MP1570A SONETSDHPDHATM分析仪.ppt

,MP1570ASONET/SDH/PDH/ATM分析仪,安立有限公司2019年12月6日,产品介绍,主要内容,MP1570A的概述主要功能及特点抖动和漂移测试功能（22.5Gb/s)安立10G抖动测试方案（MP1580A简介）,插件式结构支持PDH和SDH所有速率PDHCEPT:2M,8M,34M,139MDSnUSA:1.5M,45MSDH:52M,156M,622M,2488M,9953.28M重量轻，体积小操作简单沿用MP1552A/B及MP1550A/B的弹出式菜单方式系统升级方便（插件和FD)内置打印机和3.5英寸FDD,二.MP1570A概述,MP1570A插件结构,概述,Slot1,Slot2,Slot3,Slot4,Slot5,接口单元2/8/34/139/156MunitMP0121A1.5/45/52MunitMP0122A/B2.5GunitMU150008/9/10AAdd/DropunitMP0131A10GunitMU150000A/1A/2A应用单元ATMunitMP0123AJitter/Wanderunit2/8/34/139M,156/622MMU150005A1.5/45M,52/156/622MMU150006A2/8/34/139M,1.5/45M,MU150007A52/156/622M2.5GjitterunitMU150011A,MP1570A,概述,插件式结构灵活对应不同的用途,插件结构多种接口可选光接口1.31,1.55,1.31/1.55双波长电接口NRZ,CMI光单元均有光功率计功能可用MP1552A/B接口单元MP0121A,MP0122A,MP0124A,MP0111A,MP0112A,MP0113AMP0125A,MP0126A,MP0130A,MP0105A,MP0108A,AnritsuMP1552B,Optical156/622M(1.31)MP0111AOptical156/622M(1.55)MP0112AOptical156/622M(1.31/1.55)MP0113A电接口单元156MCMIMP0105ANRZ(156M/622M)MP0108A,概述,满足欧洲、北美及日本三种映射体制PDH复用/解复用功能(选件)误码性能分析功能PDHG.821,M.2100SDHG.826,M.2101,M.2110,M.2120快速的故障搜索功能,阵列式显示，一目了然。符合G.783的SDH指针调整发生功能所有速率的抖动及漂移发生、测试功能STM-4(VC-4-4c)1.5MATM测试自动测试条件匹配功能Dummychannel设定,三.主要功能及特点,MP1570A主要功能及特点,支持级联映射结构超强的通过模式完全符合ITU-T的测试APS倒换时间测试POS解决方案（IPoverSDH及IPoverATM(选件)）CID图形测试功能Noframepattern功能,MP1570A主要功能及特点,混合净荷多种误码/告警加入TCM功能(串联连接)可对SDH告警测试门限及恢复时间进行设置OH测试(捕捉,OH改变,PTR64帧,OHBERTS)K1,K2字节预设置两种通道踪迹设定APS捕捉功能。,其它功能,向/从线路信号中插入/取出1.5M,2M,34M,45M,139M,156M在线帮助功能,方便使用.自动序列测试RS232C,GP-IB,LAN接口,VGABmp格式的屏幕拷贝功能延时测试功能多种监测功能：线路频率实时监视、长期检测，光功率测试，OH监视，指针监视器等等。,支持级联映射,STM-64c,STM-16c,STM-4c,STM-1c,Bulk,Bulk,Bulk,Bulk,VC-4-16c,VC-4-4c,VC-4,支持从STM-1c到STM-64c的所有级联映射.,VC-4-64c,满足ITU-TG.783的SDH指针调整发生功能用于结合抖动的测试，可在加指针调整的同时在支路上加频偏,MP1570A主要功能及特点,Copy:复制测试通道的设定Dummy:虚拟通道的预设定,虚拟通道设定,超强的通过模式,四种通过模式.(STM-64),1)透明通过2)修改OH3)修改净荷4)Add/drop,DropandinsertinternalVC-4,VC-2,VC-12,VC-11signals.,DropandinsertexternalDS1,DS3,PDHsignals.,ModifytheSOH,POHbyte.AddvariousERROR/ARALM.,Forin-servicemonitoring.,混合净荷,TUG3,TU-3,VC-3,34M,例如:STM-1,如果将测试通道设定为VC-4TUG-3VC-334M映射,此时,另外2个TUG-3映射也可单独设置.,TUG3,TUG3,TUG2,TUG2,TU-,VC-,BULK,TU-12,VC-12,BULK,测试通道,Anotherchannel1,Anotherchannel2,VC-4,STM-1,Provider,Error,TCMsub-layer,Pathlayer,N1/N2,Checkerror(N1/N2),SONETorSDHLTE,SONETorSDHLTE,通过N1/N2字节进行线路监视(ITU-TRec.G.707)-断定各运营商之间的误码发生位置,串联连接(TCM),丰富的误码/告警插入及测试功能,Liner/ringsystemK1,K2字节的设定,进行协议的选择。,可进行助记(mnemonic)的设定。,G.841,G.783,APS测试,STM-64/OC-192Ring,STM-64/OC-192Ring,Fail,装置的APS倒换时间的测定(ITU-TRec.G783/841),K1/K2图形切换误码/告警添加,通过误码测试完成切换时间的测试,APS测定,50ms,APS测试,Errortrigger,APSswitchingtime,Thresholdtime,Error,28ms,8ms,1ms,28ms,1ms,28ms,10ms,1ms,10ms,8ms,Threshold=1msAPS=28ms,Threshold=10msAPS=37ms,APS测试,如右图所示，安立MP1570A在进行APS倒换时，可以选择多种触发方式，如：B1,B2,B3误码，AIS，LOP,REI,RDI等，并且从4.0版本以后增加了external(外触发模式），用BNC缆将MP0121A的erroroutput与MP1570A主体右侧下的triggerinput相连即可。外触发时对倒换时所有误码告警均进行计数。,APS测试,K1/K2Communication,A,B,A,B,APSSequence(A,Bwithframenumbers)Alarmgeneration(LOF,AIS),APSCapture(A,Bwithframenumbers)Alarmtrigger(RDI),(Nframes),APS测试,与OH相关的功能,1)OHPRESET,与OH相关的功能,2)OHTEST类型：OHchangeOHBERTPTR64frameOHADD/DROP3)OH监视,4)通过模式下OHoverwrite,与OH相关的功能,各种监视功能用于维护方面的应用,(1)光功率计,各种监视功能用于维护方面的应用,自检为保证测试的稳定性,唯一完全满足ITU-TO.172标准的测试仪表高速而且多种（種）抖动,漂移自动测试丰富的漂移发生功能(Transient,TDEVwander)基于DSP的可变型抖动测试滤波器（Upto622Mbit/s）结合抖动测试丰富的漂移应用软件(MX150001B)400,000UIp-p漂移发生功能(正弦波)选择带宽可设定的抖动传递特性的测试通过模式下的抖动功能(只限SDH)长时间的抖动评价功能(PeakJitter),新的抖动单元的主要特点,迅速多样（7种）的抖动.漂移自动测试,(1)抖动容限测试(2)抖动扫描测试（快速测试(3)抖动传递函数测试(4)频率扫描测试(5)抖动V.S.频率偏置测试(6)漂移扫描测试（快速测试）(7)漂移自动测试,基于DSP的可变型抖动测试滤波器（Upto622Mbit/s),配备有对以ITU-TO.172,O.171ITU-T为首的G系列,ANSI,Bellcore,ETSI等中规定的滤波器可进行自由设定的数据、而且,由于用户可自由设定滤波器的设定值,因此可进行抖动故障的要因分析,NoiseWander(噪声漂移）测试,输出漂移漂移产生输入噪声漂移容限噪声漂移传递特性,多样的漂移产生功能,为了能进行ITU-T,ANSI,ETSI等的规格所规定的TDEV漂移容限测试、TDEV漂移转移特性测试等,具有丰富多样的漂移发生功能。(1)可变型TDEV漂移发生(2)相位瞬变,通过外部(PC)与漂移应用软件(MX150001B)可进行实时MTIE,TDEV的测试。而且、可进行holdover测试、漂移容限(TDEV)测试、漂移传递特性(TDEV)测试等的所有的漂移测试。(1)实时漂移测试(2)漂移容限(TDEV)测试(3)漂移传递特性(TDEV)测试,丰富的漂移应用软件,400,000UI漂移发生功能(正弦波）,可产生评价漂移容限的能力值所必须的400,000UI。而且、能发生比ITU-TG系列所規定的值高很多的漂移值,因此可进行漂移容限的能力值的评价。,漂移测试带宽(Hz),100,1000,10000,100000,1000000,1.00E-05,1.00E-04,1.00E-03,1.00E-02,1.00E-01,1.00E+00,400,000UI,漂移容限能力值,G规格和O规格的比较,G系列O系列【G.811/G.812】【O.172】TDEV,MTIE设备规格TDEV,MTIE测试仪的规格频率漂移率频率漂移率(2001.3)【G.813】TDEV,MTIE设备规格Noise(TDEV)容限测试TDEVNoise调制规格(2001.3)Noise(TDEV)传递特性TDEVNoise调制规格(2001.3)【G.823/G.824/G.825】支路抖动测试规格支路抖动测试仪表的规格抖动规格(UptoSTM-64)STM-64抖动测试仪表的规格,Noise(TDEV)容限测试的概要,NE,STM-NSignal,STM-NSignal,RefsignalwithTDEVWander,Error&Alarm监视,Noise(TDEV)传递特性测试的概要,NE,STM-NSignal,RefsignalwithTDEVWander,TDEV测试,安立10G抖动测试方案,有关抖动和漂移测试的要求。10G抖动测试方案10G漂移测试方案,内容,SGNo.Rec.NoRecommendationNameSG4O.172JitterandwandermeasuringequipmentSG13G.811TimingrequirementsofprimaryreferenceclocksG.812TimingrequirementsofslaveclocksG.813TimingcharacteristicsofSDHequipmentslaveclocksG.825ThecontrolofjitterandwanderwithindigitalnetworkswhicharebasedontheSDHSG15G.958DigitallinesystemsbasedonthesynchronousdigitalhierarchyforuseonopticalfibrecablesG.783Characteristicsofsynchronousdigitalhierarchy(SDH)equipmentfunctionalblocks,ITU-T有关抖动&漂移的主要标准,支持新的抖动&漂移技术,01/01,03/99,MP1777ARelease,MP1580ARelease,1999,2000,2001,Year,1996,O.172,G.813G.825,+STM64,03/00,+TDEVGeneration,+STM64,+TDEVGeneration,+STM64,MP1570ARelease,TDEVGenerationisavailable.,+TDEVGeneration,+STM64,+STM64,08/96,MP1570A177(H)x320(W)x350(D)FDD,BUILT-IN-PRINTER,SLOT1,2,MU150018A2.5G/10GJitterUnit,GPIB,Controller,GP-IB,MP1777A+MS4630B+MX177701A,SLOT2,SLOT3,SLOT4,5,MU150000A2.5G/10GUnit,MU150001AOptical10GTx(1.55)Unit,MU150017AOptical10GRx(Wide)Unit,MP0121A2/8/34/139/156MUnit*,SLOT1,MP9677B10Gbit/sE/O,O/EConverter(WithoutE/OConverter),(1/40),MP1580A100(H)x320(W)x350(D)FDD,(1/40),10G抖动功能(1),10G抖动及漂移测试,MU150001AOptical10GTx(1.55)unit,MU150000A2.5G/10Gunit,Slot2,Slot3,Slot4/5,Slot1,MU150017A/BOptical10GRx(Wide)unit,MP0121A2/8/34/139/156Munit,MP0122A1.5/45/52Munit,MP0131AAdd/Dropunit,MU150018A2.5G/10GJitterunit,Slot1/2,MP1570A,MP1580A,10G抖动功能(2)插件结构,连接MP1580A和MP1570A,Opticaloutput,Opticalinput,GPIBcable,ElectricalRX,ElectricalTX,WanderRef.Input,WanderRef.CLKoutput,Atwandermeasurement,itisnecessarytoinputareferencesignalusingeitherthisconnectorortheWanderRef.Input.,ThisRS-232CinterfaceisconnectedtoanexternalhostPCatwander(MTIE/TDEV)measurement.,符合ITU-TO.172建议多种(6种)快速、自动的抖动及漂移测试功能多种漂移产生功能(Transient（瞬时）,TDEV漂移)具有丰富功能的漂移测试应用软件(MX150002A)400,000UIp-p漂移产生功能(正弦波)通过模式下的抖动功能Peakjitter测试功能,新2.5G/10G抖动单元的主要特点,MU150018A2.5G/10G抖动单元,满足ITU-TO.172建议80MHz抖动带宽光功率计功能一个模块集成2.5G&10G宽带O/E(MU150017B),2.5G/10G光Rx(Wide)单元的主要特点,MU150017BOptical2.5G/10GRx(Wide)Unit,多种(6)快速抖动&漂移自动测试功能,(1)抖动容限测试(2)抖动扫描测试（快速抖动容限测试功能）(3)抖动传递特性测试(4)频率扫描测试(5)漂移扫描测试(6)漂移测试,抖动容限测试,dB,1dBPowerpenaltyWhattypeoferrordoyouselecttoJTM?,1dBPowerpenaltyHowlongdoyourDUThaverecoverytime?,抖动容限测试,WhattypeoferrordoyouselecttoJTM?,HowlongdoyourDUThaverecoverytime?,抖动容限测试,RecoverytimeofDUT,LOS：LOF,Info.Error,B1Error,LONG,SHORT,Default,Error&Alarm,抖动容限测试,抖动扫描测试（快速抖动容限）,dB,1dBPowerpenaltyWhattypeoferrordoyouselecttoJTM?,1dBPowerpenaltyHowlongdoyourDUThaverecoverytime?,抖动扫描测试（快速抖动容限）,WhentheSweeptableissettoUser,thejitterquantityandfrequencycanbeset.,WhattypeoferrordoyouselecttoJTM?,HowlongdoyourDUThaverecoverytime?,抖动扫描测试（快速抖动容限）,抖动传递特性测试,MP1570AMP1580A,DeviceUnderTest,Optical/Electricalinterface,AtJitterTransfermeasurement,alwaysperformCalibrationbeforemeasurement.,抖动传递特性测试,抖动传递特性测试,PeakJitter测试,长时间的抖动测试,频率扫描测试,频率扫描测试,漂移扫描测试,漂移(TIE)测试,漂移(TIE)测试,多种漂移产生功能,多种漂移产生功能可用于评价符合ITU-T,ANSI,ETSI,等标准的TDEV漂移容限,TDEV漂移传递特性,holdover,相位瞬变等指标。(1)多种TDEV漂移产生(2)相位瞬变,用外接PC及MX150002A漂移应用软件可实时地进行MTIE及TDEV的测试。此外,还可进行其它：如漂移容限（TDEV),漂移传递特性（TDEV)等的测试。(1)实时漂移测试(2)漂移容限(TDEV)测试(3)漂移传递特性(TDEV)测试,功能丰富的漂移应用软件,MTIE测试,TDEV测试,怎样验证抖动测试仪表是否正确？,SG15:光及其它传输网,ITU-T标准化(SG13&15),SG4:Telecommunicationmanagement,includingTMN,ITU-T标准化(SG4),G.783中的抖动产生规范,STM-64Optical,NoJittersorNoInput,对用户来讲最重要的抖动问题,STM-64Optical,NoJittersorNoInput,在抖动测试仪表间存在很大的不同,ITU-T决定尽快制定评价抖动测试仪的方法,TesterA,TesterB,ITU-TQ5/SG4会议,Q5/SG4在上次ITU-T会议上(04/2002)决定制定抖动测试仪的评价方法。,2002,2003,April,Oct.,Feb.,安立提议发展抖动测试仪的评价方法。,大多数专家认为应将抖动测试仪的评价方法加进O.172附件中。,安立提出抖动测试仪的验证方法。,在会上没有反对者,Fieldtest&inquire,安立的现场测试及求证,在向ITU-T提出验证方法提案的前,安立在主要用户处进行了现场的测试及验证。,验证方法的条件,(1)用其它的测试仪器来替代抖动测试仪来进行验证。(2)这种验证方法应该可以由用户来进行.因此,这种验证方法应该用普通的测试仪表如：采样示波器等.(3)这种方法应该能确认任何（光或电）信号的实际抖动值。,Dontuseforverificationmethod,Dontuseforverificationmethod,Dontuseforverificationmethod,A,B,JittercomponentofSDHframesignal,由SSB噪声引起的随机抖动,（）,由SSB噪声引起的信号抖动值计算值大约为0.15mUIrms(20kHzto80MHz).如果采用低噪声的信号源作参考时钟源,由于与SDH帧信号的图案相关抖动相比，参考信号的随机抖动很小，可以忽略。,=0.15mUIrms,由SDH帧结构引起的图案相关抖动,WaveformofPatterndependentjitterontransmittersignalThisfigureshowthewaveformsofSTM-64signalwhichhasbothnonscramblearealikeSOHfirstcolumnandscramblearea.Youcancheckthatthenonscrambleareabecomethecauseofjitteronthesignal.Thevalueofjitterisabout11ps(0.109UIp-p)ontheoscilloscope.,E/OincludesDCBlock,PPG,Clock,STM-64OpticalData,Data,Trigger“Patternsync”,SDH信号的图案相关抖动,对STM-64来讲,在SDH帧信号中有1536比特/帧的A1=”F6”及1536比特/帧的A2=28”为未经扰码的字节。这样的比特流成为频率为3.24MHz的图案相关抖动。,SDH信号的图案相关抖动,8kHz,78MHz,3.25MHz,20k-80MHzJitterFilter,频域特性,8kHz周期的图案相关抖动有许多高频的谐波分量：3.25MHz,6.5MHz,78MHz.,6.5MHz,解调输出,PatterndependentjitterofSDHsignal,Thepatterndependentjitterof8kHzframeisnotsuppressedby20kHz+80MHz(HP1+LP).,Beforefiltered,Beforefiltered,Afterfiltered,Afterfiltered,1k10k100k1M10M100M,1k10k100k1M10M100M,PatterndependentjitterofSDHsignal,Thepatterndependentjitterof8kHzframeisnotsuppressedby20kHz+3MHz(HP1+LP).,Beforefiltered,Beforefiltered,Afterfiltered(20KHz+3MHz),Afterfiltered,1k10k100k1M10M100M,1k10k100k1M10M100M,JitterverificationmethodofSDHsignal,ActualPatternJittershownbyourphaseanalysistechnique(1)Notincluderandomjitterasusedaveragingfunctionofoscilloscope(2)DontcarebandwidthofHP1+LPastherearenotdeferencebetweensimulationresultswhicharewithHP1+LPandwithoutHP1+LPNote:Therewerenotsobigdifferencebetweenthismethodandthismethodwithcalculatedfilter(HP1+LP)byDSP.,E/O,PPG,Ch2:ReferenceClock,Ch1:OpticalData,Data,Trigger:PatternSync.,Verificationtechniqueonthesamplingoscilloscope,Procedure(1)Toreducerandomjitteroftheoscilloscopestriggercircuits,setaveragemodetoaroundsixty-fourtimes(2)Changethedelayonthebasisofareferenceclock.(3)MeasurethetimebetweentheDATAfall-dawnedgeandClock.,ReferenceClock,X1psec,X2psec,-X3psec,-X4psec,DATA,11110110,00101000,A1=“F6”,A2=“28”,0psec,VerificationresultofSDHsignal,Thisfigureisresultwhichisobtainedthegreatamountofsamplepointsatunscramblebytesbyusinganoscilloscopemethod.ItcanseethatpatterndependentjitteralreadyisincludedinSDHtransmittersignal.,Note:Therewerenotsobigdifferencebetweenthismethodandthismethodwithcalculatedfilter(HP1+LP)byDSP.,WaveformshowsthistransmittersignalREALLYhasthePatternJittercausedby“A2andJ0/Z0byte”.,由采样示波器进行抖动验证,相位差最慢的下降沿“A2”最快的下降沿“Z0”9.48ps=94mUIpp,SDH信号的实际的图案相关抖动值,Thepeakjittervalueofthissignalshouldbeselectedlargervaluefromtheseresultswhicharemeasuredbyfall-downedgeandrise-downedge.,SDH信号的实际的图案相关抖动值,Fall-downedge,Rise-downedge,抖动测试仪的评价方法,Ch2:ReferenceClock,Ch1:OpticalData,Trigger:PatternSync.,SamplingOscilloscope,Theresultsareusedasthereferencejittervaluewithoutrandomjiiteronopticalsignal.Usingsuchanalternativemethod,jittertestsetscouldbeverified.,“Good”or“NoGood”,E/O,PPG,Data,Clock,Compare,TesterA,TesterB,抖动探测器的评价方法,通过与示波器的结果相比较，抖动测试仪的解调输出可用来验证抖动探测器电路的性能。,Ch2:ReferenceClock,Ch1:OpticalData,E/O,PPG,OpticalData,Data,DemodulationOutput,Clock,比较抖动探测器的性能,通过与示波器的结果相比较，抖动测试仪的解调输出可用来验证抖动探测器电路的性能。,E/O,PPG,OpticalData,Data,Clock,NG,NG,Good,Reference,Compare,TesterA,TesterB,抖动测试仪的适当的补偿值,抖动的成分,(1)InputjitterincludepatternjitterbeingpresentattheDUTRx(existentornot)(2)IntrinsicjittercausedmainlybyphasenoiseeffectsintheDUT.(3)PatternjittercausedbytheDUT(signalstructuredependent,e.g8kHzframingpattern)(4)Intrinsicjittercausedmainlybyphasenoiseeffectsinthetester.(5)Patternjittercausedbythetester(signalstructuredependent,e.g8kHzframingpattern),DUT,NE-likebehavior,SDHpattern,Inputcircuit,Clockrecovery,Jittermeasurement,NE-li