《数字电子技术》-实验教案22集成逻辑门电路的参数测试_第1页
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文档简介

课时授课计划课号：课题：集成逻辑门电路的参数测试目的与要求：1、掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。2、进一步熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。重点与难点：理解TTL及CMOS电路的主要参数的测试方法及和参数的意义。教学方法设计：重复讲解万用表的使用方法及在本次实验中的使用注意事项。教具：数字逻辑实验箱DSB-31台。万用表一块74LS20CC4012各一块2CK114只电阻及导线若干课堂讨论：TTL与非门闲置输入端的处置方法现代教学方法与手段：复习（提问）：授课班次：课时分配：实践教学环节课堂组织课堂讨论提问讲解实验注意事项操作辅导布置作业时间分配（分）25530453用实验箱、万用表作一个实验示范，并强调测试方法及万用表的用法实验二集成逻辑门电路的参数测试一、实验目的掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。进一步熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱DSB-31台2、万用表2只3、元器件：74LS20（T063）CC4012各一块2CK114只电阻及导线若干三、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）1、TTL与非门74LS20静态参数测试导通电源电流ICCL和截止电源电流ICCH。测试电路如图2-1。74LS20为双与非门，两个门的输入端作相同处理。测得ICCL=12mA，ICCH=1.6mA图2-1图2-2低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH。每一门和每一输入端都测试一次。测试电路如图2-2。参数1A1B1C1D2A2B2C2DIIl（mA）1.11.21.11.01.01.11.11.0IiH（uA）9999109982、电压传输特性。调节电位器RW，使Vi从0V向5V变化，逐点测试Vi和VO值，将结果记录入下表中。测试电路如图2-3。图2-3Vi（V）0.30.511.21.31.351.41.451.51.61.72.43.6VO（V）3.63.632.72.42.11.61.31.00.70.30.30.33、CMOS双四输入与非门CC4012静态参数测试将CC4012正确插入面包板，测电压传输特性。测试电路和方法同上，输出端为空载测量。将结果记录入下表中。Vi（V）00.5122.32.42.452.52.552.62.734.55VO（V）55555555000000四、实验结果分析（回答问题）1、测量TTL与非门输出低电平时要加负载，因为要求集成块有一定带负载的能力，而TTL与非门输出低电平时会有较大负载电流。图2-3中R选用360Ω是根据最大允许负载电流为：扇出系数（8）×低电平输入电流IiL（1.6mA）得到的。若R很小会使负载电流过大，无法得到正常的输出低电平。2与非门输入端悬空可以当作输入为“1”，因为悬空相当于Ri=∞，由输入端负载特性可得此结论。3、TTL或非门闲置输入端的处置方法：与其它输入端并联；接地。4、实验中所得ICCL和ICCH为整个器件

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