ICP使用说明.ppt

1、IRIS INTERNET全光谱直读等离子发射光谱仪，IRIS INTERNET ICP光谱仪操作指南，tevatm程序应用介绍，I .程序主窗口，菜单栏，工具栏，例如，按此图标进入等离子点火设置对话框。数据显示区，状态栏，提供进入相应系统状态的命令。例如，分析方法和报告生成。程序功能介绍：TEVATM是一个功能强大、兼容且基于windows的应用程序。它可用于接收、处理、存储和报告来自“电感耦合等离子体光谱仪”的分析数据。该程序可与“IRIS无畏”系列及其升级产品一起使用。本手册描述了该程序的特点，并解释了如何使用分析方法和数据处理程序来确定复杂样品中的元素浓度。该程序具有广泛应用的特点，允

2、许您设置方法和顺序(控制自动进样器的样品顺序)，以达到所需的分析结果。要启动TEVA:单击Windows桌面上的TEVA图标，打开“欢迎来到TEVA”对话框；在欢迎对话框中输入用户名和密码，并提交给TEVA控制中心；管理员可以通过安全程序建立用户并设置用户权限。TEVA控制中心的作用：分析员获取数据，生成分析报告，列出主要活动，设置等离子点火条件对话框，设置仪器和设备参数对话框，3。分析协议摘要，TEVA应用程序设计使分析员能够控制等离子光谱仪，并监控用户选择的线路发出的射线密度。并能计算和报告此类产品中被测元素的浓度。整个分析程序的每个方面都由应用程序控制。分析协议描述了分析的整个步骤，以便

3、用户能够更好地理解程序是如何用来提供数据的。TEVA为用户提供了从操作角度选择以下方法的各种参数的能力：系统参数全局设置。例如，如有必要，等离子体高压和氩气流速可通过特殊方法改变。方法包括用于分析简单样本的给定分析程序的参数。该方法包括关于数据采集、处理和报告的信息。序列包括一些特定的参数，这些参数用于描述自动分析许多样本的特殊方法。这个程序由两个基本模块组成：分析师和出版商。第四，启动TEVA控制中心创建/编辑分析方法。单击窗口桌面上的“TEVA”快捷图标启动应用程序。“TEVA”控制中心对话框出现在我们面前。单击工作区中的分析师图标，打开分析方法选择对话框。单击发布者图标以格式化分析测试报

4、告。单击分析师图标打开分析方法选择对话框，单击发布者图标打开分析报告输出对话框，窗口桌面快捷方式，等离子体设置对话框，分析参数如：功率，雾化器压力，辅助气流设置。按下时，将显示当前状态，等离子体发射源的参数将在方法模式下设置。单击选项卡，在数据区显示源设置的参数设置对话框。设置了雾化器的工作参数，如泵流量、进样速度、延迟时间和泵管材料选择。6。等离子点火对话框，按此图标弹出等离子点火对话框，点击点火开始点火，7。它显示点火将正常进行，绿灯显示所有联锁装置如门、水、氩等。工作正常，等离子点火成功，指示工作状态，8。点火将在进行中完成，等离子发射成功，黄色灯显示正在进行中。九.点火成功，显示当前设

5、置，当前工作状态正常。按关闭键关闭对话框，并输入下一个未知样品测试。这些参数在等离子设置对话框中设置，该对话框是实验结束时按下的熄火按钮。十、测试结束后，按下熄火对话框，等离子发射熄灭。10.导出保存在数据库中的方法。此对话框也可以通过选择文件打开在菜单的l列中选择一个方法来打开。方法对话框中的所有方法都保存在系统数据库中，这些方法可以被锁定，因此不能被删除。锁定的方法可以再次打开、编辑和保存。如果锁定的方法被修改，它将被保存为新方法。出于安全原因，您可以锁定所有方法。单击对话框最左边的数字突出显示该列，并按状态栏中的锁定图标锁定该方法；按确定按钮打开保存在系统中的分析方法。单击序列号选择分析

6、方法，按确定打开它，单击所选方法上的图标锁定该方法。XI。方法介绍，该方法包含参数文件，并定义了特定元素定量分析的特殊协议(如所用的谱线、设备参数、这些标准信息的使用等)。)该方法可用于分析一系列样品。该方法包含一系列命令(如CID配置、文件存储和打印选项等)。)并且可以编辑。测试人员可以根据不同的预配置解决方案选择不同的标准分析方法和输出方法。(例如，未知样品、空白样品、标准样品和质控标准样品的参数设置以及分析报告的打印形式。所有分析方法都有预设参数，不能编辑。参数一修改，方法就改变，所以最好在使用之前保存方法。选择要分析的元素后，可以创建或编辑分析方法参数。对话框左侧列出了一系列方法。逐个

7、打开方法可以为测试元素定义适当的参数。对话框右侧的工作区将显示该方法的活动状态。12，方法选项卡，单击工作区中的分析师图标进入此对话框，您可以打开每个方法选项卡来设置分析参数。在方法模式下，第十三步。方法对话框的功能，用于描述整个分析程序的不同方面。每次输入方法时，都会弹出一个或多个对话框。自动输出和报告首选方法对话框提供了每个测试样本的类型；(例如未知样品、空白样品、标准样品、质控标准样品等。)；对于元素方法，可以为每个当前元素以及元素报告、一般报告、子阵列报告、标准报告和校准报告方法使用对话框。测试人员可以根据不同的预配置解决方案选择不同的标准分析方法和输出方法。所有分析方法都有预设参数，

8、不能编辑。参数一修改，方法就改变，所以最好在使用之前保存方法。一些对话框包含与特殊任务相关的参数；有些对话框包含两个或多个任务的参数，例如：标准对话框用于定义每个标准；序列自动化对话框用于描述有多个用户时定制的质量控制标准和后续序列，并包括自动进样器操作的基本参数。14。通过方法新建建立元素分析方法，选择新建打开元素周期表，选择要分析的元素，建立元素分析方法。在这种模式下，15。在元素周期表中选择要分析的元素、并在菜单栏中选择方法新建以显示元素周期表。您可以用鼠标左键单击要测试的元素，并为它们定义测试参数。(所选元素将以深灰色显示)。如果通过预测，所选元素的浓度范围可能会更大，则可以选择2行作

9、为方法；一种是用于低浓度样品的高强度线；另一种是高浓度样品的低强度线。对于每个元素，都有许多可以测量的线。选择波长线后，其干涉元素会列在左侧。从样品中实际观察到的这些线基于该元素的浓度和干扰、分析条件和强度。如有必要，您可以选择该元素的2-3行进行分析，以提供可靠的分析结果。16.测量选定的线并优化分析条件。从样品中实际观察到的谱线基于该元素的浓度和干扰、分析条件和强度。如有必要，您可以选择该元素的2-3行进行分析，以提供可靠的分析结果。如果通过预测，所选元素的浓度范围可能较大，可以选择2行作为方法；一种是用于低浓度样品的高强度线；另一种是高浓度样品的低强度线。如果不可能选择具有合适强度的线，

10、也就是说，该元素不能不受样品中其他元素的干扰，那么就有必要使用元素之间的校正。TEVA程序允许分析师选择优化分析的条件。如参数：功率强度、气体流速、压缩泵转速、待测样品数量和所用光源。TEVA获得每个元素的优化信号。该分析条件包含在该方法中，并且不同于等离子体设置条件。第十七章。分析首选项选项卡方法参数设置，指示样本的：采样时间延迟时间泵送时间。选择此选项卡打开分析师首选项方法对话框。有三种校正模式：浓度比总计达到100%,如果没有选择，积分时间将自动选择。分析积分时间最大参数设置包括：低波长到高波长扫描时间设置。水平和垂直方向扫描时间设置(默认波长由高到低转换为265纳米)，狭缝：紫外模式观

11、察方向：水平，选择三个ICPA次级汞灯作为光源，选择时自动添加样品名称；通过样品重量校正，分析员可以在“未知运行”、“运行”、“Qc标准”和“空白运行”对话框中输入每个样品的重量。用于手动设置等离子状态，当选择此选项时，等离子设置对话框将不可用；当使用工作方法时，通常使用此选项。一旦优化了状态，该选项将被输入到等离子体设置对话框中，并且该选项不能更改。18.分析首选项选项卡参数设置。分析参数选择对话框用于设置方法的各种常规参数。在样本选项框中：重复次数样本被分析的次数是取样次数(范围1-10次是可选的，一般为3次)；延迟时间插入和读取样本之间的间隔是缓冲时间(0-1000秒，一般为0秒)；样品

12、冲洗时间样品溶液流入一段时间(范围从1到1000秒，通常为10秒)；分析的最大积分时间最大积分时间：0.1-1000秒；波长从低到高转换的默认值为265纳米，可以通过“选项”对话框的“分析”选项卡进行更改。轴向和径向表示观察炬的方向是垂直的还是水平的，这与光源的选择有关。光源下拉列表选择框中有三个可选光源，即ICAP、自动视图和轴向径向。在全帧选项框中：如果选择了智能帧单选框，该波长的全频谱积分时间将自动完成；您还可以定义0.1-1000秒范围内的最大积分时间。(一般30秒)狭缝有两种使用模式，即紫外和通孔，默认模式为紫外。在光源选择框中：有ICAP光源、二次光源和汞灯光源，汞灯没有安装在IR

13、IS无畏系统中。(本实验选择ICAP光源。)如果选择自动增加样本名称，样本名称(如TEVA1、2、3)将自动连续添加。如果选择使用手动重量校正，分析员可以在运行未知、运行质控标准或运行空白对话框中输入每个样品的重量。使用样品重量校正手动设置等离子体状态；如果选中，等离子设置对话框将不可用；该选项通常被用作工作方法的扩展；一旦确定最佳状态，该选项将进入等离子体设置对话框，不能更改。19、注意保存方法，一旦方法被修改，注意保存它以备调用；一个方法可以保存多次。在方法菜单中选择保存或另存为，出现如图所示的对话框。有两种保存方法可供选择。此外，您可以选择锁定方法，一旦锁定就不能删除。、保存时输入方法名

14、、两个保存方法、和锁定方法。21.CID分析对话框拍摄全光谱。按图标弹出运行完整框架对话框。按“运行”开始拍摄。在紫外模式下，水平观察ICAP源的流动30秒。数据被自动保存在数据库中，以建立测量元素的新方法。21.收集的全光谱被导入工作空间。每个点代表一个收集的像素，该像素对应于一条线，该矩形区域中显示的线对应于测量样本中的元素，列出了系统中的方法元素和主线。22.确保一组像素与相应的线相对应，并选择“选择区域”来定义最小像素和最大密度，以便最佳地显示该线。当您选择此区域时，光标将显示一个“”符号。当你把鼠标放在你想看的区域的角落时，你可以拖动它。获取像素的矩形直方图。CIDD定性地分析了这些

15、因素。当像素和波长正确匹配时，将出现确认对话框。你可以选择是或否。如果没有匹配，只会出现一个确认对话框。23.定义样本中的元素。如果样品未知，全光谱报告是指在特定的时间周期内，在给定仪器的限制下，通过CID摄影检测到的所有显示线。这份全光谱报告有助于我们确定样品中的元素。全光谱报告上的每一点都可以视为提供了波长和元素；报告上的矩形表示所有可能的元素。例如，全光谱报告右侧的矩形比顶部显示的矩形低25%，波长为220.353纳米的线是金属铅。全谱报告可用于显示地震检波器(线对应于观察到的像素，详见第4章)。如有必要，您可以使用智能框架特性来引导系统整合一些信号，以便在最短的时间内获得最厚的线，从而不会出现饱和。对于每个元素，可以观察到许多线条。一旦样品中的元素被定义，用户可以根据相对浓度和潜在干扰为每个元素选择合适的线。例如，观察到三条线是金属锌(锡)；一旦选定一条给定的线，将显示该线的一系列潜在干扰。24.使用完整的斜坡图像来映射线，操作员可以设置三条线，这三条线对应于波长和像素。当您将矩形移动到所需线条的