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文档简介

路198号太湖光子科技园11号楼-18F-EP2144052A1,2010.01.13JP2010151803A,2010和/或下方;第二光源设置在检测区域的待检测于检测区域的所述待检测产品的上方和/或下2所述图像采集机构与所述安装基座连接;所述图像采集机构包括第一所述第一光源位于检测区域的所述待检测产品的上方和/或下方;所述第二光源设置入射并贯穿所述待检测产品;所述图像采集元件位于检测区域的所述待检测产品的上方所述传输机构将所述待检测产品传输至所述检所述图像采集机构的第一光源和第二光源交替闪亮,照射所述待所述第一光源照射下所述采集图像显示的亮斑,经所述第二光源照射所述第一光源照射下所述图像采集机构的采集图像中显示的亮斑,当待检测产品表面的缺陷为凸点时在所述第二光源照射下所述采集图像显示的亮斑稍稍大所述安装基座具有与所述检测区域位置对应的检测通孔;所述第一光源所述输送装置用于将待检测产品依次输送至所述所述传输机构包括用于检测待检测产品位置的传感器;所述安装基座上所述侧光源安装件设置有沿垂直于所述输送装置的输送方向延伸的侧光源安装凹槽;3所述侧光源安装件连接有一对遮光板;一对所述遮光板设置在所述检测通孔的上方,且一对所述遮光板之间的间隙与所述检测区所述主动轴安装座包括主动轴安装座本体、主动轴安装座压盖和连接所括支撑连接所述第一光源和所述图像采集元件的图像采所述采集支架的底部可滑动的连接在所述采集滑轨上,所述采集所述采集旋转件可转动固定连接在所述采集连所述第一光源或所述图像采集元件分别与所述采集旋转件可拆装所述采集调节件与所述采集旋转件可拆装连接;沿垂直于所述采集旋转件的转动方所述第一光源或所述图像采集元件分别通过所述采集调节件与所述采集旋所述第二光源的光线能够与所述待检测产品所述操控装置和所述显示装置均设置在所述机箱上,所述操控装所述换气装置和所述警示装置均设置在所述机箱的外部;所述换4[0009]所述第一光源位于检测区域的所述待检测产品的上方和/或下方;所述第二光源5[0018]所述侧光源安装件设置有沿垂直于所述输送装置的输送方向延伸的侧光源安装[0031]所述第一光源或所述图像采集元件分别通过所述采集调节件与所述采集旋转件67发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不解为指示或暗示相对重要性。述术语在本发明中的具体含义。位于检测区域的待检测产品400的上方,或者第一光源270位于检测区域的待检测产品4008的待检测产品400的上方和下方均设置有第一光源270,以提高待检测产品400缺陷检测的[0068]第二光源271设置在检测区域的待检测产品400的侧面,第二光源271的光线能够从待检测产品400的侧面入射并贯穿待检测产品集元件272位于检测区域的待检测产品400的上方,或者图像采集元件272位于检测区域的待检测产品400的下方,或者图像采集元件272位于检测区域的待检测产品400的上方和下过第二光源271的光线平行入射待检测产品,直接或者与其他检测手段配合后更容易发现表面的缺陷为灰尘时在第二光源271照射下采集图像显示装置150和用于传输待检测产品400的输送装置120;驱动装置110通过传动装置150驱动连[0078]输送装置120用于将待检测产品400依次输送至检测通孔3109对传送带121沿着输送装置120的输送方向依[0081]第二光源271的位置与传送间隙相对应,且第二光源271的光线能够穿过传送间件130设置有用于固定第二光源271压接件,以便于将第二光源271牢固的固定在侧光源安装置120的输送方向依次间隔设置在安装基图像采集元件272采集待检测产品400的图像的质量,以及提高待检测产品400缺陷检测的[0094]参见图4和图5所示,可选地,传输机构100包括与安装基座300连接的导向装置动的导向通道,在输送装置120的入口处或出口处的导向通道的通道口尺寸大于其他位置板162位于第一导向板161和检测通孔310之间;也即第一导向板161位于输送装置120的入[0103]采集支架220的底部可滑动的连接在采集滑轨210上,采集支架220的顶部连接采连接件230可拆装固定在采集支架220的不同高度。通过采集支架220的底部可滑动的连接[0104]采集旋转件240可转动固定连接在采集连接件230上;通过采集旋转件240与采集[0108]采集调节件250与采集旋转件240可拆装连接;沿垂直于采集旋转件240的转动方250可拆装固定在采集旋转件240的不同位置。通过采集调节件250能够固定在采集旋转件[0109]可选地,第一光源270或图像采集元件272分别通过采集调节件250与采集旋转件[0121]图像采集机构200的第一光源270和第二光源271交替闪亮,术特征也适用于该缺陷检测方法,上述已公开的缺陷检测设备的技术特征不再重复描述。

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