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文档简介

§4-7

)2]1/1、VT小,这就是阈电压的短沟道效应。QnQALLP

1 =-qNAxdmax=-(4esqNAjFB)

LP LPLPLLP 1(L+L)Z 1=-qN

L+L¢= (L+L)

则L'-L则

1-j[(1+

xd)

-1]

令DLxjjdd2xjjddA x A

2+(DL+x)2=

+x =Q

j[(1+

xd)

-1j 1j当L>>x 时,QAG»QA,VT与L无当L<<x 时,随着Lfl

VTflxj xdfl(NA

(TOXfl)DDQA=-qNA(2DZ)Lxdmax/ZL=-qN2DZxd(V =j-QOX- 1+2DZ+ OX = + = = + VGS1= + » VGSVTEx增大,使表面散射增强,μVGS的增大而下降:1= +

K -

mO m=m电场 =

1+mo

1+moK

-VT

1+VGS-K上式中,VKo当 时,m=1m =600cm

s,K

v~Ey关系: =常数,E< v0v0yvmax,EEyy

-

Ey,

EC+v vmaxEyEC

=-

Ey就达到了EC,载vmaxID饱和。VDsatVGS-VTQL0V'DsatvLvmax1 1

V

由上式可见,V'Dsat总是小于VDsat 对于普通MOSFET,(EL)2>>V ,V MOSFET,

( L)2<<V ,V L<< IDsat

2 I¢=m (EL)

1+

-

E

2 I¢=m (

MOSFET,(ECL)2V

m (EL)2

Dsat

-1 m V =

2ECL

I

-V)2 , L)2<<V, I¢»Zm

L)2

»ZmnCOX(VGS-VT)E(VGS-VT IsatL =d =Zm

-V

g¢=dI

gs与VGS-VTL均不再有关,这称为跨导的f=

=13mn(VGS-VT)

MOSFET的饱和区最高工作频率为f¢=3vmax 4pLft (DrainInducedBarrierLowering,DIBL)ID增大的现象。当VFBVGSVT时,能带在表面处往下弯,势垒的降低IDsub产生如下的特点:L缩短后,ID~VGS特性曲线中由指数关系过渡到平方关系的转折电压(即阈电压VT)减小。MOSFETIDsubVDS3~5kTq)后与VDSMOSFETIDsubVDS增加而增加。解释:电流由越过源端势垒注入到沟道区的电子扩散而 S

dlnI

当VGSVFB时,能带在表面处往上弯,表面发生积累,VGSMOSFET难以截止。Isub。I IDαi

夹断区的Eyy y

由于当 ›时 I ›Ey fiaiVGS较小时,IDαiIsubVGS较大时,IDαiIsub当VGS增大到使碰撞电离 时,Isub成为漏PN结的反向IDOO 是硬击穿。 因为mn »2.5m

(I

Rsubp沟Isubp沟IsubRsubn

»6.(IsubRsub沟aMfi热电子。

yxx如图的A过程.层,空穴形成衬底电流Isub,如图的C过程。MOSFET的性能产生 电流IDsub的增大为了防止MOSFE

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