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文档简介

1、ADC测试ADC产品简单介绍市场上主流的ADC产品基本上是TI和ADI的，国内也有一些设计公司和研究所在做，目前国内的技术水平如下：8位ADC采样率超过1Gsps 12位采样率超过300Msps16位采样率超过150Msps使用场合：无线基站、直放站CT 、核磁共振雷达、军事仪器仪表等静态技术参数DNL-微分线性度DNL = |(VD+1- VD)/VLSB-IDEAL - 1 |，其中0 D 2N - 2 INL-积分线性度INL是DNL误差的数学积分。Offset Error-偏移误差当输入信号是零时，输出值和理论数值之间差。Gain Error-增益误差当满幅值输出时，输出值和最大理论输

2、出值之间的差。静态参数测试方法方法一使用信号源输出理想斜线信号，然后测得数据进行静态参数计算，但是此方法局限于信号源的品质，对于精度比较高的ADC此种方法，会引入较大测量误差。因为ATE精度较高，所以在量产ATE上用此方法。方法二软件模拟一个理想正弦波，然后通过示波器满幅度输入，采集较大量数据，理想数据和实测数据进行对比，然后计算出静态参数。在实验室精度比较高的电源不好找，但是精度比较高的信号发生器比较容易得到，所以一般用这个方法。这种方法需要采集很多样本，样本越多,测得数据越精确。静态参数matlab计算结果采样时钟：FS=184MSPS待测信号：FIN=1.9MHz样本数据:4百万个动态参数matlab计算结果采样时钟：FS=184MSPS待测信号：FIN=170MHzBench test采样时钟待测信号ADCSMASMALVDSLVDSUSB3.0电脑VS2010matlabSPICOMFPGAGPIB芯片筛选机量产测试任意信号发生器(AWG)DUTDigitizer装备有测ADC的板卡的ATE有Teradye J750 模拟信号低于2MHzTeradye Ultra Flex 模拟信号1GHzAdvant

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