APD的特性和调试方法.ppt

1、a,1,APD的特性I,输出信号,光线,偏压，通常为3-5V,PIN-TIA的接收机,输出信号,光线,偏压，通常为30-60V,APD-TIA的接收机,Ipd,M*Ipd,M为放大倍数，为偏压的大小来控制,1A/1W -6dbm 0.25mW 0.25mA -30dbm 0.001mW 1nA,M=10 -30dbm 0.001mW 10nA,a,2,APD的特性II,a,3,APD的两种VBR版本,a,4,APD的最佳偏压值的选择办法-单温度点,要点： 在某个M值的位置，灵敏度达到最大； 小于这个M值时候，因为电流放大的比例不够，导致灵敏度下降； 当大于M值的时候，因为APD的噪声增加，也导

2、致灵敏度下降,a,5,APD的M值的调整办法,现有的模块中，我们有通过一个DAC的寄存器值来调整反偏的电压； DAC值的范围为0-255； DAC值越大，电压越小； DAC值越小，电压越大；,a,6,最佳温度点的选择-测试环境,81250,OUT,IN,SFP测试板,光源 模块,T,R,直流电源,电调衰减器 单模,宽带耦合器 单模,SFP测试板,待测 模块,T,R,光功率计,直流电源,PC机,送入临界点的光功率， 观察误码的特性,手动调节衰减器的衰减量，可以送入不同的信号强度进入待测模块,误码分析仪上可以观察误码率,PC机上改变偏压值， 获得最好的误码特性,a,7,最佳温度点的选择-测试结果,

3、偏压设定DAC值（DAC越大，电压越小）,使用一个略大于这个ROSA的极限的信号去测试不同M值下的误码率，如右图上的红线所示，可以观察到不同的误码率，最佳的M值，为测试中，观察到的误码率最小的点；,最佳点,a,8,误码率：误码数量/传输码的总数量,比如，我们传送1亿，10的8次方个数据，出现了1个误码，对应误码率，1/(1*E8)=1.0 E-8,比如，我们传送10亿，10的9次方个数据，出现了4个误码，对应误码率，4/(1*E9)=4.0 E-9,1.25G 1.25*E9 ，如果误码率为1E-11，就是说传送了E11个码才有一个误码，E11/(1.25E9) = 100/1.25 = 80

4、秒； 第一个80秒，没有误码，第二个80秒，出现2个误码；,a,9,最佳温度点的选择-要点-测试信号强度的选择,如果测试信号太大：会观察到没有误码的区间，无法选取最佳点,a,10,如果测试信号太大：可能存在一个绿色的区域，虽然有误码，但是误码出现的概率很小，可能4-5分钟都观察不到一个，几乎没有办法用于生产的测试；,最佳温度点的选择-要点-测试信号强度的选择,a,11,如果测试信号太小：各个测试点间的误码率的相对差异比较小，不容易评估并选择最佳点；过大的误码率也容易导致误码分析仪失去锁定；通过反复的调节衰减器的值，可以找到这个合适的输入信号的位置,最佳温度点的选择-要点-测试信号强度的选择,90：100,10：20,a,12,理想的输入信号，要求实际测量的误码率控制在10的-10次方的级别；基本上，通过30秒到1分钟左右，误码分析仪上，就可以得到一个稳定的误码率的数据； 通过调整衰减器的衰减系统，可以找到这个合适值的位置，目前的情况看，大概在-35dbm到-37dbm之间,最佳温度点的选择-要点-测试信号强度的选择,最佳点,a,13,1.25G的测试情况下，假设，统计，每8秒出现一个误码； 对应误码率，1/ (8*1.25E9)= 1E-10,a,14,APD的温度特性I,a,15,APD的温度特性II,a,16,APD的偏压选择办法-多温度点,灵敏度,温度,高温,