2025年高职通信（光纤熔接技术）试题及答案

2025年高职通信（光纤熔接技术）试题及答案

（考试时间：90分钟满分100分）班级______姓名______第I卷（选择题共40分）答题要求：本大题共20小题，每小题2分，共40分。在每小题给出的四个选项中，只有一项是符合题目要求的。1.光纤熔接技术中，决定光纤传输特性的主要因素是A.光纤的材质B.光纤的制造工艺C.光纤的几何尺寸D.光纤的折射率分布2.单模光纤的特点是A.芯径大，可传多种模式B.芯径小，只能传一种模式C.传输容量小D.色散大3.在光纤熔接过程中，清洁光纤表面的目的是A.使光纤外观更美观B.防止灰尘进入熔接机C.确保熔接损耗最小D.便于观察光纤4.光纤熔接机的电极寿命与以下哪个因素关系最大A.熔接次数B.熔接时间C.环境温度D.光纤类型5.熔接损耗的主要来源不包括A.光纤本征损耗B.熔接处的损耗C.光纤弯曲损耗D.光纤拉伸损耗6.以下哪种光纤熔接方式适用于紧急抢修A.热熔接B.冷接C.机械连接D.混合连接7.熔接损耗的测量方法中，精度最高的是A.剪断法B.后向散射法C.插入损耗法D.OTDR法8.光纤的数值孔径反映了光纤的A.抗弯曲能力B.抗拉伸能力C.集光能力D.传输速度9.熔接前对光纤进行端面处理时，切割长度一般为A.5-10mmB.10-16mmC.16-20mmD.20-25mm10.光纤熔接机的熔接模式设置主要依据A.光纤的颜色B.光纤的型号C.熔接损耗要求D.操作人员的习惯11.多模光纤的传输距离一般比单模光纤A.长B.短C.一样D.不确定12.熔接过程中，放电时间过长会导致A.熔接损耗减小B.光纤碳化C.熔接损耗增大D.电极寿命延长13.光纤的拉伸强度主要取决于A.光纤的芯径B.光纤的包层C.光纤材料的分子结构D.光纤的长度14.以下哪种情况可能导致熔接损耗增大A.光纤端面平整B.熔接机放电参数合适C.光纤清洁良好D.光纤放置位置不正15.熔接完成后，需要对熔接处进行A.打磨B.抛光C.清洁D.加热16.光纤熔接技术中，影响熔接损耗的外部因素不包括A.环境湿度B.环境温度C.光纤的弯曲半径D.光纤的制造工艺17.单模光纤的截止波长是指A.光纤开始传多模的波长B.光纤开始传单模的波长C.光纤停止传光的波长D.光纤传输损耗最小对应的波长18.熔接损耗的单位通常是A.dBB.dBmC.WD.m19.光纤熔接机的放电电流大小会影响A.熔接损耗和熔接时间B.光纤类型C.熔接环境D.光纤的颜色20.以下哪种光纤适合长距离大容量传输A.多模光纤B.单模光纤C.塑料光纤D.阶跃型光纤第II卷（非选择题共60分）（一）填空题（共10分）答题要求：本大题共5小题，每小题2分，共10分。请将正确答案填写在题中的横线上。21.光纤熔接技术主要包括光纤的清洁、______、熔接和______等步骤。22.光纤的损耗主要包括吸收损耗、散射损耗和______损耗。23.熔接损耗的计算方法主要有剪断法、______和______。24.光纤熔接机的主要组成部分包括______、______、放电电极和监测系统等。25.单模光纤的模场直径一般在______μm左右。（二）简答题（共20分）答题要求：本大题共4小题，每小题5分，共20分。简要回答问题。26.简述光纤熔接前需要进行哪些准备工作。27.说明熔接损耗产生的原因。28.如何选择合适的光纤熔接模式？29.简述熔接后如何对熔接处进行质量检查。（三）计算题（共10分）答题要求：本大题共1小题，共10分。解答应写出必要的文字说明、计算过程和答案。30.已知某光纤熔接处的熔接损耗为0.5dB，若该光纤传输光信号的功率为1mW，求经过熔接处后光信号的功率。（四）材料分析题（共10分）答题要求：本大题共2小题，每小题5分，共10分。阅读材料，回答问题。材料：在一次光纤熔接工程中发现，熔接后的光纤传输信号出现衰减异常。经过检查，发现熔接处有明显的碳化现象，且熔接损耗较大。进一步分析发现，熔接时放电时间过长，导致光纤局部过热。31.请分析熔接时放电时间过长对光纤造成了哪些影响？32.针对此次熔接问题，提出改进措施。（五）综合应用题（共1题，共10分）答题要求：本大题共1小题，共10分。结合所学知识，解决实际问题。33.某通信线路需要熔接一段单模光纤，已知光纤的型号为G.652，要求熔接损耗不超过0.3dB。请设计一个熔接方案，包括熔接前的准备、熔接过程中的操作要点以及熔接后的检查内容。答案：1.D2.B3.C4.A5.D6.B7.A8.C9.B10.B11.B12.B13.C14.D15.C16.D17.B18.A19.A20.B21.端面处理、损耗监测22.弯曲23.插入损耗法、后向散射法24.熔接腔、加热模块25.926.准备工作包括清洁光纤表面，去除灰尘、油污等杂质；准备好合适的熔接机及相应工具；对光纤进行端面切割，保证切割长度合适且端面平整；根据光纤型号设置好熔接机的参数。27.熔接损耗产生的原因有光纤本征损耗，如材料吸收、散射等；熔接处损耗，包括端面不平整、熔接参数不合适等；外界因素影响，如环境温度、湿度变化，光纤弯曲等。28.根据光纤的型号、熔接损耗要求以及熔接环境等因素选择合适的熔接模式。一般来说，对于要求较高的熔接，选择自动优化模式；对于紧急抢修等情况，可选择快速熔接模式，但要注意保证一定的熔接质量。29.熔接后对熔接处进行质量检查，可通过观察熔接处外观是否正常，有无碳化、气泡等；用熔接损耗测试仪测量熔接损耗，看是否符合要求；还可通过后向散射法观察熔接处及附近光纤的损耗情况，判断熔接质量。30.根据熔接损耗计算公式：熔接损耗（dB）=10lg（输入功率/输出功率），已知熔接损耗为0.5dB，输入功率为1mW，可得0.5=10lg（1/输出功率），lg（1/输出功率）=0.05，1/输出功率=10^0.05，输出功率=1/1.122≈0.89mW。31.放电时间过长导致光纤局部过热，造成熔接处有明显的碳化现象，使光纤的结构和性能发生改变，从而导致熔接损耗增大，影响光纤传输信号的衰减，出现衰减异常。32.改进措施包括严格控制熔接时的放电时间，按照熔接机的操作规范和光纤型号设置合适的放电参数；在熔接过程中加强监测，及时发现异常情况并调整；熔接前对光纤进行更充分的清洁和检查，确保光纤状态良好。3