自动校准诊断课件

自动校准诊断2022/12/17自动校准诊断自动校准诊断2022/12/14自动校准诊断1一、仪器的系统误差及其校准1.根据系统误差的变化规律，采用一定的测量方法或计算方法，将其从测量结果中扣除。2.采用高准确度的仪器去校准准确度低的仪器。自动校准诊断一、仪器的系统误差及其校准1.根据系统误差的变化规律，采用一2二、仪器故障的检测和诊断对待故障的两种策略1.采用冗余技术，故障产生时，设法避开故障，屏蔽它的影响。2.检测故障，及时发现，及时排除，使仪器可靠地工作。

故障检测故障诊断靠仪器内部的故障检测单元来自动实现故障检测和诊断，成为自检。自动校准诊断二、仪器故障的检测和诊断对待故障的两种策略自动校准诊断3三、仪器故障的自检自检针对的部件：（1）仪器的数字电路（2）模拟电路部分（3）软件部分自检的方式（1）开机自检（2）周期性自检（3）键控自检（4）连续监控自动校准诊断三、仪器故障的自检自检针对的部件：自动校准诊断4自检的原理自动校准诊断自检的原理自动校准诊断5自检必须解决的问题怎样产生该部件的测试矢量集怎样组成自检电路怎样进行自检自动校准诊断自检必须解决的问题自动校准诊断66.2仪器的内部自动校准智能仪器的系统误差主要存在于模拟量通道里。零点漂移+倍率变化自动校准诊断6.2仪器的内部自动校准智能仪器的系统误差主要存在于模拟量7一、零点漂移和倍率变化功能量程选择dk1放大器dk2滤波器dk3采样保持dk4模数转换dk5e1e2e3e4e5自动校准诊断一、零点漂移和倍率变化功能量程选择dk1放大器dk2滤波器d8运算放大器的e和dk自动校准诊断运算放大器的e和dk自动校准诊断9结论：1.由于A、Ri、R1、R2都随温度变化而变化，故实际的放大倍数会随温度变化发生温度漂移。2.Eos、Ios和R1、R2均是温度的函数，所以，温度变化的时候，等效的零漂电压VOS也会随着变化。自动校准诊断结论：自动校准诊断10串联的零漂电压和倍率自动校准诊断串联的零漂电压和倍率自动校准诊断11二、零点漂移的内部自动校准电路自动校准诊断二、零点漂移的内部自动校准电路自动校准诊断12三、倍率编译的内部自动校准自动校准诊断三、倍率编译的内部自动校准自动校准诊断13四、内部自动校准的程序流程自动校准诊断四、内部自动校准的程序流程自动校准诊断14自动校准诊断自动校准诊断156.4仪器中数字电路的故障检测一、常用自检技术扫描设计技术特征分析技术环绕技术自动校准诊断6.4仪器中数字电路的故障检测一、常用自检技术自动校准诊断161.扫描技术自动校准诊断1.扫描技术自动校准诊断17自动校准诊断自动校准诊断18自动校准诊断自动校准诊断192.特征分析技术在逻辑电路的输入端输入测试矢量，在任一观察点上观察相应序列，根须序列数据流的变化来诊断故障。一长串数据中，并不是每一位都是有用的，所以，要简化数据串，提取特征。

自动校准诊断2.特征分析技术在逻辑电路的输入端输入测试矢量，在任一20常用数据流压缩和提取特征的方法转移计数法：观察跳变个数边沿计数法：记录上升沿或下降沿的个数1计数法：记录数据流中1或0的个数余数表示法：让被观察数据流流入线性反馈移位寄存器（LFSR）中，最后读取余数。自动校准诊断常用数据流压缩和提取特征的方法转移计数法：观察跳变个数自动校21线性反馈移位寄存器自动校准诊断线性反馈移位寄存器自动校准诊断22CP序号A1A2A3010111102111301140015100601071018110自动校准诊断CP序号A1A2A30101111021113011400123自动校准诊断自动校准诊断24自动校准诊断自动校准诊断25自动校准诊断自动校准诊断26电路故障电路响应序列特征值a/101110111110a/0b/0d/001010101111b/101011111011c/1d/1Y/111111111100c/000000011110Y/000000000000无故障电路01010111101自动校准诊断电路故障电路响应序列特征值a/101110111110a/0273.环绕技术自动校准诊断3.环绕技术自动校准诊断28二、数字电路各组成部分的故障检测CPU的检测RAM的检测ROM的检测I/O端口的自检总线的自检自动校准诊断二、数字电路各组成部分的故障检测CPU的检测自动校准诊断296.5仪器中模拟电路的故障测试模拟电路的故障测试的困难利用环绕技术进行模拟量通道的自检自动校准诊断6.5仪器中模拟电路的故障测试模拟电路的故障测试的困难自动30自动校准诊断自动校准诊断31自动校准诊断自动校准诊断326.6仪器自检的安排采用可测性设计，便于自检充分利用本身资源进行自检安排开机自检和按键自检外部设备自检通畅要由使用者参与判断和操作才能完成自检程序安排次序是：公共部件和关键部件→组合部件自检自动校准诊断6.6仪器自检的安排采用可测性设计，便于自检自动校准诊断33自动校准诊断自动校准诊断34自动校准诊断自动校准诊断35演讲完毕，谢谢听讲!再见，seeyouagain3rew2022/12/17自动校准诊断演讲完毕，谢谢听讲!再见，seeyouagain3rew36自动校准诊断2022/12/17自动校准诊断自动校准诊断2022/12/14自动校准诊断37一、仪器的系统误差及其校准1.根据系统误差的变化规律，采用一定的测量方法或计算方法，将其从测量结果中扣除。2.采用高准确度的仪器去校准准确度低的仪器。自动校准诊断一、仪器的系统误差及其校准1.根据系统误差的变化规律，采用一38二、仪器故障的检测和诊断对待故障的两种策略1.采用冗余技术，故障产生时，设法避开故障，屏蔽它的影响。2.检测故障，及时发现，及时排除，使仪器可靠地工作。

故障检测故障诊断靠仪器内部的故障检测单元来自动实现故障检测和诊断，成为自检。自动校准诊断二、仪器故障的检测和诊断对待故障的两种策略自动校准诊断39三、仪器故障的自检自检针对的部件：（1）仪器的数字电路（2）模拟电路部分（3）软件部分自检的方式（1）开机自检（2）周期性自检（3）键控自检（4）连续监控自动校准诊断三、仪器故障的自检自检针对的部件：自动校准诊断40自检的原理自动校准诊断自检的原理自动校准诊断41自检必须解决的问题怎样产生该部件的测试矢量集怎样组成自检电路怎样进行自检自动校准诊断自检必须解决的问题自动校准诊断426.2仪器的内部自动校准智能仪器的系统误差主要存在于模拟量通道里。零点漂移+倍率变化自动校准诊断6.2仪器的内部自动校准智能仪器的系统误差主要存在于模拟量43一、零点漂移和倍率变化功能量程选择dk1放大器dk2滤波器dk3采样保持dk4模数转换dk5e1e2e3e4e5自动校准诊断一、零点漂移和倍率变化功能量程选择dk1放大器dk2滤波器d44运算放大器的e和dk自动校准诊断运算放大器的e和dk自动校准诊断45结论：1.由于A、Ri、R1、R2都随温度变化而变化，故实际的放大倍数会随温度变化发生温度漂移。2.Eos、Ios和R1、R2均是温度的函数，所以，温度变化的时候，等效的零漂电压VOS也会随着变化。自动校准诊断结论：自动校准诊断46串联的零漂电压和倍率自动校准诊断串联的零漂电压和倍率自动校准诊断47二、零点漂移的内部自动校准电路自动校准诊断二、零点漂移的内部自动校准电路自动校准诊断48三、倍率编译的内部自动校准自动校准诊断三、倍率编译的内部自动校准自动校准诊断49四、内部自动校准的程序流程自动校准诊断四、内部自动校准的程序流程自动校准诊断50自动校准诊断自动校准诊断516.4仪器中数字电路的故障检测一、常用自检技术扫描设计技术特征分析技术环绕技术自动校准诊断6.4仪器中数字电路的故障检测一、常用自检技术自动校准诊断521.扫描技术自动校准诊断1.扫描技术自动校准诊断53自动校准诊断自动校准诊断54自动校准诊断自动校准诊断552.特征分析技术在逻辑电路的输入端输入测试矢量，在任一观察点上观察相应序列，根须序列数据流的变化来诊断故障。一长串数据中，并不是每一位都是有用的，所以，要简化数据串，提取特征。

自动校准诊断2.特征分析技术在逻辑电路的输入端输入测试矢量，在任一56常用数据流压缩和提取特征的方法转移计数法：观察跳变个数边沿计数法：记录上升沿或下降沿的个数1计数法：记录数据流中1或0的个数余数表示法：让被观察数据流流入线性反馈移位寄存器（LFSR）中，最后读取余数。自动校准诊断常用数据流压缩和提取特征的方法转移计数法：观察跳变个数自动校57线性反馈移位寄存器自动校准诊断线性反馈移位寄存器自动校准诊断58CP序号A1A2A3010111102111301140015100601071018110自动校准诊断CP序号A1A2A30101111021113011400159自动校准诊断自动校准诊断60自动校准诊断自动校准诊断61自动校准诊断自动校准诊断62电路故障电路响应序列特征值a/101110111110a/0b/0d/001010101111b/101011111011c/1d/1Y/111111111100c/000000011110Y/000000000000无故障电路01010111101自动校准诊断电路故障电路响应序列特征值a/101110111110a/0633.环绕技术自动校准诊断3.环绕技术自动校准诊断64二、数字电路各组成部分的故障检测CPU的检测RAM的检测ROM的检测I/O端口的自检总线的自检自动校准诊断二、数字电路各组成部分的故障检测CPU的检测自动校准诊断656.5仪器中模拟电路的故障测试模拟电路的故障测试的困难利用环绕技术进行模拟量通道的自检自动校准诊断6.5仪器中模拟电路的故障测试模拟电路的故障测试的困难自动66自动校准诊断自动校准诊断67自动校准诊断自动校准诊断686.6仪器自检的安排采用可