软件指南与数据处理

1、,软件应用介绍,赛默飞世尔科技 2008.11 广州 Xin.Z,软件应用指南,PlasmaLab V2技术特点 操作简单，模块化设计 智能软件设计，自动功能强大 易于调节和校正 灵活的方法编辑和模式切换 详细的数据处理和显示功能 灵活的实验报告生成 工程师界面，各种参数显示和实验日志 整合了瞬时信号处理功能,操作简单，模块化设计,三个大的部分：仪器设置，工程师监控，方法编辑和处理 仪器参数设置简单，各种参数存储于计算机内。 工程师监控可以监控仪器历史日志以及做分辨率调整。 方法编辑和处理功能强大，包括数据库编辑，新建方法，Copy方法，利用模板生成方法，等等。,数据库编辑,可以编辑数据库如下

2、内容： 能够测定的质量数范围 每个元素的丰度以及默认的测定质量数 多原子离子种类 干扰校正公式（自然丰度或经验稀释校正）,方法编辑,打开已有的方法，可以追加样品列表、继续实验或处理已有数据。 新建方法，应用于新的方法的编辑 连续进样，常规全元素定量 Profile时间相关信号，激光连用分析 Transient时间相关信号，色谱连用分析 Copy方法，应用于经常重复测定的实验室，可以从已经编好的方法中生成新的方法 从模板中建立方法，模板主要是一些验证仪器性能的具体实验方法。,软件应用指南,PlasmaLab V2技术特点 操作简单，模块化设计 智能软件设计，自动功能强大 易于调节和校正 灵活的方

3、法编辑和模式切换 详细的数据处理和显示功能 灵活的实验报告生成 工程师界面，各种参数显示和实验日志 整合了瞬时信号处理功能,智能软件设计，自动功能强大,PICO软件-智能控制进样和冲洗,提高分析效率,是否需要提示，配合自动进样器则无需提示,自动功能-performance report,Performance report 谱图扫描 谱线位置 谱峰宽度 灵敏度测试 稳定性测试 干扰和其它指标测定 仪器参数列表 适合校验仪器，或者作为仪器状态记录,软件应用指南,PlasmaLab V2技术特点 操作简单，模块化设计 智能软件设计，自动功能强大 易于调节和校正 灵活的方法编辑和模式切换 详细的数据

4、处理和显示功能 灵活的实验报告生成 工程师界面，各种参数显示和实验日志 整合了瞬时信号处理功能,灵活的内标设置功能,两种内标可供选择 一般内标 常规的在线加入或者事先添加的内标，监控仪器的回收率，并加以校正 内部稀释标准 在样品处理过程中加入的内标，通过自动计算，监控样品处理的回收率，并自动对样品分析结果进行校正,PlasmaLab 满足法规要求,单键即可开始 mass calibration 以及 cross calibration，简单方便。,完善的Cross Calibration功能,内部交叉校正和外部交叉校正可以同时获得 一般情况下，较长时间未作外部cross calibration

5、，可能会导致模拟脉冲误差较大，此时采用方法内部的内部交叉校正，可以保证结果更加准确。,软件应用指南,PlasmaLab V2技术特点 操作简单，模块化设计 智能软件设计，自动功能强大 易于调节和校正 灵活的方法编辑和模式切换 详细的数据处理和显示功能 灵活的实验报告生成 工程师界面，各种参数显示和实验日志 整合了瞬时信号处理功能,元素选择,跳峰模式元素选择，注意：公式校正中的元素自动选择,扫描模式元素选择，也可在质量轴上选择,X系列ICPMS仪器的软件,PICO -数据采集技术跳峰与扫描混合型,在线模式切换,灵活的参数设置和选择,高分辨和标准分辨率切换,同时完成扫描和跳峰测定（定性和定量）,P

6、lasmaLab软件中的QC功能,EPA标准方法中的QC要求 与X系列仪器中的QC软件,定量方式选择,采用外部漂移校正，多个校正模块时使用 采用全定量分析的元素，可以进行错误校验，分别是线性误差和线性相关系数校验,可选择定量按照元素总量，或者按照同位素（对于样品与标准同位素丰度一致的情况，两种选择没有差别）,软件应用指南,PlasmaLab V2技术特点 操作简单，模块化设计 智能软件设计，自动功能强大 易于调节和校正 灵活的方法编辑和模式切换 详细的数据处理和显示功能 灵活的实验报告生成 工程师界面，各种参数显示和实验日志 整合了瞬时信号处理功能,数据处理过程和数据异常的判断分析,实验开始前

7、，需要保证编辑方法正确： 足够的进样时间和冲洗时间 完整的内标元素选择和待分析元素同位素选择 考虑到样品中存在的基体以及可能的干扰 必要的校正公式选择或CCT条件 合理的数据采集时间和次数 合理的样品列表，定量方法选择以及质控,进样和冲洗,足够的进样时间和冲洗时间 根据进样管路的长度，进样时间有所差别，一般为30s40s 可以通过监控窗口，观察进样的情况 也可以使用PICO功能自动监控冲洗和进样过程,完整的内标元素选择和待分析元素同位素选择 实现考虑到样品中存在的基体以及可能的干扰 必要的校正公式选择 按照分析元素范围选择合理内标，内标强度需要考虑到足够稳定且不受样品干扰 对于已知基体样品，进

8、行质量数选择时要尽量避免测定干扰质量数 考虑公式校正或CCT技术进一步抑制干扰的产生,合理的数据采集时间和次数 合理的样品列表，定量方法选择以及质控 仪器默认的数据采集时间10ms，单点跳峰 对于信号较弱的元素延长采集时间以获得更好的RSD，3或5点跳峰，避免质量数偏差的影响，多元素分析总采集时间控制在20s/Run以上为好 内标法中默认为内插校正，既把内标响应汇成曲线校正待测元素，选择是否作为内标校正曲线的一部分,数据处理和数据异常的判断,数据处理过程分析 软件中提供了完整的数据处理功能 结果中包含 分别为元素分析浓度C，原始计数I，校正后强度Ic 校正过程如下： 内标校正原始计数强度，I=

9、I*Its% 通过校正方法校正空白， Ic =I-Iblk 通过线性Ic =KC得到分析物浓度 经过稀释倍数校正和特殊空白扣除，C=C*Predilution-Cblk,定量方法选择,全定量 常用的定量方法（可以采用水或样品基体配置曲线） 线性可以采用绝对和相对标准偏差校正 空白可选择强制空白，零点和无强制 半定量 在缺少某些标准时使用 选择类似的元素生成的半定量曲线更为有效 标准加入 可以完全避免基体影响，且无需内标 无样品空白时，必须使用此法（比如高纯水和高纯试剂分析） 由于假设空白为零，因此必须保证多原子离子干扰的去除,可能出现的线性异常,空白偏高，可能沾污 某个点较差，一般由于进样不稳

10、定造成 检查各个同位素灵敏度比值，是否和同位素丰度一致，如果不一致一般为多元素混合标准造成 高标偏离，可能是Cross校正不佳造成 使用多个来源标准,可能出现的结果异常-失败分析举例,举例：高纯Ga样品分析 分析元素种类较宽，从Be到Bi，采用Rh作为单个内标。采用了回测标准的方法作为QC，一般样品采用1000倍稀释测定，也采用了不同倍数稀释进行对比。,单内标校正的误差的判断 内标抑制非常严重，对于1000倍稀释的样品，甚至达到了60%以下，因此对于多种元素的测定，采用单内标，校正误差可能极大 5ppb标准反测结果良好，但是却不能保证真实样品结果正确 Cu的10倍稀释后的结果显示，稀释后测定结

11、果明显高于直测结果 稀释10倍后，加标3ppb回收基本正常 合适的稀释倍数，合理的内标选择是良好的实验数据的基础,可能出现的结果异常-失败分析举例,不同内标响应的差异,0.2%TDS的消解LiF样品溶液中的内标响应的差异，当基体抑制效应发生时，往往轻质量元素的抑制效应更强,X系列ICP-MS仪器的软件灵活易用的方法编辑,样品列表设定,标准浓度设定,定量方法设定,X系列ICP-MS仪器的软件多种多样的数据显示,X系列ICP-MS仪器的软件多种多样的数据显示,X系列ICP-MS仪器的软件,分析物同位素分布比（自然同位素分布） 干扰物同位素峰拖尾（同位素丰度灵敏度） 干扰物同位素干扰百分比,ICP-

12、MS干扰判断方法,软件应用指南,PlasmaLab V2技术特点 操作简单，模块化设计 智能软件设计，自动功能强大 易于调节和校正 灵活的方法编辑和模式切换 详细的数据处理和显示功能 灵活的实验报告生成 工程师界面，各种参数显示和实验日志 整合了瞬时信号处理功能,报告输出格式丰富,报告格式选择,调整打印的尺寸 打印内容 选择预览方式 预览生成的报告 导出报告 存储报告为XML格式,软件应用指南,PlasmaLab V2技术特点 操作简单，模块化设计 智能软件设计，自动功能强大 易于调节和校正 灵活的方法编辑和模式切换 详细的数据处理和显示功能 灵活的实验报告生成 工程师界面，各种参数显示和实验

13、日志 整合了瞬时信号处理功能,状态监控和工作日志-工程师现场工作前的重要信息,记录完成或未完成的实验以及所有的出错信息,实时显示部分,实时显示部分,分辨率的调节以及显示,软件应用指南,PlasmaLab V2技术特点 操作简单，模块化设计 智能软件设计，自动功能强大 易于调节和校正 灵活的方法编辑和模式切换 详细的数据处理和显示功能 灵活的实验报告生成 工程师界面，各种参数显示和实验日志 整合了瞬时信号处理功能,瞬间信号处理软件-PlsamaLab TRA功能,二大类瞬间信号处理软件 Transient TRA Profile TRA,Transient TRA功能-方法编辑,元素选择，采集参数设定 内标选择,Transient