影视原理试验参考指导书学生版

试验一运算器组成试验一、试验目标1、学习数据信息表示方法，熟练掌握多个四则运算方法。2、掌握运算器工作原理及其组成结构，学习运算器设计方法。3、熟悉简单运算数据传送通路。4、验证运算器功效发生器(74LS181)组合功效。二、试验设备TWL-PCC计算机组成原理教学试验系统一台，排线若干；PC微机一台（选配）。三、试验原理本试验中所用运算器数据通路图图1.1所表示。本通路图中运算器单元由算术逻辑运算单元（ALU）、两个字长工作暂存器TR1和TR2及一个8位输出三态门组成。其中ALU是由两片74LS181以并-串型组成8位字长算术逻辑运算单元。两个芯片控制端S3、S2、S1、S0、M对应控制信号相互并到一起由排针引出至外部。74LS181功效表见表1-1。参与运算两数据暂存器TR1和TR2由锁存器74LS273来实现。当C_TR1或C_TR2为高电平时，此时来一个T4脉冲，内总线上数据即被打入到对应暂存器中。运算器运算结果数据输出经过一个三态门（74LS245）连接到内总线上，此三态门输出由一个B_ALU控制信号控制，当B_ALU为低电平（0）时，运算器运算结果输出至内总线上，而为高电平（1）时，则输出高阻态，不影响内总线上其它数据。图1.1运算器数据通路图“输入设备单元”8位数据开关经过一个三态门（74LS245）连接到内总线上，该三态门输出由B_SW和RD控制信号相或得出，当或结果为低电平（0）时，数据开关所置数据输出至内总线上。“数据总线”单元上总线数据显示灯已和内总线相连，用来显示内总线上数据。运算器单元所须T4脉冲信号连接至该单元T4排针端。试验时，微动开关KK2输出KK2+连接到该单元T4排针端，按动一下微动开关，即可取得一个单脉冲信号。此试验中其它S3、S2、S1、S0、M、CN、C_TR1、C_TR2、B_ALU、B_SW、RD等全部为电平信号，将她们连接到“开关组单元”中二进制数据开关上来模拟不一样电平状态。“开关组单元”SW1--SW17为相互独立二进制数据开关，开关向上时为0，开关向下时为1。表1.174LS181逻辑功效表输入为A和B，输出为F，为正逻辑S3S2S1S0M=0(算术运算)M=1(逻辑运算)Cn=1(无进位)Cn=0(有进位)0000F=AF=A加1F=A0001F=A+BF=(A+B)加1F=A+B0010F=A+BF=(A+B)加1F=AB0011F=0减1F=0F=00100F=A加ABF=A加AB加1F=AB0101F=AB加(A+B)F=AB加(A+B)加1F=B0110F=A减B减1F=A减BF=A⊕B0111F=AB减1F=ABF=AB1000F=A加ABF=A加AB加1F=A+B1001F=A加BF=A加B加1F=A⊕B1010F=AB加(A+B)F=AB加(A+B)加1F=B1011F=AB减1F=ABF=AB1100F=A加AF=A加A加1F=11101F=A加(A+B)F=A加(A+B)加1F=A+B1110F=A加(A+B)F=A加(A+B)加1F=A+B1111F=A减1F=AF=A当向TR1或TR2工作暂存器打入数据时，数据开关三态门打开，这时应确保运算器输出三态门关闭；一样，当运算器输出结果至总线时也应确保数据输入三态门是在关闭状态。本TWL-PCC计算机组成原理试验系统中全部LED指示灯均为亮时所表示状态为高电平（1），灯不亮时所表示其状态为低电平（0）。四、试验步骤1、连接试验线路。参考试验连线图见图1.2。仔细检验无误后，接通电源。图1.2运算器组成试验接线图2、先置相关控制信号为初始态，即使运算器和输入设备输出全部为高阻态（B_ALU=1、B_SW=1）,“输入设备单元”中RD信号能够一直为低电平（RD=0）,暂存器TR1和TR2门控信号全部为低电平（C_TR1=0、C_TR2=0）。3、经过“输入设备单元”数据开关向暂存器TR1中置数。①拨动8位数据开关形成一个8位二进制数。（如01100010）。②数据开关上数据输出至总线（B_SW=0）,打开暂存器TR1门控信号（C_TR1=1）。③按动微动开关KK2，产生一个T4脉冲，将数据开关上数据（01100010）打入到TR1中。然后关掉暂存器TR1门控信号（C_TR1=0）。4、经过“输入设备单元”数据开关向暂存器TR2中置数。①拨动8位数据开关形成一个8位二进制数。（如10101101）。②数据开关上数据输出至总线（B_SW=0）,打开暂存器TR2门控信号（C_TR2=1）。③按动微动开关KK2，产生一个T4脉冲，将数据开关上数据（10101101）打入到TR2中。然后关掉暂存器TR2门控信号（C_TR2=0）。5、关掉数据开关输出三态门（B_SW=1），打开运算器数据输出三态门（B_ALU=0）,使运算器输出至总线上。此时，改变运算器控制信号S3、S2、S1、S0、M及CN状态，就可取得不一样运算结果。参考表1.1其逻辑功效表。如：先检验TR1和TR2中打入数是否正确，可将S3、S2、S1、S0及M分别置为1、1、1、1、1时总线上显示为TR1中数；置成1、0、1、0、1时则显示为TR2中数。五、试验要求1、做好预习，掌握ALU功效特征，并熟悉本试验中所用控制开关作用和使用方法。2、置数TR1=62H，TR2=ADH，改变运算器功效设置，观察运算器输出，统计到下表1.2中，并进行理论分析，得出试验结论。表1.2DR1DR2S3S2S1S0M=0（算术运算）M=1（逻辑运算）Cn=1无进位Cn=0有进位理论值试验值理论值试验值理论值试验值62HADH0000F=62HF=F=63HF=F=9DHF=62HADH0001F=EFHF=F=F0HF=F=10HF=62HADH0010F=72HF=F=73HF=F=8DHF=62HADH0011F=FFHF=F=00HF=F=00HF=62HADH0100F=A4HF=F=A5HF=F=DFHF=62HADH0101F=31HF=F=32HF=F=52HF=62HADH0110F=B4HF=F=B5HF=F=CFHF=62HADH0111F=41HF=F=42HF=F=42HF=62HADH1000F=82HF=F=83HF=F=BDHF=62HADH1001F=0FHF=F=10HF=F=30HF=62HADH1010F=92HF=F=93HF=F=ADHF=62HADH1011F=1FHF=F=20HF=F=20HF=62HADH1100F=C4HF=F=C5HF=F=FFHF=62HADH1101F=51HF=F=52HF=F=72HF=62HADH1110F=D4HF=F=D5HF=F=EFHF=62HADH1111F=61HF=F=62HF=F=62HF=试验二静态存放器试验一、试验目标1、掌握静态随机存放器RAM工作特征及使用方法。2、了解半导体存放器存放和读出数据方法。二、试验设备TWL-PCC计算机组成原理教学试验系统一台，排线若干；PC微机一台（选配）。三、试验原理SRAM通路图见图2.1，由一片6116组成，其容量为2048×8位。6116A10-A8脚接地，只有A7-A0地址使用，实际使用存放容量为256字节。存放器地址线A7-A0、数据线D7-D0、控制线片选线CS、写线WE及输出使能线OE均由排针引出，供用户接线。6116功效表见表2.1所表示。表2.16116功效表状态CSOEWED7~D0未选中1XX高阻抗严禁011高阻抗读出001数据读出写入010数据写入写入000数据写入存放器地址由“地址寄存器单元”给出。地址寄存器输入和存放器数据全部接到内总线上，由“输入设备单元”数据开关经三态门连接到总线上分时给出地址和数据。地址寄存器打入时钟是由C_AR和T3脉冲相和得到。图2.1静态存放器通路图四、试验步骤1、连接试验线路。参考试验连线图图2.2所表示。仔细检验无误后，接通电源。2、连续写存放器。给00H、01H、02H、03H、04H地址单元分别写入数据AAH、BBH、CCH、DDH、EEH。写地址。关存放器片选线（CS=1），CLR=1,WE=1、OE=1，打开数据开关输出三态门（B_SW=0、RD=0）,此时数据开关中数输出占领总线，将数据开关数置为00H（00000000），打开地址寄存器打入门控信号（C_AR=1），然后按动微动开关KK2产生T3脉冲，立即00H打入到地址寄存器中，同时地址总线指示灯显示。写数据。关掉地址寄存器门控信号（C_AR=0）,将数据开关置为AAH（10101010），打开存放器片选线（CS=0），将写线WE进行1→0→1操作，此时数据开关中数AAH以被写到存放器00H地址单元中。③反复①②，分别在01H、02H、O3H、O4H地址单元中写入数据BBH、CCH、DDH、EEH。3、连续读存放器。将存放器00H、01H、02H、03H、04H地址单元中数分别读出，观察读出结果和写入结果是否一致。写地址。CS=1，CLR=1,WE=1、OE=1，打开数据开关三态门（B_SW=0、RD=0）,此时数据开关中数输出占领总线，将数据开关数置为00H（00000000），打开地址寄存器打入门控信号（C_AR=1），然后按动微动开关KK2产生T3脉冲，立即00H打入到地址寄存器中，同时地址总线指示灯显示。读数据。B_SW=1,CS=0，置读线有效OE=0，总线显示即为从存放器00H地址单元读出数据AAH。③反复①②，分别读出01H、02H、O3H、O4H地址单元中数据，观察和写入数据是否一致。图2.2静态存放器试验接线图4．完成下表数据输入数据输出00H0000000011111111FFH01H0000000111111110FEH02H0000001011111101FDH03H0000001111111100FCH04H0000010011111011FBH05H0000010111111010FAH06H0000011011111001F9H07H0000011111111000F8H08H0000100011110111F7H09H0000100111110110F6H0AH0000101011110101F5H0BH0000101111110100F4H0CH0000110011110011F3H0DH0000110111110010F2H0EH0000111011110001F1H0FH0000111111110000F0H试验三总线及数据通路组成试验一、试验目标1、了解总线概念、作用和特征。2、掌握用总线控制数据传送方法。3、深入熟悉教学计算机数据通路。4、掌握数字逻辑电路中故障通常规律，和排除故障通常标准和方法。5、锻炼分析问题和处理问题能力，在出现故障情况下，独立分析故障现象，并排除故障。二、试验设备TWL-PCC计算机组成原理教学试验系统一台，排线若干；PC微机一台（选配）。三、试验原理总线用来连接各个功效部件，本试验数据通路图图4.1。各个部件全部有自己输入输出控制信号。各个部件控制信号全部需要是连接到“开关组单元”各个独立二进制开关上来手动控制。连接到总线上地址寄存器只有输入线，其输出直接连接到存放器地址，用于锁存需读写存放器地址。本试验中时序信号用到了T3和T4信号，可将“信号源单元”时钟输出SY接到“时序发生器单元”Φ上，将OT3和OT4分别连接到“总线单元”中对应T3和T4端上，二进制开关拨至“单步”状态，然后每按动一次开启键START，就会次序产生一个T3、T4时序信号。依据挂接在总线上多个部件，设定试验要求：将存放器10H地址存入数据93H，然后将存放器10H地址单元中存放数据送输出单元显示，同时也存入到R0寄存器中。图3.1总线试验数据通路图四、试验步骤1．本试验有两种连线方法：①各个单元控制信号分别由不一样开关独立控制，连线参考图见图4.2。②同后边模型机试验相同，存放器、I/O设备有各自片选线，不过共用一根读线和一根写线。2、因为有不一样连线图就有不一样实施步骤，根据第一个连线方法，完成试验任务须有以下几步操作：①数据输入开关置10H打入到地址寄存器。②数据输入开关置数据93H打入到存放器。③存放器输出数据到输出设备同时打入到R0寄存器。3、连接试验线路。参考试验连线图图4.2所表示。仔细检验无误后，接通电源。 4、置全部控制信号为初始态：输入设备（B_SW=0,RD=0）、地址寄存器（C_AR=0）、存放器（CS=1、OE=1、WE=1）、输出设备（CS=1、WR=1）、通用寄存器R0（B_R0=1、C_R0=0）,CLR=1。 5、“时序发生器单元”中二进制开关拨至“单步”状态。数据开关置数10H，B_SW=1、RD=0,C_AR=1，按动时序开启键START，产生T3节拍脉冲将总线上数据打入到地址寄存器中。关掉地址寄存器打入门控信号(C_AR=0)。数据开关置93H，CS=0、OE=1、WE=1→0→1,此时将总线上数据93H写入到存放器目前地址单元中。关掉输入设备三态门（B_SW=1），关掉存放器片选线（CS=1）。存放器片选有效读有效（CS=0、WE=1、OE=0），输出设备片选有效写有效（CS=0、WR=1→