来料检验标准

广东顺德长品版本：第三版

来料检验标准文件编号：

电子有限公司受控状态：

碳膜电阻修改页：

第1页共53页

抽样检验标准：

依据MIL-STD-105D-II；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

检

序

依

项

号H检验标准及要求AQL检验方法

色环标识与电阻标称值精度等级是否一一致.

色环标识MI目测

1外观用毛刷沾洗板水轻擦色环,不能出现脱色现象。

元件体电阻有无破损，引脚是否氧化。MI目测

2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺

1.用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，电阻值

小于10K的用串联方式，频率选用100Hz.电阻值大于

等于10K的用并联方式，频率选用lOOHzo

3

电性2.分别在高温85℃、低温-20℃、温度93%±3%、100CM高MALCR电桥

度自山跌落3次，其对应R值均符合标称值及偏差允许

范围。

3.碳膜电阻误差值：±5%

用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230+5℃烙铁

4可焊性MA

锡炉中一次上锡面积大于85%。表面色环颜色不发生变化。小锡炉

1.所用材料与样品相符。

目测、对比样品

5材料2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA

刀片

3.外壳用刀片刮取，壳体坚韧度需符合。

1、包装材料用料正确。2、小包装方式、数量无误。

包装

63、装箱方式、数量无误。4、（内包装、外箱）标识MA目测

标识

单内容正确。

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日期日期日期

广东顺德长品版本：第三版

来料检验标准文件编号：WI/HV-12-002

电子有限公司受控状态：

修改页：

金属膜电阻类第2页共53页

抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-H；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

序

检验

号检验标准及要求AQL检验方法

项目

色环标识与电阻标称值精度等级是否一

色环标识MI目测

1外观致。

元件体电阻有无破损，引脚是否氧化。MI目测

2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺

1.室温下用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，

电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz；电阻

3值大于等于10K的用并联方式，频率选用lOOHzoMA

电性2.分别在75℃、-5℃以下、湿度93%±3%、100CM高度LCR电桥

自由跌落3次，对应R值均符合标称值及偏差允许范围。

3.金属膜、精密电阻阻值偏差不得超出标称值的上下限。

4CR

4.金属膜电阻误差值±1%

用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230烙铁

5可焊性MA

±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85虬小锡炉

1、所用材料与样品相符。

6材料MA目测、对比样品

2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

1、包装材料用料正确。

包装2、小包装方式、数量无误。

7MI目测

标识3、装箱方式、数量无误。

4、（内包装、外箱）标识单内容正确。

拟制：审核：批准：

日期日期日期

广东顺德长品版本：第三版

来料检验标准文件编号：WI/HV-12-003

电子有限公司受控状态：

修改页：

氧化膜电阻第3页共53页

抽样来料检验标准：

依据MIL-STDT05DTI；MI：AQL=1.0；MA：AQL=0.65；CR：AQL=0

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

序

检验

号检验标准及要求AQL检验方法

项目

色环标识与电阻标称值精度等级是否一

丝印MI目测

致。

1外观

元件

电阻有无破损，引脚是否氧化。MI目测

体

2尺寸外形尺寸是否符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺

1.用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，

电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz；

3电性2.分别在75℃、-5℃、湿度93%±3%、100CM高CRLCR电桥

度自由跌落3次，对应R值均符合标称值及偏

差允许范围

4材料所用材料与样品相符MA目测、对比样品

1.包装材料用料正确。

2.小包装方式、数量无误。

5包装标识MI目测

3.装箱方式、数量无误。

4.（内包装、外箱）标识单内容正确。

拟制：审核：批准：

日期日期日期

广东顺德长品版本：第三版

来料检验通用标准文件编号:WI/IW-12-004

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修改页：

AI机用的电阻、二极管引脚标准要求第4页共53页

抽样检验标准:依据MIL-STDT05D-H；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

碳膜电阻、金膜电阻、二极管1N4148、二极管1N4007引脚直径

序

检验

号检验标准及要求AQL检验方法

项目

L1/4W碳膜、金膜电阻引脚直径要求必需达0.43-0.5mm

电阻2.1/4W电阻要求带编带（26mm）,编带中间电阻引脚的两端尺数字卡尺

1CR

引脚寸为26mm，也有52mm0目测

3.电阻引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象。

1、二极管1N4148引脚直径为0.45-0.5mm0

二极管2.二极管1N4148要求带编带（26mm）,编带中间二极管1N4148

数字卡尺

21N4148引脚的两端尺寸为26mm。CR

目测

引脚3.二极管1N4148引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等

现象

1.二极管1N4007引脚直径为0.68-0.73mm。

二极管2.二极管1N4007要求带编带（58mm）,编带中间二极管1N4007

数字卡尺

31N4007引脚的两端尺寸为58mm。CR

目测

引脚3.二极管1N4007引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等

现象

用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃烙铁

4可焊性MI

锡炉中，一次上锡面积大于85%。小锡炉

1.所用材料与样品相符。目测、对比样

5材料MA

2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。品

包装1.包装材料用料正确。3.装箱方式、数量无误。

6MI目测

标识2.小包装方式、数量无误。4.内包装、外箱标识单内容正确。

拟制：审核：批准：

日期日期日期

广东顺德长品版本：第三版

来料检验标准文件编号：WI/HV-12-005

电子有限公司受控状态：

修改页：

瓷片电容第5页共53页

抽样检验标准:依据MIL-STDT05DTI；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

电容：104P/50V+80%-20%102P/50V+80%-20%(直径4)5脚距5mm)

序检验

检验标准及要求AQL检验方法

号项目

丝印丝印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。MI目测

1外观

元件体引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。MI目测

2尺寸符合产品工程图。脚距5mm,66mm,符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺

1.用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内，漏电流检

测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。

2.常温下用数字电容测试仪检测电容值为0.lUF+80%-20%

(0.OOlmF+80%-20%),损耗角WO.05。

数字电容测试仪

3.常温下，用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻210000MQ

漏电流测试仪

4.常温下，用耐压测试仪测端子间耐压值75V；端子与外壳间

3电性CR耐压测试仪

耐压值为100V,应元击穿或飞弧现象(高温区95℃-105℃检

绝缘电阻测试仪

测方法相同)。

5.将其放于95℃〜105℃及低温-18℃以下，用数字电容测试仪

检测测其电容值为0.lUF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).

6.手工浸水湿度93%±3%用数字电容测试仪测其电容

0.lUF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).

用烙铁快速一-次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉烙铁

4可焊性MI

中，一次上锡面积大于85%。小锡炉

3.所用材料与样品相符。

5材料MA目测、对比样品

4.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

包装标3.包装材料用料正确。2.小包装方式、数量无误。

6MI目测

识3.装箱方式、数量无误。4.内包装、外箱标识单内容正确。

拟制:审核:批准:

日期日期日期

广东顺德长品版本：第三版

来料检验标准文件编号：WI/HV-12-006

电子有限公司受控状态：

修改页：

身压瓷片电容第6页共53页

抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-H；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

电容：101P/1KV（直径4>5脚距5111111）102P/1KV（直径4>6.5脚距5mm）103P/1KV（直径4>8.5脚距5nm）

序检验

检验标准及要求AQL检验方法

项目

丝印丝印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。MI目测

1外观

元件体引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。MI目测

2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺

1.用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内，漏电流检测

仪检测其额定耐压与漏电流的大小。

2.常温下用数字电容测试仪检测电容值为0.lUF+80%-20%

(0.001mF+80%-20%),损耗角WO.05。

数字电容测试仪

3.常温下，用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻210000MQ

漏电流测试仪

4.常温下，用耐压测试仪测端子间耐压值1.6Ur(5s)；端子与外

3电性CR耐压测试仪

壳间耐压值为1250V,应元击穿或飞弧现象(高温区95℃-105℃

绝缘电阻测试仪

检测方法相同)。

5.将其放于95c〜105℃及低温-18"C以下，用数字电容测试仪检

测测其电容值为0.lUF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).

6.手工浸水湿度93%±3%用数字电容测试仪测其电容

0.lUF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).

用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，烙铁

4可焊性MI

一次上锡面积大于85%。小锡炉

5.所用材料与样品相符。

5材料MA目测、对比样品

6.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

包装4.包装材料用料正确。2.小包装方式、数量无误。

6MI目测

标识3.装箱方式、数量无误。4.内包装、外箱标识单内容正确。

拟制：审核：批准：

11期日期日期

广东顺德长品版本：第三版

来料检验标准文件编号：WI/HVT2-007

电子有限公司受控状态：

修改页：

高压金属膜电容第7页共53页

抽样来料检验标准：依据MIL-STDT05DTI；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.4

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

高压电容(CBB金属膜电容)CBB21-473J400V(脚距10mm)

序检验

检验标准及要求AQL检验方法

号项目

丝印是否清晰可辩，有明确认证标志，是否标明

丝印MI目测

3C、UL、TtiV或VDE等认证标志。

1外观

引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤，

元件体MI目测

封胶是否有气孔等。

2尺寸符合产品工程图MA游标卡尺

1.根据所测安规电容的容量在电容测试仪设置标准容量，根据电容正耐压测试

负偏差设置上下偏差，然后依据电容的标称电压值，设定损耗角正切仪

值，最后夹上待测电容，“PASS”灯亮表示合格。电容测试

2.用电容测试仪测其电容0.047口F±5%,损耗角WL容(2(TC1KHZ).仪

3电性CR

3.用绝缘电阻测试仪测其RH30000MQ(20℃Imin)漏电流测

4.常温下100CM高度自由跌落3次，再测其电容值应为0.047yF+5%.试仪

5.用耐压测试仪测其极与极的抗电强度2Ur(2S).绝缘电阻

6.高温80℃及低温-20℃时，测其电容值为0.047uF±5%。测试仪

用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一烙铁

4可焊性MI

次上锡面积大于85%。小锡炉

1.所用材料与样品相符。目测、对比

5材料MA

2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。样品

1.材料用料正确

包装标

62.装箱方式、数量无误MI目测

识

3.（内包装、外箱）标识单内容正确

拟制：审核：批准：

日期日期日期

广东顺德长品版本：第三版

来料检验标准文件编号:WI/HV-12-008

电子有限公司受控状态：

修改页：

聚酯膜(绦纶)电容第8页共53页

抽样来料检验标准:依据MIL-STDT05DTI；MI：AQL=1.5；MA：AQL=0.65；CR：AQL=0.4

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

聚脂膜电容(绦纶)：2J103J(630V)(脚距4mm)2JI52J(630V)(脚距4mm)

序检验检验方

号检验标准及要求AQL

项II法

丝印丝印是否清晰可辩，负极标志、丝印标识是否与来料相符。MI目测

1外观

元件体引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤。MI目测

钢尺或游

2尺寸符合产品工程图MA

标卡尺

1.根据所测电容器容量在电容测试仪设置标准容量，根据电容正负

电容测试

偏差设置上下偏差，然后根据电容的标称耐压来设定损耗角，最后

仪

夹上待测电容，“PASS”灯亮表示为合格。

万用表

2.用电容测试仪或LCR电桥测其电容0.0001uF±5%(0.00152nF

稳压电源

3电性±5%),损耗角正切值WO.01(20℃lKHZ)oCR

漏电流测

3.用耐压测试仪测其极与极间的抗电强度2Ur(Ur=630VDC)时间

试仪

5S

绝缘电阻

4.用绝缘电阻测试仪测其R230000MC(20℃Imin)。

测试仪

5.工作温度范围40℃〜+85℃

用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，烙铁

4可焊性MI

一次上锡面积大于85%。小锡炉

1、所用材料与样品相符。目测、对

5材料MA

2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。比样品

1、材料用料正确。

包装2、小包装方式、数量无误。

63、装箱方式、数量无误。MI目测

标识

4、(内包装、外箱)小标签内容正确。

拟制：审核：批准：

日期日期日期

广东顺德长品版本：第三版

来料检验标准文件编号:WI/HV-12-009

电子有限公司受控状态：

修改页：

二极管IN4007第9页共53页

抽样来料检验标准：

依据MIL-STDT05DTI；MI：AQL=1.5；MA：AQL=0.65；CR：AQL=0.4

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

二极管：D1-D5IN4007

松

验

序

项

M目检验标准及要求

VAQL检验方法

丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测

1外观

元件体元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。MIII测

2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺

1.用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降：0.6〜1.IV

和反向耐压：IN4007>1000V>晶体管测试仪

3电性2.IN4007在最大反向电压下其最大反向电流值为5.0口CR稳压电源

A(+25℃),平均输出电流值为1A(+75℃)

万用表

3.工作温度范围为-65℃to+125℃

用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230烙铁

4可焊性MA

±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85机小锡炉

1.所用材料与样品相符。

5材料MA目测、对比样品

2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

1、包装材料用料正确。2、小包装方式、数量无误。

包装

63.装箱方式、数量无误。MI目测

标识

4.(内包装、外箱)标识单内容正确。

拟制:审核:批准:

口期口期日期

广东顺德长品版本：第三版

来料检验标准文件编号：WI/HV-12-009A

电子有限公司受控状态：

修改页：

二极管IN4007第9A页共53页

抽样来料检验标准：

依据MIL-STD-105D-II；MI：AQL=1.5；MA：AQL=0.65；CR：AQL=0.4

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

稳压二极管参数:

型号稳压值及精度测试电流正向电压(VF)

IN47233.3V±5%76mA当IF=200mA时，VFW1.2V

IN47324.3V±5%53mA当IF=200mA时,VFW1.2V

IN47335.1V±5%49mA当IF=200mA时,VFW1.2V

IN47345.6V±5%45mA当IF=200mA时,VFW1.2V

IN472312V±5%21mA当IF=200mA时,VFWL2V

IN472327V±5%9.5mA当IF=200mA时,VFW1.2V

二极管参数:

型号最大反向电压(VR)正向电压(VF)正向电流(IF)最大正向输出电流IAF

IN4001250V<0.7V5.0nA1A

IN40022100VWO.7V5.0uA1A

IN400721000VWO.7V5.0uA1A

IN4148^100VWO.7V5.0uA150mA

BAV99275V<0.7Vl.OnA215mA

拟制：审核：批准：

日期日期日期

广东顺德长品版本：第三版

来料检验标准文件编号:WI/HV-12-010

电子有限公司受控状态：

修改页：

二极管IN4148第10页共53页

抽样来料检验标准：

依据MIL-STD-105D-II；MI：AQL=1.5；MA：AQL=0.65；CR：AQL=0.4

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

二极管：D6-D7IN4148

序检验

检验标准及要求AQL检验方法

号项目

丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测

1外观

元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破

元件体MI目解

损。

钢尺或游标卡

2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA