CN119471082A 故障检测电路、电子设备、自检方法和车辆 （比亚迪股份有限公司）

本申请提供了一种故障检测电路、电子设号参考值生成待测模块的初步检测结果；控制过向待测模块发出检测信号并获取响应信号的电子设备进行故障检测并准确地对故障进行定2控制器(110)，用于向所述待测模块(200)输入检测信号，并基于述待测模块(200)预设的信号参考值生成所述待测模块(200)的初步检所述控制器(110)，还用于当所述初步检测结果中包括所述待测模块(位得到的故障定位结果作为所述待测模块(200)的最终的故障检测结果，所述故障检测结待测模块(200)存在故障时的故障定位信息以及3.如权利要求1所述的故障检测电路，其特征在4.如权利要求3所述的故障检测电路，其特征在于，所述选择电路还包括第二选择器所述第二选择器(132)，将多个待测模块(200)的信号采集传感器(120)输出的信号测5.如权利要求1所述的故障检测电路，其特征在于模块(200)的多个初步检测结果中包括至少一个故障信息时，基于所述故障信息对应的信号测量值和所述信号参考值确定相应的信号采集传感器(6.如权利要求5所述的故障检测电路，其特征在于，所述传感器(120)未发生故障；当所述信号测量值与所述信号参考值的差值小于等于所述第一当多个初步检测结果中包括故障信息且所述多个检测信号的信号测量值不在所述预9.一种具有自检功能的电子设备，其特征在于，所述3控制器向待测模块输入检测信号并通过信号采集传感器得到所述待测模块输出的响所述控制器基于所述信号测量值与所述待测模块预设的信号参考值生成所述待测模向待测模块输入检测信号并通过信号采集传感器得到所述待测模块输出的响应信号所述控制器发出第一选择信号和检测信号，控制所述第一选择器将向待测模块输入检测信号并通过信号采集传感器得到所述待测模块输出的响应信号根据所述控制器发出的第二选择信号，控制所述第二选择器将障信息对应的信号测量值和所述信号参考值确定相应当多个初步检测结果中包括故障信息且所述多个检测信号不在所述预设数值范围内45[0003]由于产品成本的限制，目前电子设备的自检通常仅针对能够监测运行状态的模模块预设的信号参考值生成所述待测模块的初步检6[0014]所述第二选择器，将多个待测模块的信号采集传感器输出的信号测量值作为输[0019]当多个初步检测结果中包括故障信息，且所述多个检测信号在预设数值范围内[0020]当多个初步检测结果中包括故障信息且多个所述检测信号的信号测量值不在所一个或多个待测模块和如上第一方面任一项所述的[0024]控制器向待测模块输入检测信号并通过信号采集传感器得到所述待测模块输出[0025]所述控制器基于所述信号测量值与所述待测模块预设的信号参考值生成所述待选择电路包括将多个待测模块作为输出的第[0029]向待测模块输入检测信号并通过信号采集传感器得到所述待测模块输出的响应7[0032]向待测模块输入检测信号并通过信号采集传感器得到所述待测模块输出的响应述故障信息对应的信号测量值和所述信号参考值确定相应的信号采集传感器是否发生故[0041]当多个初步检测结果中包括故障信息，且所述多个检测信号在预设数值范围内[0042]当多个初步检测结果中包括故障信息且所述多个检测信号不在所述预设数值范响应信号的信号测量值，基于信号测量值和预设的信号参考值进行故障检测和故障分析，[0046]通过结合附图对本发明实施例进行更详细的描述，本发明的上述以及其它目的、8运行状态信息进行模块软/硬件的检测，对无法进行状态监测的模块默认该模块功能正常预设的信号参考值生成待测模块200的初步(ApplicationSpecificIntegratedCircuit，ASIC)、可编程逻辑器件(Programmable9程逻辑门阵列(Field_programmableGateArray，FPGA)、通用阵列逻辑(GenericArray[0067]控制器110可以通过内置的数字模拟转换模块(Digitaltoanalogconverter，DAC)或者外部的数字模拟转换电路向待测模块200的检测线路输入检测信号，该检测信号[0070]举例来说，当检测信号是电压检测信号时，待测模块200输入端输入电压检测信[0071]故障检测电路100中的信号采集传感器120可以是电压互感器、电压霍尔传感器[0072]控制器110可以通过内置的模拟数字转换模块(Analogtodigitalconverter，ADC)或者外部的模拟数字转换电路接收信号采集传感器120输出的响应信号，基于响应信号的信号测量值与待测模块200预设的信号参考值生成待测模块200的初步检测次检测后则可定位故障在于传感器。而当控制器通过信号采集传感器对多个待测模块200[0077]这里故障信息是指输出的响应信号的信号测量值与预设的信号参考值之间的差[0081]举例来说，待测模块200存在故障时的故障类型可以是软件故障也可以是硬件故[0082]根据本申请的实施例，控制器用于当初步检测结果中包括待测模块的故障信息[0089]图2是根据本申请第一实施例的故障检测电路的示意性框图。根据本申请第一实[0090]第一选择器131，将多个待测模块作为输出，用于根据MCU111发出的第一选择信[0091]第二选择器132，将多个待测模块的信号采集传感器的输出的信号测量值作为输[0092]本实施例中，第一选择器131和第二选择器132可以是多路选择器(M择器131选择相应的待测模块输出该电压检测信号，待测模块输出相应的电压响应信号后经电压传感器采集得到输出电压值，第二选择器132将输出电压值输出至MCU111的ADC模[0096]需要说明的是，故障检测电路中的检测支路的个数可以[0098]图3是根据本申请一实施例的具有自检功能的电子设备的示意性框图；如图3所[0099]该电子设备通过向待测模块200发出检测信号并获取待测模块的响应信号，基于[0100]图4是根据本申请一实施例的电子设备的自检方法的示意性流程图，该方法应用设的信号参考值进行故障检测和故障分析，从而不仅能够及时地对电子设备进行故障检[0110]图5是根据本申请第一实施例的电子设备的自检过程的算法流程图。根据本申请[0118]控制器向待测模块输入检测信号并通过信号采集传感器得到待测模块输出的响[0119]控制器基于信号测量值与待测模块预设的信号参考值生成待测模块的初步检测[0130]本实施例中针对有故障的模块，会在控制器检测完后重新循环检测没通过的模[0136]图6是根据本申请第二实施例的电子设备的自检过程的算法流程图。根据本申请信号和响应信号均为电压信号，信号采集传感器为电压传感器，控制器为内部具有DAC和路选通器。MCU通过第一MUX多路选通器和第二MUX多路选通器与多个待测模块连接，第一出的第二选择信号，控制第二MUX多路选择器将相应的电压传感器采集得到的待测模块的[0142]在步骤S630，ADC采样获取电路输出的电压信息，其中电压信息中包括输出电压[0150]在步骤S680，将故障信息上传至运行有电子设备管理系统或监控系统的上位机或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的物品分析设备中的一些模域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情