C6000 测试项目介绍

1、C6000測試程式項目分類,一般測試 ： 1. Input/Output 2. Dynamic 3. Sync Dynamic 12. Hold on adjust 14. Static 25. Sync Dynamic2 Regulation 測試 ： 4. Load REG. 5. Cross REG. 6. Line REG. 7. Combine REG. 20. Total REG. Timing 測試 ： 8. Turn on 9. Hold up 15. Extra Timing 保護測試 ： 10. OLP 11. OPP 18. Short circuit 19. OVP/U

2、VP 特殊測試 ： 13. EXT Wave 17. EXT Meas. 21. Cycle dropout 22. Vin ramp 23. Fin ramp 24. AC Noise C.T.,INPUT/OUTPUT TEST ( 1 ),輸出入特性測試 用以量測待測物在靜態負載條件下其輸入端及輸出端的特性。 量測的資料： 輸入端： Iinrms、Iinpk+、Iinpk-、Pin、Eff、Pf、Vin 輸出端：Vdc、Vpp、Vn、Pdc、Idc,INPUT/OUTPUT TEST ( 2 ),Iinrms :待測物的輸入電流均方根值 Pin :待測物的輸入實功率 Pdc :待測物總輸

3、出功率 Eff :效率（用表示） Eff= ( Pdc / Pin ) X 100% Pf :待測物輸入端功率因素 Pf= Pin / (Vin(rms) X Iin(rms) ) Delay Time =當前項並沒有重大變化時，時間可以設稍短一點，約0.5sec即可 Meas. Time =必須要設3sec左右,Dynamic Test (1),動態特性測試 用以量測待測物在動態負載條件下的輸出特性,Dynamic Test (2),PERIOD-1 與 PERIOD-2系用SA內的振盪器產生的，其誤差為100ppm,所以任何兩部SA間的偏差有可能到200ppm,因此對多組輸出的電源供應器若

4、需要負載同步變化時，建議使用同步動態特性測試（Sync Dynamic Test),Dynamic Test (3),Sync Dynamic Test,同步動態特性測試 本測試之 “PERIOD-1” 及 “PERIOD-2” 係由第一組之SA產生並供給其他各組之SA以達到各組負載皆能同步的狀態。 第一組SA背板25Pin D-Type接頭的Pin 1要接到所有其他SA背板同一接點的Pin 14，以達到各部Switcher Analyzer的負載同步變化的效果。,Sync Dynamic 2,同步動態測試2 本項測試和同步動態測試過程相同,惟有量測值略有不同，量測的資料 Vpk(H)、Vpk

5、(L)、Vspike(H)、Vspike(L)的定義如左圖,Hold On Adjust Test,在線電壓調整 允許在線調整待測物的內部線路以達到正確的輸出電壓或 OLP跳脫點。 本項測試過程中在調整迴圈時SA一直量測Vdc並將之上傳給電腦。,Static Test (1),靜態測試 本項測試與Input/Output Test 基本相同，隻是此項測試不讀取輸入端的量測值,Static Test (2),Delay time:視前項參數有無太大變動，而去設定Time的長短 Meas. Time:本項不量測輸出量測值，所以可視SPS而定，設定時間的長短。 在S/A量測中每5ms讀取一次，連續8

6、次所得之平均值，顯示在屏幕上、解析度14bit 在設定Slew rate方面，建議當負載大於3A時Slew rate 設為0.1A/s ，負載小於3A時 Slew rate 設為0.01A/ s .,Load Regulation Test (1),負載效應測試 用以檢測待測物某一組輸出，在其他各組輸出的負載保持固定時，給予三種不同負載大小，其電壓的反應特性,Load Regulation Test (2),Delay time 一般設為0.5sec即可，依Power特性可以設得更短，甚至0.1sec Load Regulation 一般先由 I/R-1 中載 ，再 I/R-2 重載 ，最後

7、I/R-3 輕載 dV(+) 及dV(-)可設百分比值 Vdc Max及Vdc Min SPEC 一般設定5%,Cross Regulation (1),交叉負載效應測試 用以量測當待測物中其他組輸出電源的負載變化時對某 一特之輸出電壓的影響。,Cross Regulation (2),與Load Regulation 不同之處，在於選擇任一組輸出，做固定拉載，而其它各組做3種不同負載，量測因其它各組不同得加載對其電壓特性的影響,Line Regulation Test (1),電源效應測試 用來量測輸出Load 負載固定，而輸入Line Voltage變動，來觀察Vin 的變化對輸出的電壓特

8、性的影響。,Line Regulation Test (2),所有的待測物在測試全程中依指定負載大小加載。 當本項測試完成後，輸入埠之設定會自動回復到上一個測試程序的設定值。 系統不允許第四個輸入埠和第1、2、3輸入埠一起使用，當發生這種狀況時，系統會有警示訊息告知。,COMBINE REGNLATION TEST (1),混合效應測試 本項測試是以三種不同輸入電源和三種不同的負載狀態測試去量測輸出電壓特性,COMBINE REGNLATION TEST (2),測試時間約6sec.（如Delay Time =1 sec , Meas. Time =1 sec時） Vin-1 配合I/R-1

9、Vin-2 配合I/R-2 Vin-3 配合I/R-3 相當於進行3次Static Test相連,TOTAL REGULATION TEST (1),總效應測試 本項測試是結合電源效應測試，負載效應測試在各種條件下進行的測試 Change Load Off Time :當負載狀態改變時，關閉待測物的時間 Change Vin Off Time :當輸入條件改變時，關閉待測物的時間,TOTAL REGULATION TEST (2),Cycle :本項測試重復次數，最大可設10次 Delay Time :視前項是否有重大變化，若無可將時間設為0.5 sec. OR 0.1 sec.,Turn O

10、N 同時亦可量測穩定時間(Tsb)或過沖電壓（Vos)並與設定的Vb進行比較。 EMU亦同時可量測在輸入電源加到待測物前360ms內之輸入湧浪電流。,Turn ON & SEQUENCE TEST (3),開機相位角延遲“ON Phase delay”及關機相位角延遲“OFF Phase delay”係指開機或關機時加入或切斷待測物之輸入電源之延遲時間,其單位為毫秒(ms)其計算的起點為交流電源由正半週要進入負半週電壓為零時之點 EMU 可以設定任何相位開機。 由於AC Source 是以負緣開機，所以在量測90開機時，要往後挪3/4周。在此為何要設定 90 開機，因為SPS Power在Vi

11、n 90 時Inrush電流最大。 +90 開機 ：16ms x =12.4ms (60Hz) 20ms x =15ms (50Hz),Turn ON & SEQUENCE TEST (4),S/A 後背板 TTL pin (1) Trigger 1 表示AC ON/OFF 時間由（601or602)控制 (2) Trigger 2 表示PG信號 (3) Trigger 36 為客戶自行設定，需在硬體上配合接線。 (4) Trigger 7 表示Va臨界電壓值，為S/A內部比較信號 (5) Trigger 8 表示Va臨界電壓值，為S/A內部比較信號,S/A 後面板 TTL PIN 25-pi

12、n D Type connector Pin1 : DY CTRL Pin2 : AC SYNC Pin3 : Va Pin4 : Vb Pin5 : TTL GND Pin6 Pin13 : ABCD 光耦信號 Pin14 : DY CTRL Pin15 : JIG RDY Pin16 : TRIG 1 Pin17 : TRIG 2 Pin18 : TRIG 3 Pin19 : TRIG 4 Pin20 : TRIG 5 Pin21 : TRIG 6 Pin22 : TTL GND Pin23 : N. C. Pin24 : EX WAVE Pin25 : ANALOG GND,量測各組的R

13、ise time,可利用設定各組的Va.Vb值來測量 以+5V觀察1090%的時間，此時設定Vb=0.5V ,Va=4.5V Start Trigger ON :8 End Trigger ON: 7 LEVEL : H,Turn ON & SEQUENCE TEST (5),量測Ton Time 方法 Start Trigger ON: 1 (EMU 控制AC Source ON/OFF) End Trigger ON: 7 (Va 設定開機臨界值） LEVEL : H,量測PG Time 方法 Start Trigger ON: 7 (Va 設定開機臨界值） End Trigger ON:

14、 2 (PG信號） LEVEL : H,Turn ON & SEQUENCE TEST (6),Tsb(Stable time) Choose Vos 是以Vb 為基準，會顯示VosVb or Vos100ms,Vos check設為Yes,這是在檢查，在100ms內電壓是否有超過Vb設定值，一般而言，Vb=Vos。若END trigger 為Va 時，Tsb設為100ms，Vos Check設為No，這是在檢查，在100ms內電壓是否有低於Va設定值，一般而言Va(undershoot)。 綜上所述Vos Check(Yes/ON),用戶可自行選擇是否需Check。,HOLD UP & SE

15、QUENCE TEST (1),關機測試 用以量測待測物在關機時之暫態特性。 待測物加載到所要的負載大小，並持續一段時間“Delay Time”，此段時間用以使待測物達到穩定的工作狀態。 在先前的“Turn on & Sequence”程序或“Set Up”程序設定的相位角(Off Phase dalay)關掉待測物的輸入電源。,HOLD UP & SEQUENCE TEST (2),因為保護測試後Delay time要設長一點時間，故最好不要將此項（Hold UP)放在保護測試項目之後。 Hold up若放在測試程序中間時，必須考慮UUT OFF TIME的時間，但若將Hold up放在最後

16、一項時，可建議UUT OFF time的時間設定越短越好 基本上Hold up 和Turn on的參數設定相當類似，隻是在時序上一個是開機，一個是關機。,EXTRA TIMING TEST (1),附加點時序測試 用以測試待測物某物些由外加的信號所控制的功能，檢測該項功能Enable(Ton)或Disable(Thd)的時序 本項測試與Turn ON及Hold up類似，唯一不同之處在於測試過程中，並未將Vin關閉 可透過EMU 的Relay或TTL Port來遙控SPS的輸出電源開啟或關閉,EXTRA TIMING TEST (2),PS-on信號由此項設定 從S/A 後面板25Pin-Dt

17、ype的Pin18 (Trigger3)和Pin25(GND) 分別與SPS的PS-on和GND相連，利用EMU的Float Relay控制PS-on信號；在程序中設定 Start Trig ： 3 H End Trir ： 7H,OLP TEST (1),過載保護測試 量測待測物在過載狀況下某一組輸出的反應特性 Delay Time 指當I/R start開始拉載後延續多少時間，在於因為Power拉載時，需要一段時間穩定，但是當在做OLP時，若前項參數已經將Power開啟，並延續一段時間了，這個時候本項OLP的Delay time就可以設短一點，0.5sec即可或更短。若前項為關機項目，需重

18、新開機拉載，此時就要考慮Delay time,因為一般Power 的100msPG time500ms,OLP TEST (2),UUT OFF Time 當Power為Auto-recovery型時UUT OFF Time可設為0 當Power為Power OFF reset型時UUT OFF Time可設為0 Volp: OLP的臨界電壓點，表示若低於此電壓值，就可發生OLP，但是千萬不要設0值，因為在線路上可能會有雜訊，所以設0V會有困難。 OLP Trip Point:觸發保護的電流值范圍max及min。 Trip Time( Tolp):從開始拉載過載電流到電壓下降至Volp的時間。

19、 當Vrec=*時，表示此Power 是Power of reset 型。,OLP TEST (3),若測試的Power為Auto-recovery型，當要測OLP時必須設定： (1) I/R recovery: 在Power Short down後，必須再設一些拉載電流，才可以使Power重新拉載，設定輕載即可 (2) Trec :當過載條件消失後，到輸出電壓回到Vrec點的時間 (3) Vrec :當Power 恢復到設定的臨界電壓，當到達此值才能重新開機 在測試OLP此項參數時，要以重載做拉載值 I/R start=設定值最好比重載稍高一些 I/R END =設定值最好比OLP Trip

20、 Point max值高一些，比OLP Trip Point min值低一些。,OPP Test (1),過功率保護測試 各組輸出皆加載，使其總功率過載 Delay time :當OPP前項並無太大的變化時，可將Delay time設定時間稍加縮短，若前項為保護項目，則必須注意OPP的Delay時間 UUT OFF Time:是發生在Power保護時。時間稍設定長一些，如3sec，用意在於當power shunt down後，需要放電，當如此設定的話，下一項參數如有一開始要設定UUT OFF time,就可以設短一點。,OPP Test (2),OPP point:過功率保護跳脫點 T opp

21、:從發生過載的負載加載到觸發Vtrig的時間 Vtrig：所設V值會影響量測時間，Vtrig 點就是當輸出電壓降到此點，表示OPP動作。 Vtrig port:利用M1M10, L1L6來當作OPP跳脫觸發測量點。（注：一般M1代表Load1,在公司出貨時治具已經將M1M6與L1L6並接） I/R rec :是指Auto-recovery型Power,在發生OPP後，電壓恢復到Von點所需加載的負載電流大小 V-disable :所謂Vdisable的量測目的在於S/A 偵測輸出組發生OPP時V down到多少值，用以判別SPS是否真有down下來 若還需額外量測，可以利用M1 M10 or

22、L1L6去偵測,SHORT CIRCUIT TEST (1),短路測試 量測待測物其中一組輸出短路時待測物之反應特性 I/R 可設定為重載 Short Time :設定0.1sec即可，實際短路時間比此值略長100ms。 動作方式：Relay先搭上，再經Short time,在量完M1M10後，Relay才放開。,SHORT CIRCUIT TEST (2),I sc-rms :可視為Current Limit 若要量測I sc-rms值，short time最好設定要大於0.55 若要量測Pin值，short time最好要大於3sec，才可量測到較精準的Pin值。 Vdisable: 在“

23、Short Time”結束時待測物的輸出電壓。,SHORT CIRCUIT TEST (3),例如：當測試檔案中“Which Load”設定為1時，圖中之LOAD 1 Relay， SHORT RELAY，及Isc MEAS RELAY都接通以量測Icspk，當“Short Time” 結束時，DVM量測Iscrms。Iscrms量測完畢後Isc MEAS RELAY 斷路，INPUT MEAS RELAY接通以量測Pin、Iinpk+、Iinpk-之後EMU 執行10點量測(取自L1L6或M1M10)。,OVP/UVP TEST (1),過電壓低電壓保護測試 檢測待測物在輸出電壓過高或太低時之保護功能,必須以輕載測試，同時要注意I limit的設定（系因電壓上升或下降時，電流隨之變化，所以需設定限值，以防止DC Source電流太大） Meas. Delay after OVP/UVP trip:指在保護後多少時間再測量。 Release time:指OVP Source 與UUT之輸出切斷一斷時間。Auto recovery 型SPS 可不用設定Release time,OVP/UVP TEST (2),Vvp :當發生OVP/UVP跳脫時，OVP