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天津市瑞思光学 Mail: QQ: 2209294661 RA200颗粒分析仪颗粒分析仪说明书天津市瑞思光学仪器有限公司致力于微观分析仪器的开发与生产。公司开发的RA200系列颗粒分析仪具有方便、准确、直观的特点,弥补了现有同类仪器的缺陷。 RA200颗粒分析仪可以全面客观的反应颗粒的粒径、粒型的全面量化参数，并且可以给出其他分析方法的对应报告结果（沉降法、电阻法、激光法）达到一机多用的作用。该仪器可为微粉、磨料、金刚石、碳化硅、光伏等生产加工企业提供良好的产品质量信息和生产工艺的技术支持。图像颗粒分析仪对单晶硅切割工艺的意义： 我们新近研发的图像颗粒分析仪可以准确分析切割单晶硅、多晶硅所用碳化硅粒型及粒径，比现有市场上电阻法更精确 更直观，弥补了只能检测单一粒径的缺陷。 现有分析碳化硅颗粒使用的电阻法颗粒分析仪，分析结果是颗粒穿过小孔后,小孔内电阻发生变化来推断颗粒粒径大小结果较抽象、报告简单，不能分析整体粒径粒型的全面数据。 碳化硅颗粒的形状直接关系到单晶硅、多晶硅的产品质量，即碳化硅颗粒的形状变化可以影响到单晶硅、多晶硅的切割效率、切割的成品率。图像颗粒分析仪可以分析粒型的全面参数（颗粒圆度、椭圆度、等效圆 、长宽比等）。 图像颗粒分析仪对于单晶硅、多晶硅企业产品质量控制、工艺过程监控提供良好的技术支持。图像颗粒分析法这种检测手段日益引起单晶硅、多晶硅切割与碳化硅生产企业的重视。RA200颗粒分析仪主要功能如下：RA200
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