的顾客之集 合.过程性能取决于：1.供方和顾客之间的沟通；2 .过程设计及实施的方式；3 .动作和治理方式.过程限制重点：过程特性过程限制步骤：确定特性的目标值；监测我们与目标值的距离是近还是远；对得到的信息作由正确的解释,确定过程是在正常的方式下运行；必要时,采取及时准确的举措来校正过程或刚产生的输生； 监测采取举措后的效果,必要时进一步分析及采取举措.注：仅对输由进行检验并随之采取举措,只可作为不稳定或没有水平的过程的临时举措.不能代替有效的过程治理.第三节变差：普通及特殊原因任何过程都存在引起变差的原因,产品的差距总是存在虽然单个的测量值可能全都不同,但形成一组后它们

3、趋于形成一个以描述的分布的图形.例图影响因素：普通原因： 难以排除,具有稳定、可重复的分布；此时输生可以预测.特殊原因： 必须排除,偶然发生、影响显着；此时将有不可预测方式影响输由O生产过程限制就是要去除系统性因素特殊原因.第四节局部举措和对系统采取举措针对特殊原因由直接操作人采取适当纠正措局部举措：、施.此时大约可纠正15%的过程问题.系统举措： 解决变差的普通原因,由治理人员来采取举措.此时大约可纠正85%的过程问题.采取举措类型不正确,将给机构带来在的损失,劳而无功,延误问题的解决.第五节过程限制和过程水平过程限制系统的目标：对影响过程的举措作由经济合理的决定,处理好两种变差原因的风险.

4、例图过程限制系统的作用：当由现变差的特殊原因时提供统计信号,从而采取适当的举措.过程分类：控 制满足要求受控不受控可接受1类3类/、可接爻2类4类利用量化的过程性能,反映能否满足顾客要求的水平.例如：Cp和Cpk 第六节过程改良循环及过程限制例图第七节 限制图：过程限制的工具例图第八节限制图的益处限制图是了解过程变差并帮助到达统计限制状态的有效工具；到达质量水平的稳定的本钱；限制图提供了通用的语言；限制图减少混淆、挫折以及误导性解决问题的努力而造成的高本钱.总结：SPC对象：过程过程测量利用限制图分析了解过程状态受控与否 特殊原因Y限制/改良计算过程水平Cpk普通原因是否满足N Y改良保持第二

5、章计量型数据限制图计量型数据的限制图应用广泛的原因：1 .大多过程和其输由具有可测量的特性,所以其潜在应 用很广；2 .量化的值比简单的是一否陈述包含的信息更多；3 .虽然获得一个测得的数据比获得一个通过或不通过的 数据本钱高,但为了获得更多的有关过程的信息而需 要检查的件数却较少,因此,在某些情况下测量的费 用更低；4 .由于在作曲可靠的决定之前,只需检查少量产品,因 此可以缩短零件生产和采取纠正举措之间的时间间 隔；5 .用计量型数据,可以分析一个过程的性能,可以量化 所作的改良,即使每个单值都在标准限界之内.统计过程限制有效性评价：- -过程质量是否到达受控状态-过程水平是否到达规定要求

6、 第一节均值和极差图XR图 准备工作：建立适合于实施的环境定义过程确定待治理作图的特性应考虑：- -顾客的需求一当前及潜在的问题区域- -特性间的相互关系确定测量系统使不必要的变差最小化确定需要限制的质量特性一能定量的质量特性一与生产和使用关系重大的质量特性一对下道工序影响较大的质量特性一经常由问题的质量特性分析生产过程一掌握标准对所选择的质量特性提由的要求一研究每一个生产步骤和多个特性之间的关系以说明生产过程可能发生异常的地点及起因一研究所选择质量特性的检查方法,特别注意产生 测量误差的因素一考虑整个产品是作为同一总体还是多个总体一确定限制点计量型数据限制图的绘制与应用：A.收集数据选择子组

7、大小、频率和数据a.子组大小所有的子组样本的容量应保持恒定,一般为45件连续生产的产品的组合；b. 子组频率应当在适当的时间收集足够的子组,这样子组才能反映潜在的变化；c.子组数的大小一般情况下,包含100或更多单值读数的25 或更多个的子组可以很好地用来检验稳定性.建立限制图及记录原始数据计算每个子组的均值X和极差RX = Xi + X 2 + + X n / nR = X最大值一 X最小值式中：Xi , X2为子组内的每个测量值.n为子组的样本容量.选择限制图的刻度对于X图：坐标上的刻度的最大值与最小值之差至少为子组均值的最大值与最小值的2倍.对于R图：刻度值应从最低值为 0开始到最大值之

8、 间的差值为初始阶段所遇到的最大极差 的2倍.将均值和极差画到限制图上B.计算限制限计算R及XRi + R 2+ +R kR =KXI + X2 + + XkX =K计算限制限UCLr=D 4RLCLr=D 3RUCLx=X + A2RLCLx=X A2R在限制图上作由平均值和极差限制限的限制线C.过程限制解释C.1分析用限制图受控状态的判断准那么：连续25个点都在限制界限内,或1个点,2个点,连续35个点中,在限制界限外的点不超过或连续100个点中,在限制界限外的点不超过 且一点子无非随机排列.非随机排列情况:一点子屡屡接近限制界限在 2 6外的范围内a.连接3个点中,至少有2个点接近界限b

9、,连接7个点中,至少有3个点接近界限c.连接10个点中,至少有4个点接近界限连限制图中央线一侧连续由现的点长点子的数目不少于7-间断的连a,连续11个点中,至少有10个点在中央线的一侧b,连续14个点中,至少有12个点在中央线的一 侧c,连续17个点中,至少有14个点在中央线的一 侧d,连续20个点中,至少有16个点在中央线的一侧连续6个点中,至少有5个点超过中央线一侧的 16界限连续不少于7个点的上升或下降C,2识别并标注特殊原因C,3重新计算限制极限D,过程水平解释=R/d 2 = (TR/d2计算过程水平_ , _A ., .Cp = USL - LSL / 6 CTR/d2-注：仅限于公差中央与过程中央重合.SL:标准界限当Cp < 1水平不合格；当Cp > 1水平合格；_ _z - 八、,、CPU=(USL-X)一/(3 (5R/d2)一, 一、八 , 、CPL= (X -LSL)(3 C)R/d2 )Cpk =Z min /3=CPU 或 CPL 的最/、值评价过程水平根本目标：对过程的性能进行持续改良,首先应 考虑的是哪些过程应优先获得注意.未满足要求的举措：通过减少普通原因引起的变差或将过程均值调整到接近目标值方法来改良过程性能；临时举措：对输生进行筛选,根据需要进行报废或返工处置；改变标准使