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文档简介

1注:GB/T27025—2019检测和校准实验2%)34下,谱峰最大强度不能可靠地测量谱峰的总强度,但可以选择另外的方法测量,例如测量谱峰面积可能获得可靠的结果。这些化学态效应对于低能量的X射线谱峰的影响直于电子探针的轴旋转试样并观察对峰形和峰位的影响来检查。极化效应可能在对称性低于立方晶系和高于5),e注:将原文“X-raylineofshorterwavelengthisgenerallynotaffectcontamination,orcoatingmaterial:较短波长的X射线通常不受试样的修改为“X-raylineofshorterwavelengthisgenerallylessecontamination,orcoatingmaterial:较短波长的X射线线通常受试6注:如果探针电流不能准确测量,死时间能通过在两个谱仪上测得的两个X射线强度比作为计数率函数进行78应保存仪器记录和每个测试结果,测试报告应符合ISO/IEC17025:2017中7.8.2的要求。测);9Zm=0.025(Ei1.7-Ek1.7)×ma/ρZd——分析面积直径(μm);De——入射电子探针直径(μmZm——X射线产生深度(μm);Z=ΣiciZima=Σicima,i注:公式(B.1)中的常数通常用0.033或者0.025,常数0.025和0.033分别为近似95%和99%的特征X射线产生的深度ZJi=9.76zi+58.5z0.19弹性散射概率:ni=CipQiL

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