ITO导电玻璃检验标准

1、精心整理1.0范围本标准准适用于正星光电科技有限公司生产的ITO产品。2.0规范性引用文件2.1JISB0601 1994表面微观波纹度测量过程和方法的标准。2.2GB2828-2003计数抽样检验程序第一部分按照接收质量限（AQL检索的逐批才验抽样计划3.0玻璃基片的规格3.1长度及宽度的允许偏差、厚度允许偏差表厅P检验项目标准范围测量方法1长度/宽度士 0.20mm数显游标卡尺2厚度1.10mmt 0.1mm0.70mmt 0.05mm0.55mmt 0.05mm0.4/0.33mm ± 0.05mm千分尺3垂直度<0.10%宽座角尺和塞尺3.2垂直度玻璃基片的垂直度的公差

2、等级a/L00.1% （见图1, a为公差带，L为被测玻璃基片的相应边长）图1玻璃基片的垂直度3.3 弯曲度（h/L）；图2玻璃基片的弯曲度，不允许 S形弯曲3.4微观波纹度（玻璃的浮法锡面）微观表面波纹度的数值Rt的最大值应符合表2要求厅P厚度玻璃类型弯曲度微观波纹度11.10mm1 1 J非强化<0.10%< 0.15um/20mm强化<0.20%20.70mm非强化<0.15%< 0.20um/20mm强化<0.25%30.55mm非强化<0.15%< 0.25um/20mm强化<0.30%40.4/033mm非强化<0.15%

3、< 0.30um/20mm强化<0.30%3.5 磨边倒角:_ I L b切角磨边示意图r型边,77 C - L/ /、向,编P项目标准要求检验方法1C型倒边0.05mm< 帖 0.4mm10倍放大镜2R型倒边宽度:0.1mm w 此1.0曲半径：Rw 50mm10倍放大镜3标识角b=2.0 ± 1.0mmc=5.0 ± 1. 0mm10倍放大镜4相同角A=1.5± 0.5mm10倍放大镜5崩边长< 1mm宽w 0.3mm深度w 1/2基片厚度10倍放大镜6破裂不允许目测7边、角未磨不允许目测3.6 表面质量包括内部气泡、夹杂物、表面凹坑、

4、异色点等。点状缺陷的直径d定义为：d= (L+W /2 ,见图5。划伤缺陷的定义为：L3mm,W0.03-0.07mmL图6:图5点状缺陷的尺寸 图6划伤图形的尺寸3.6.1 双面ITO产品表面质量检验标准No缺陷分类A品标准范围B品测量方 法1内部气泡、杂质 点、针眼、污点、 锡斑、亮点、表 面凹凸点、颗粒 d=(W+L)/21d< 0.05mm不计0.05<d w 0.20mm最多 2 个/片d>0.20mm不允许D 0 0.2mm,10 个/片，允 许;D>0.2mm,不允许.裸眼 1000LUX(30W3 光灯) 光照条 件 距离玻 璃 30cm(注：客 户有特

5、 别要求 的，以客 户要求 为准)2玻筋日光火卜不可见3划伤''1 1宽度 W 0.03mm,不计;0.03mm < W 0.07mm,单个长度w 3mm,1条/片允 许;W>0.07mm,不允许.1 1W 1mm单个长度w 100mm,1条/片 允许.单个长度w 50mm,2 条/片允许.单个长度w 10mm,5条/片允许.单个 长度& 5mm不计.间隔距 离 100mm上 W>1mnm 允许.41 J污染使用专用清洗剂经过正常清洗过程后清洗不干净的沾污/、允许5膜层针孔d=(L+W)/2d< 0.05mm不计0.05<d w 0.20m

6、m最多 2 个/片d>0.20mm不允许d< 0.05mm不计0.05<d w 0.20mm最多 10个/片d>0.20mm不允许6毛边.锡斑.发霉批量性.表面看比较明显不允许7手指印超出边缘5mm批量性可擦拭不允许8亮道划伤.污渍.手指印.轮印偶尔1-2片日光灯不可见允许，批量性日光灯不可见不允许。9颜色日光灯检验有异色不允许10漏镀ITO不允许11裂纹不允许12结疤不允许13玻璃屑不允许14粘附力不允许15质量保证区允许边缘5mm质量保证区域以外，即四周边缘5mnmA内区域除崩边角，裂纹、毛边较严重以外的其他种类缺陷（包括划伤、气泡、针眼、污渍、节疤）可以不考虑。离

7、玻璃30cm检验图6检验方法3.7膜层质量3.7.1电阻测试：距边缘20mnffl四探针检测面电阻3.7.2镀ITO导电玻璃膜层参数指标高温产品检验标准产品规格电阻范围 / 口透过率刻蚀时间膜厚颜色HTP500Q400500>94%W20S120? ±30?淡紫红-淡蓝色XYTP500Q400500>90%W20S120? ±30?无色透明XY双面ITO止面60120，反面180-300>87%W30S止面：250? ±50?反面:150? ±50?无色透明XY双面ITO止面80120，反面200-300>87%W30S止面：25

8、0? ±50?反面:150? ±50?无色透明TP500Q400500>90%W20S120? ±30?无色透明TP400Q350450>90%W20S120? ±30?无色透明150a100150>87%W20S220? ±50?无色透明100a80 100>87%W30S250? ±50?无色透明90 a70 90>87%W30S250? ±50?无色透明80 a60 80>86%W40S300?土 50?无色透明60 a40 60>84%W60S350?土 50?无色透明50

9、a40 50>82%W60S450?土 50?无色透明40 a30 40>82%W60S500? ±100?无色透明30 a25 30>81%< 100S700? ±100?无色透明25 a20 25>80%< 120S800? ±100?无色透明20 a15 20>80%< 140S900? ±150?无色透明17a13 17>82%< 140S1100?± 150?淡黄色-金黄色15a10 15>82%< 180S1250? ±200?淡紫红-紫红色10a71

10、0>82%< 250S1800? ±200?青蓝色7a47>77%< 300S2500? ±200?紫红色5a35>78%& 350S3100? ±400?绿色低温产品检验标准产品规格电阻范围Q / 口透过率刻蚀时间膜厚热稳TFTW 1000Q500-700>97%W20S120 ±50?120 c 烤 1HK 110%150a100-150>87%W30S250 ±50?150 c 烤 1HK 110%120a80-120>87%W30S300土 50?150 c 烤 1HK 110%1

11、00a80-100>87%W30S300土 50?150 c 烤 1HK 110%90 a70-90>87%W35S300土 50?150 c 烤 1HK 110%80 a60-80>86%W40S350土 50?150 c 烤 1HK 110%70 a50-70>86%W60S400±100?150 c 烤 1HK 110%80 a40-80>86%W60S400±100?150 c 烤 1HK 110%60 a40-60>84%W65S400±100?150 c 烤 1HK 110%50 a40-50>84%W65S4

12、50±100?150 c 烤 1HK 110%40 a30-40>82%W70S600± 200?150 c 烤 1HK 110%30 a20-30>81%< 105S800± 200?150 c 烤 1HK 110%15a15>80%< 210S1500 ±500?150 c 烤 1HK 110%3.8可靠性实验3.8.1ITO膜层可靠性实验序号实验项目测试标准范围检验方法1刻蚀 时间0 10A/秒亥U蚀液成分： HCL H2Q HNO3=50 50: 3,亥U蚀温度：55±2C2热稳定性Rt/R0 &

13、300%条件：烤烘温度 300 C 30min(TN/STN)Rt/R0 <110%高温ITQ条件：烤烘温度 180c 60min(TP/HTP)Rt/R0 <110%低温ITQ(QGS)条件：烤烘温度 150 c 60min(XY)3耐碱性Rt/R0 <110%10%NaQH60 5min4耐酸性Rt/R0 <110%6%HCL 25 c 2min5耐溶剂性Rt/R0 <110%IPA、内酮或酒精 25c 5min6附着性无掉膜使用百格刀在基板上划 1*1mm方格，用3M610#交带粘玻璃7耐磨性无开路用橡皮1公斤力摩擦玻璃1000次8耐湿性Rt/R0 <

14、110%60 C, 90%RH 48H9水煮膜层无开裂及脱落纯水100c时间24HNa+w 15ug/dm2,纯水 96±2 C 48H(LCD产品)备注：R0为实验前电阻，Rt为实验后电阻3.9 检测方法操作3.9.1510 2阻挡性能水煮试验（用于LCD产品，只做半年频次检测）在96±2C进行48小时水浴锅，将试验溶液装好送外检测，测量基片中迁移出来的钠离子质量，若Na例量MK15ug/dm2,则SiO2阻挡层试验合格.3.9.1511 能在波长为550nm时，不同规格ITO玻璃成品的透过率满足3.7.2。3.9.3510 2膜层厚度SiO2膜层厚度为250? 

15、7;50?。（也可根据客户要求而订）3.9.3511 能（做日频次检验）不同规格ITO导电膜玻璃的方块电阻及ITO膜层膜厚应符合3.7.2 。3.9.3512 能测试（做日频次检验）a)b)c)酸刻液配制：酸刻液按如下比例配置：H2O:HCL:HNO3=50:50:3（体积比），实际按纯水100ML:盐酸（36%）100ML:硝酸6ML 配制；将此刻蚀液入刻蚀烧杯内，保持温度为55 c ± 2 C将玻璃片切成约 40mmX120mm：条状，用D水清洗，冲洗、吹干后，放入刻蚀液中蚀刻；产品的蚀刻时间测定按3.7.2执行，产品在规定的时间全部刻蚀掉ITO膜层，说明该产品ITO膜层酸刻指标

16、合格.不同规格的ITO导电膜玻璃经上面酸刻试验，ITO导电膜层在刻蚀性能上满足3.7.2要求；则刻蚀性能指标为合格。3.9.3513 定性测试（只做月频次检测）a）耐碱性（只做月频次检测）在温度为60±2C、浓度为10%勺氢氧化钠（分析纯）溶液中浸泡5分钟后，ITO导电膜层方块电阻值应不超过原方块电阻值的110%.b）耐酸性（只做月频次检测）在温度为25±2C的6%勺HCL的溶液中浸泡 2分钟后，ITO导电膜层方块电阻值应不超过原方块电阻值的110%.c）耐溶剂性能（只做月频次检测）在丙酮（分析纯）、无水乙醇（分析纯）或 100份去离子水加3份EC101配制成的25c清洗液

17、中浸泡5分 钟后，ITO导电膜层方块电阻值应不超过原方块电阻值的110%3.9.3514 （只做周频次检测）用胶带贴附在膜层表面并迅速撕下，ITO膜层无损伤，证明膜层附着力合格.3.9.3515 性（做日频次检测）在大气状态下放于 300c ± 30C加热炉中，恒温加热30分钟后，在大气中自然泠却，ITO导电膜层方块电阻值应不大于原方块电阻值的300%3.10 公司采用GB2828.1-2003抽样方法进行抽样检验以迎合客户的需要。抽样检验的AQL值和IL值见下表。如果正星光电技术有限公司批量产品因品质问题在客户处出现特采、退货、换货等情况，则客户有权要求正星 光电技术有限公司对产品

18、在下表所示的抽检标准的基础上进行加严检验。No检验项目AQLIL1规格N=5R=1R/A2垂直度N=5R=1R/A3表面质量1.0I4翘曲度N=5R=1R/A5磨边倒角N=5R=1R/A6平向度N=5R=1R/A7透过率N=5R=1R/A8面电阻1.0f I9膜层性能N=5R=1R/A3.10.1本公司的测量设备经过周期检定，可以追溯至国家标准或国际标准，以保证测量数据的准确性。3.10.2本公司对出厂的产品提供出厂检验报告，为客户提供真实，准确的产品参数以方便客户使用。4.0包装和标识4.1 正星光电技术有限公司的产品使用标准包装，可以根据客户要求更换包装。4.2 包装描述4.2.1 玻璃与

19、玻璃之间采用隔条间隔或采用拷贝纸间隔，以防止玻璃间的相互滑动造成划伤。4.2.1.2 使用隔条间隔时，1.1mm 0.7mn 0.55mm、0.50mn 0.40mm规格均为10片每包，上下各放一张厚度不小 于1.1mm的挡板玻璃（挡板玻璃确保磨边无锐角），用热塑膜对玻璃进行包裹形成玻璃小包装。4.2.1.3 使用拷贝纸间隔包装时，1.1mm为20片每包，0.7mm为25片每包，0.55mm 0.5mni 0.4mni 0.3mm均为30片每包。4.2.2 正星光电技术有限公司使用木箱包装玻璃，木箱底层泡沫厚度不小于30mm四周的泡沫厚度不小于30mm中间的泡沫厚度不小于 30mm我司将小包装装入木箱。木箱盖先用铁钉固定，再用三根包装钢带扎紧， 且钢带位置固定在箱盖加强筋上，确保箱盖不张开。4.2.3 为了塞紧玻璃