【《芯片光谱测试系统的实现分析案例》1100字】

芯片光谱测试系统的实现分析案例目录TOC\o"1-3"\h\u32178芯片光谱测试系统的实现分析案例 1251331.1实验平台的搭建 182151.1.1实验所用器件 1104911.2入射光偏振态的测量 41.1实验平台的搭建 本实验要通过最大的插入损耗及最大的不平衡性对90°光混频器的传输特性进行表征。因此要对光混频器的输入端光功率及各个输出端的光功率进行测量。实验的结构图如图8。图81.1.1实验所用器件实验平台搭建中用到的激光源及功率计使用Agilent公司的81960A，功率计为Agilent公司的81635A，偏振控制器使用的为PSG-001。光源81960a:81960a内置的光源波长测量计可以为用户提供对有源波长的控制;具备连续扫描模式和波长记录。81960A的主要参数如下：功率计81635A：功率计的主要参数如下：偏振控制器：实现偏振态的控制与转换PSG-001简介：产品：高速偏振态发生器（PSG）功能：在250s内产生6中偏振态（-45°0°45°90°以及右旋和左旋圆偏振光）的一种，误差小于0.1°应用：基于米勒矩阵的偏振分析、偏振光时域反射计、性能监视、扫描测量偏振旋转特点：偏振态转化时间短，小于等于250s重复度小于等于0.1°控制信号为6bit的TTL，简单方便紧凑，易于集成偏振控制环：由于不同的时刻在光源进行测量时,光源输出的偏振态都会有一些微小的改变,偏振控制环的功能为对光源输出的偏振态和耦合器输出的偏振态进行了调整,以保证每次测量时在偏振控制器的相同状态下输出相同的偏振态的光。耦合器：耦合器是在测量偏振态的实验中用到的。在测量偏振态时，首先要通过透镜将光聚焦在功率计的探测器上，此时用可见的红光调光路的聚焦，之后用可调谐光源对偏振态进行测量。在调整好聚焦之后，耦合器原本连接红光的一端在测量的过程中会连接一个光阱。1.2入射光偏振态的测量实验过程中先对偏振态进行测量，如图9，连接好光路。图9偏振态测量的实验平台结构图激光源为偏振态测量提供光源；偏振运动控制器主要是通过其对于输入输出状态的一种转换方式来自由驱动控制改变一个输出输入光的偏振运动状态;功率计用来测量通过检偏装置后的光功率的大小；透镜的作用为将光聚焦在功率计的探测器上，进而进行功率的测量；红光，由于其可见，所以用作调整聚焦过程的光源；耦合器的作用为将红光接入光路。偏振态测量过程如下首先红光进行聚焦的调整，移动透镜的位置使输出光通过透镜聚焦在功率计的探测器上。测量过程中首先PSG的状态选择State1，此时检偏器旋转到90°（假设State1为TE模式），调节光源输出端与耦合器输出端的偏振控制环使功率计示数达到最小；其次保持PSG的State1不变，分别旋转检偏器到180°、270°、0°测量其功率值。最后只改变PSG的状态到State2（TM模式），重复以上测量步骤。测量结果如下：State1：TE0°：1.30dBm90°：-35.6dBmEXT：31.9dB180°：1.84dBm270°：-32.50dBmEXT：34.34dBState2：TM0°：-31.45dBm90°：1.91dBmEXT：33.36dB180°：-32.17dBm