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文档简介

1、内应力、亚晶粒大小和显微畸变 内应力材料的内应力:当产生应力的各种因素不复存在时(加外力己去除，温度己达均匀，相变已停止等)，由于不均匀的塑性变形或相变而使材料内部依然存在的并自身保持平衡的应力。内应力分类宏观应力(残余应力): 在物体较大范围或许许多多晶粒范围内存在并保持平衡的应力。它能引起衍射线的位移。微观应力:一类是在一个或少数晶粒范围内存在并保持平衡的内应力，一般能使衍射线条变宽但有时亦会引起线条位移，另一类是在若干个原子范围内存在并保持平衡的内应力，它能使衍射线强度减弱。内应力残余应力对材料性能的影响: 对材料的疲劳强度、静强度、抗蚀性、尺寸稳定性、相变、相变、磁性、电阻、内耗等均有

2、影响。有的甚至造成灾难性的破坏。造成残余应力的因素: 各种冷热加工或工艺处理(如切削加工、装配、冷拔、冲扎、喷丸、铸造、焊接、热处理、电镀等等) 。残余应力测定的意义: 通过应力测定，可以检查应力消除工艺的效果，检查表面强化处理工艺的效果，在评价材料强度、控制加工工艺、检查产品质量、分析破坏事故等方面都将是有力的手段。X射线应力测定原理无残余应力时:当多晶材料中的晶粒度均匀、取向无规、且无残余应力存在时，则各取向不同的晶粒相同晶面的面间距是相同的，也就是说不同方向同一晶面的衍射角是相同的。有残余应力时: 则各取向不同的晶粒相同面间距是不相同的，其变化是与宏观应变联系在一起。X射线应力测定原理

3、X射线应力测定的最基本的思路: 是把一定应力状态引起的晶格应变认为和按弹性理论求出的宏观应变是一致的。而晶格应变可以通过布拉格方程由x射线衍射技术测出，这样就可以从测得的晶格应变来推知宏观应力。10 亚晶粒大小和显微畸变的测定10.1 衍射线的宽化10.1.1 晶粒细化的的影响10.1.1 晶粒细化的的影响谢乐公式（Scherrers formula)半高宽（FWHM）K=0.94,为谢乐推导时得出的常数，假定晶粒为等大的立方体。后来布拉格重新进行了推导，假定晶粒为板状晶体，k=0.89.当晶体为球状晶体时，k=1。谢乐公式当用积分宽度进行计算时，K1.积分宽度10.1.2 “显微畸变”引起的宽化“显微畸变” 与内部应力10.1.2 “显微畸变”引起的宽化样品垂直于(hkl)面网方向上的平均晶粒畸变大小(upper-limit mean strain)宽化效果的叠加10.1.3 几何宽化 （仪器）WGY(2q) = (W G) STopas:TOtal Pattern Analysis Solutions基本参数法确定晶粒细化及显微畸变的步骤由标准样品的谱线拟合出几何宽度拟合出实测样品的总宽度计算出

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