SPC统计过程控制培训课件

1、Statistical Process Control（统计过程控制） 李 明SPC统计过程控制培训课件pptSPC统计过程控制培训课件ppt1SPC统计过程控制培训课件pptSPC统计过程控制培训课件p统计过程控制（SPC）1、SPC的发展史与基本统计概念2、SPC的基本原理3、控制图4、过程能力和过程能力指数统计过程控制（SPC）1、SPC的发展史与基本统计概念1.1 什么是SPC 什么是SPC统计过程控制即SPC(statistical process control)它是利用统计方法对过程中的各个阶段进行监控，从而达到改进与保证质量的目的SPC强调全过程的预防为主。 SPC不仅用于生产

2、过程，而且可用于服务过程和一切管理过程备注：SPC是全系统的，全过程的，要求全员参加，人人有责。这点与全面质量管理的精神完全一致。1.1 什么是SPC 过程：将输入转化为输出的相互关联和相互作用的活动。统计方法 过 程 产 品 客户顾客的声音过程的声音机料法环测人1.2 过程 过程：将输入转化为输出的相互关联和相互作用的活动。统计方机床（主轴承间隙、刀具）操作工（进给率、对中准确度）原材料（棒料尺寸、硬度） 轴外圆 顾客操作规程 尺寸环境（供电电压、温度、湿度、振动） 表面粗糙度资 源 融 合过程示例用普通机床生产一种轴的外圆机床（主轴承间隙、刀具）资 源 融 1.2.1 过程特性特性：定量、

3、定性 可区分的特征按重要程度分：关键、一般按状态分：产品、过程如何定义关键质量特性呢？1.2.1 过程特性特性：定量、定性1.3 基本统计概念统计学（Statistics） 为了了解被检验总体的某些隐含的特性，运用合理的抽样方法从被调整总体中取得适当的样本，通过研究样本来发现总体的特征收集、整理、展示、分析解释统计资料由样本（sample）推论母体群体（population）能在不确定情况下作决策是一门科学方法、决策工具 抽样 推论1.3 基本统计概念统计学（Statistics） 抽样 基本的统计概念数据的种类 波动（变差）波动的概念、原理及波动的种类普通原因/异常原因基础的统计量平均值X、

4、中位数X、极差R 标准偏差 s 、计量型计数型基本的统计概念数据的种类计量型计数型1.3.1 数据的种类计量型 特点：可以连续取值 也称连续型数据。如：零件的尺寸、强度、重量、时间、温度等计数型 特点：不可以连续取值，也称离散型数据。如：废品的件数、缺陷数1.3.1 数据的种类计量型计数型 波动的概念是指在现实生活中没有两件东西是完全一样的。生产实践证明，无论用多么精密的设备和工具，多么高超的操作技术，甚至由同一操作工，在同一设备上，用相同的工具，生产相同材料的同种产品，其加工后的质量特性（如：重量、尺寸等）总是有差异，这种差异称为波动。公差制度实际上就是对这个事实的客观承认。消除波动不是SP

5、C的目的，但通过SPC可以对波动进行预测和控制。1.3.2 波动（变差）的概念： 波动的概念是指在现实生活中没有两件东西是完全一样的。（1）、波动的原因：波动原因人机器材料方法测量环境（1）、波动的原因：波动原因人机器材料方法测量环境（2）、普通原因、特殊原因 普通原因：指的是造成随着时间推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多变差的原因，我们称之为：“处于统计控制状态”、“受统计控制”，或有时间称“受控”，普通原因表现为一个稳定系統的偶然原因。只有变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。如设备的正常震动，刀具的磨损，同一批材料的品质差异，熟练工人间的替换； 特殊原因：指的是造成不

6、是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成(整个)过程的分布改变。除非所有的特殊原因都被查找出来并且采取了措施，否則它们将继续用不可预测的方式来影响过程的输出。如果系统內存在变差的特殊原因，随时间的推移，过程的输出将不稳定。如设备故障，原材料不合格，没有资格的操作工、未按照作业指导书操作、工艺参数设定不对 （2）、普通原因、特殊原因 普通原因：指的是造成随着时普通原因和特殊原因的区别存在性方向影响大小消除的难易度普通原因始终偏向小难特殊原因有时或大或小大易普通原因和特殊原因的区别存在性方向影响大小消除的难易度普通原（3）、波动的种类: 正常波动：是由普通(偶然)原因造成的。如操作方法的

7、微小变动，机床的微小振动，刀具的正常磨损，夹具的微小松动，材质上的微量差异等。正常波动引起工序质量微小变化，难以查明或难以消除。它不能被操作工人控制，只能由技术、管理人员控制在公差范围内。 异常波动：是由特殊(异常)原因造成的。如原材料不合格，设备出现故障，工夹具不良，操作者不熟练等。异常波动引起工序质量变化较大，容易发现，应该由操作人员发现并纠正。（3）、波动的种类: 正常波动：是由普通(偶然)原因造1.3.3、基本统计量说明1、平均值 X 设X1，X2，.Xn是一个大小为n的样本，则X=（X1+X2+Xn)/n 2、中位数X 将数据按数值大小顺序排列后，位于中间位置的书，称为中位数。如：5

8、，9，10，4，7， X=7；如：5，9，10，4，7，8 X=（7+8）/2=7.51.3.3、基本统计量说明1、平均值 X 3、极差R 样本数据中的最大值Xmax与最小值Xmin的差值。R= Xmax- Xmin4、标准偏差s 、 （1）总体标准偏差 （2）样本的标准偏差 3、极差R总结： 通过收集、计算、分析和改进数据的手段，从而了解制造、服务等过程其最佳范围（低成本、低风险），并确定其控制范围的异常和正常规律，达成一种事先预测并实施改进措施的方法。总结：SPC的发展过程控制的概念与实施过程监控的方法早在20世纪20年代就由美国的休哈特(W.A.Shewhart)提出。 在第二次世界大战

9、后期，美国开始将休哈特方法在军工部门推行但是上述统计过程按制方法尚未在美国工业牢固扎根。反之，战后经济遭受严重破坏的日本在1950年通过体哈特早期的一个同事戴明(WEdwards Deming)博士，将SPC的概念引入日本从1950年至1980，经过三十年的努力，日本跃居世界质量与生产率方面的领先地位。美国著名质量管理专家伯格(Roger WBergcr)教授指出，日本成功的基石之一就是SPC。 美国从20世纪80年代起开始推行SPC。美国汽车工业已大规模推行了SPC，如福特汽车公司，通用汽车公司，克莱斯勒汽车公司等美国钢铁工业也大力推行了SPC，如美国LTV钢铁公司，内陆钢铁公司，伯利恒钢铁

10、公司等等。SPC的发展过程控制的概念与实施过程监控的方法早在20世纪2SPC能解决之问题 1.经济性：有效的抽样控制，不用全数检验，不良率和成本得以控制。使过程稳定，能掌握质量、成本与交期。2.预警性：过程的异常趋势可实时对策，预防整批不良,以减少浪费。3.分辨特殊原因：作为局部问题对策或管理阶层系统改进之参考。4.善用机器设备：估计机器能力，可妥善安排适当机器生产适当零件。5.改善的评估：过程能力可作为改善前后比较之指南。SPC能解决之问题 1.经济性：有效的抽样控制，不用全数检验SPC基本原理SPC基本原理控制图示例:上控制界限(UCL)中心线(CL)下控制界限(LCL)（一）、控制图定义

11、 控制图是用于分析和控制过程质量的一种方法。控制图是一种带有控制界限的反映过程质量的记录图形，图的纵轴代表产品质量特性值(或由质量特性值获得的某种统计量)；横轴代表按时间顺序(自左至右)抽取的各个样本号；图内有中心线(记为CL)、上控制界限(记为UCL)和下控制界限(记为LCL)三条线(见下图)。控制图示例:上控制界限(UCL)中心线(CL)下控制界限(L（二）、控制图的目的控制图和一般的统计图不同，因其不仅能将数值以曲线表示出來，以观其变异之趋势，且能显示变异属于偶然性或非偶然性，以指示某种现象是否正常，而采取适当的措施。利用控制限区隔是否为非偶然性（二）、控制图的目的控制图和一般的统计图不

12、同，因其不仅能将数（三）、控制图的设计原理：位置：中心值形状：峰态分布宽度1、在产品的生产过程中，计量值的分布形式有：（三）、控制图的设计原理：位置：中心值形状：峰态分布宽度1、NormalDistribution（正态分布） when n it turns to standard deviation central locationf(x)拐点拐点xNormalDistribution（正态分布） wheCharacteristic of Normal Distribution（正态分布的特征）No matter what value of&, the probability of data

13、 which fall into-3, +3 is 99.73%。拐点拐点2413123499.99%95.45%99.73%68.26%Characteristic of Normal Distr2、正态分布的参数 （1）平均值（） 此参数是正态分布曲线的位置参数，即它只决定曲线出现频率最大数值位置而不改变正态曲线的形状。2、正态分布的参数（2）标准偏差（） 此参数是正态分布曲线的形状参数，即它决定了曲线的“高”、“矮”、“胖”、“瘦”。（2）标准偏差（）4、正态分布表及其用法 我们把=0，=1的正态分布称为标准正态分布，记为X N（0，12）。其概率密度函数为 是将非标准正态分布 X N（

14、, 2）化为标准正态分布U N（0，12）的公式，称为“一般正态随机变量的标准化”公式。简称“标准化”公式。 附表2中的标准正态分布表是针对下列函数而构造的：4、正态分布表及其用法控制图原理工序处于稳定状态下，其计量值的分布大致符合正态分布。由正态分布的性质可知：质量数据出现在平均值的正负三个标准偏差(X3)之外的概率仅为0.27%。这是一个很小的概率，根据概率论 “视小概率事件为实际上不可能” 的原理，可以认为：出现在X3区间外的事件是异常波动，它的发生是由于异常原因使其总体的分布偏离了正常位置。控制限的宽度就是根据这一原理定为3。 控制图原理工序处于稳定状态下，其计量值的分布大致符合正态分

15、布1.两类错误： 第一类错误：误发信号的错误，即工序正常，点子落在控制界限外。第一类错误发生的概率记为。 第二类错误：漏发信号的错误，即工序异常，点子却仍然落在控制界限内。第二类错误发生的概率记为。计算：对于以3原理确定的休哈特控制图，第一类错误的概率0.27计算：的大小需要对具体问题进行具体分析。两类错误和3方式1.两类错误：两类错误和3方式/2/2 控制图的两类错误分析/2/2 控制图的两类错误分析xLCLCLUCL/2/2 控制图的两类错误第一类错误损失第二类错误损失两类错误损失图两 损 失的 合 计k3xLCLCLUCL/2/2 控制图的两类错误第一类错误 控制图的形成 旋转90LCL

16、UCLLCLUCL 控制图的形成 旋转90LCLUCLLCLUCL规格界限和控制界限规格界限：是用以规定质量特性的最大（小）许可值。 上规格界限：USL；下规格界限：LSL； 。控制界限：是从实际生产出来的产品中抽取一定数量的产品，并进行检测，从所得观测值中计算出来者。 上控制界限：UCL；下控制界限：LCL；规格界限和控制界限规格界限：是用以规定质量特性的最大（小）许 控制图的种类控制图名称用途计量值数据 R均值极差控制图各种计量值 R中位数极差控制图各种计量值 RS单值移动极差控制图各种计量值 S均值标准偏差控制图重要产品中使用计数值数据Pn不合格品数控制图.计件数据p不合格品率控制图计件

17、数据C缺陷数控制图计点数据U缺陷率控制图单位面积、长度的缺陷数1、按数据性质分类： 控制图的种类控制图名称用途计量值数据 R均值2、按控制图的用途分类分析用控制图：根据样本数据计算出控制图的中心线和上、下控制界限，画出控制图，以便分析和判断过程是否处于于稳定状态。如果分析结果显示过程有异常波动时，首先找出原因，采取措施，然后重新抽取样本、测定数据、重新计算控制图界限进行分析。控制用控制图：经过上述分析证实过程稳定并能满足质量要求，此时的控制图可以用于现场对日常的过程质量进行控制。2、按控制图的用途分类 分析用控制图決定方针用过程分析用过程能力研究用过程控制准备用控制用控制图追查不正常原因迅速消

18、除此项原因并且研究采取防止此项原因重复发生之措施。分析用控制图稳定控制用 分析用控制图控制用控制图分析用控制图稳定控制用“n”=1025控制图的选定资料性质不良数或缺陷数单位大小是否一定“n”是否一定样本大小n2CL的性质“n”是否较大“u”图“c”图“np” 图“p”图X-Rm图X-R图X-R图X-s图计数值计量值“n”=1n2中位数平均值“n”=25缺陷数不良数不一定一定一定不一定3、控制图的选择“n”=1025控制图的选定资料性质不良数或单位大小“n”计量型控制图计量型控制图1、建立X-R控制图的四步骤：A 收集数据B 计算控制限C 过程控制解释 D 过程能力计算/解释1、建立X-R控制

19、图的四步骤：A 收集数据B 计算控制限C 步骤A： 阶段收集数据A1选择子组大小、频率和数据子组大小子组频率子组数大小A2记录原始数据A3计算每个子组的均值X和极差RA4选择控制图的刻度A5将均值和极差画到控制图上步骤A： 阶段收集数据A1选择子组大小、频率和数据子组大小A1：选择子组大小、频率和数据：每组样本数（子组大小）：2-5；子组数要求：最少25组，共100个以上样本；频率可参考下表：每小时产量抽样间隔不稳定稳定10以下8小时8小时10-194小时8小时20-492小时8小时50-991小时4小时100以上1小时2小时抽样原则：组內变差小（同组数据连续抽样），组间变差大（组与组之间有一

20、定间隔时间）A1：选择子组大小、频率和数据：抽样间隔不稳定稳定10以下8A3、计算每个子组的均值和极差R：平均值的计算：44321xxxxx+=R值的计算：22333极差98.210099.498.699.6平均99100999910159999101100100498100100979939710198999829810099981001每组平均值和极差的计算示例：A3、计算每个子组的均值和极差R：平均值的计算：44321xA4、选择控制图的刻度：对于X-bar图，坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组（ X-bar ）的最大值与最小值差的2倍；对于R图，坐标上的刻度值应从0开始到最

21、大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差值（ R ）的2倍；A4、选择控制图的刻度：对于X-bar图，坐标上的刻度值的最A5、将均值和极差画到控制图上：在确定了刻度后尽快完成：将极差画在极差控制图上，将各点用直线依次连接：将均值画在均值控制图上，将各点用直线依次连接：确保所画的同一个样本组的Xbar和R点在纵向是对应的；分析用控制图应清楚地标明“初始研究”字样；标明“初始研究”的控制图，是仅允许用在生产现场中还没有控制限的过程控制图。（备注：控制用控制图必须要有控制限！）A5、将均值和极差画到控制图上：在确定了刻度后尽快完成：计算控制限B1计算平均极差及过程平均值B2计算控制限B3在控制图上作

22、出平均值和 极差控制限的控制线步骤B：计算控制限B1计算平均极差及过程平均值B2计算控制限B3在K为子组数kRRRRkxxxxxkk+=+=.21321极差控制图：平均值控制图：B1、计算平均极差及过程平均值kRRRRkxxxxxkk+=+=.RDLCLRDUCLRCLRAXLCLRAXUCLXCLRRRXXX3422=-=+=极差控制图：平均值控制图：B2、计算控制限注：D4、D3、A2为常数，随样本容量n的不同而不同，见控制图的常数和公式表。RDLCLRDUCLRCLRAXLCLRAXUCLXCLRRB3、在控制图上画出平均值和极差控制限的控制线 将平均极差（R bar）和过程均值（Xdo

23、uble bar）画成黑色水平实线，各控制限（UCLR、LCLR、UCLX、LCLX）画成红色水平虚线； 在初始研究阶段，这些被称为试验控制限。B3、在控制图上画出平均值和极差控制限的控制线 将平过程控制解释C1分析极差图上的数据点C2识別并标注特殊原因(极差图)C3重新计算控制界限(极差图)C4分析均值图上的数据点超出控制限的点链明显的非随机图形超出控制限的点链明显的非随机图形C5识別并标注特殊原因(均值图)C6重新计算控制界限(均值图)C7为了继续进行控制延长控制限步骤C：过程控制解释C1分析极差图上的数据点C2识別并标注特殊原因控制图的判定准则： （1）、基本判定准则：当控制图中的点出现

24、下列情况之一，说明生产过程存在特殊原因，需立即采取措施予以消除以确保过程处于稳定状态：超出控制线的点；连续七点上升或下降；连续七点全在中心点之上或之下；点出现在中心线单侧较多时，如：连续11点中有10点以上连续14点中有12点以上连续17点中有14点以上连续20点中有16点以上控制图的判定准则：（2）、图示判定准则： 当控制图中的点出现下列情况之一，说明生产过程存在特殊原因，需立即采取措施予以消除以确保生产过程处于稳定状态。ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL判定准则1:(2/3A)3点中有2点在A区或A区以外判定准则2: (4/5B)5点中有4点在B区或B区以外（2）、图示判定准

25、则：AUCLAUCL判定准则1:(2/3AABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL判定准则3:(6连串)连续6点持续地上升或下降判定准则4: (8缺C)有8点在中心线的两侧,但C区并无点子AUCLAUCL判定准则3:(6连串)判定准则4: (8缺CABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL判定准则5: (7单侧)连续7点在C区或C区以外判定准则6: (14升降)连续14点交互着一升一降AUCLAUCL判定准则5: (7单侧)判定准则6: (14ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL判定准则7: (15C)连续15点在中心线上下两侧的C区判定准则8: (1界外)有1点在A

26、区以外AUCLAUCL判定准则7: (15C)判定准则8: (1界C6、重新计算控制限当进行首次工序研究或重新评定过程能力时，要排除已发现并解决了的特殊原因的任何失控的点；重新计算并描画过程均值和控制限；确保当与新的控制限相比时，所有的数据点都处于受控状态，如有必要，重复判定/纠正/重新计算的程序。C6、重新计算控制限当进行首次工序研究或重新评定过程能力时，C7、延长控制限继续进行控制当控制图上的点处于受控状态并且CPK大于1时，将控制限应用于制造过程控制，此时控制图称为控制用控制图；将控制限画在控制用控制图中，用来继续对工序进行控制；操作人员或现场检验人员根据规定的取样频率和样本容量抽取样本

27、组、立即计算Xbar和R并将其画在控制图中并与前点用短直线连接、立即应用前述判定原则和标准判定工序是否处于受控状态；如工序处于非受控状态，操作人员或现场检验人员应立即分析异常原因并采取措施确保工序恢复到受控状态；工序质控点的控制图应用的“三立即”原则；工序质控点的控制图出现异常情况的处理20字方针是“查出异因，采取措施，加以消除，不再出现，纳入标准”。 C7、延长控制限继续进行控制当控制图上的点处于受控状态并且C七、计数型控制图的制作步骤和判定原则七、计数型控制图的制作步骤和判定原则1、建立P控制图的步骤：A 收集数据B 计算控制限 C 过程控制解释 D 过程能力解释1、建立P控制图的步骤：A

28、 收集数据B 计算控制限 C 过程建立p图的步骤A 阶段收集数据A1选择子组的容量、频率及数量子组容量分组频率子组数量A2计算每个子组內的不合格品率A3选择控制图的坐标刻度A4将不合格品率描组在控制图建立p图的步骤A 阶段收集数据A1选择子组的容量、频率及数A1 选择子组容量、频率、数量子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50200)以便检验出性能的变化，一般希望每组內能包括几个不合格品，但样本数如果太大也会有不利之处。分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与的子组容量的要求矛盾子组数量：要大于等于25组以上，才能

29、判定其稳定性。A1 选择子组容量、频率、数量子组容量：用于计数型数据的控制A2 计算每个子组內的不合格品率记录每个子组內的下列值被检项目的数量n发现的不合格项目的数量np通过这些数据计算不合格品率A2 计算每个子组內的不合格品率记录每个子组內的下列值A3 选择控制图的坐标刻度描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识別作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。划图区域A3 选择控制图的坐标刻度描绘数据点用的图应将不合格品率作为A4 将不合格品率描绘在控制图上描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。当点描完后，粗览一遍看看它们是

30、否合理，如果任意一点比別的高出或低出许多，检查计算是否正确。记录过程的变化或者可能影响过程的异常状況，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。A4 将不合格品率描绘在控制图上描绘每个子组的p值，将这些点 计算控制限B1 計算过程平均不合格品率B2 计算上、下控制限B3 画线并标注建立p控制图的步驟B 计算控制限B1 計算过程平均不合格品率B2 计算上、下控计算平均不合格率及控制限计算平均不合格率及控制限画线并标注均值用水平实线：一般为黑色或藍色实线。控制限用水平虛线：一般为紅色虛线。尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化，会如下图：232121212110030020010010

31、0200100300200100画线并标注均值用水平实线：一般为黑色或藍色实线。232121SPC统计过程控制培训课件 在实际应用时，当各样本组容量与其平均值相差不超过正负25%时，可用平均样本容量（n）来计算控制限，当样本组容量的变化超过上述值时，则要求单独计算这些特别小或特别大样本时期内的控制限。 注意：任何处理可变控制限的程序都会变得麻烦，并且可能使解释控制图的人员造成混淆。如果可能的话，最好是调整数据收集计划，从而使用固定的样本容量。 在实际应用时，当各样本组容量与其平均值相差不超按过程控制用控制图解释C1分析数据点，找出不稳定证据C2寻找并纠正特殊原因C3重新计算控制界限超出控制限的

32、点链明显的非随机图形建立p图的步骤C按过程控制用控制图解释C1分析数据点，找出不稳定证据C2寻C1、分析数据点，找出不稳定的证据点线面以上三种方式做判定。（同计量型控制图）C1、分析数据点，找出不稳定的证据点C2、寻找并纠正特殊原因 当从数据中已发现了失控的情況时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然后纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决问题技术。 C3、重新计算控制界限 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应计算试验控制限； 一旦控制图稳定和受控并且过程能力

33、可接受，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，控制图则成为管理用控制图。C2、寻找并纠正特殊原因 当从数据中已发现了失控的情況使用控制图的注意事项分组问题主要是使在大致相同的条件下所收集的质量特性值分在一组, 组中不应有不同本质的数据, 以保证组內仅有偶然因素的影响. 我们所使用的控制图是以影响过程的许多变动因素中的偶然因素所造成的波动为基准来找出异常因素的, 因此, 必须先找出过程中偶然因素波动这个基准.使用控制图的注意事项分组问题使用控制图的注意事项分层问题同样产品用若干台设备进行加工时, 由于每台设备工作精度、使用年限、保养状态等都有一定差异, 这些差异常常是增加产品质量

34、波动、使变差加大的原因. 因此, 有必要按不同的设备进行质量分层, 也应按不同条件对质量特性值进行分导控制, 作分层控制图. 另外,当控制图发生异常时, 分层又是为了确切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法.使用控制图的注意事项分层问题使用控制图的注意事项控制界限的重新计算为使控制结适应今后的生产过程, 在确定控制图最初的控制线CL、UCL、LCL时, 常常需要反复收集数据和计算, 以求得切实可行的控制图. 但是, 控制图经过使用一定时期后, 生产过程有了变化, 例如加工工艺改变、刀具改变、设备改变以及进行了某种技术改革和管理改革措施后, 应重新收集最近期间的数据, 以重新计算控制界限并作出新

35、的控制图.使用控制图的注意事项控制界限的重新计算各类控制图汇总不合格数C单位不合格数U不合格品率np不合格品率P计数值控制图单值移动极差X-RS中位数极差Me-R均值标准差LCLUCL CL均值极差计量值控制图图名称图代号类型表2 常规控制图表各类控制图汇总不合格数C单位不合格数U不合格品率np不合格品四、过程能力与过程能力指数SPC统计过程控制培训课件过程能力控制图显示了一个过程是否受控，但客户需要的是合格的产品过程受控 过程有足够的能力生产合格的产品过程能力：是过程的声音和客户声音的对比过程能力控制图显示了一个过程是否受控，但客户需要的是合格的产 过程能力 受控且有能力符合规范 （普通原因

36、造成的变差已减少） 规范下限 规范上限 时间 范围 受控但没有能力符合规范 （普通原因造成的变差太大） 过程能力过程能力具有能力的过程过程能力具过程能力不具有能力的过程过程能力不1.什么是过程能力 a、过程能力 过程的加工质量满足技术标准的能力，是衡量加工内在一致性的标准，决定于质量因素人、机、料、环、法，与公差无关。稳态时，99.73%的产品落在(-3 ，+3 )范围内，因此将过程能力PC定义为： PC=6 生产能力 加工数量方面的能力。b、短期过程能力与长期过程能力 所谓短期过程能力是指在任一时刻，过程处于稳态的过程能力，而长期过程能力则考虑了工具磨耗的影响、各批之间材料的变化以及其他类似

37、的可预期微小波动。换言之，短期过程能力表示了组内变异，而长期过程能力则表示了组内变异与组间之和。 1.什么是过程能力过程能力的研究 短期能力研究过程能力输入（材料）过程（生产/装配）输出（产品）反馈（测量/检验）过程能力的研究 短期能力研究过程能力输入过程输出反馈过程能力的研究 过程能力（Process Capability）过程固有总变差由普通原因造成的变差由 估计出2.3262.0591.6931.1285432n26dRs)2d过程能力的研究 过程能力（Process Capabilit过程能力的研究 输入（材料）过程（生产/装配）输出（产品）反馈（测量/检验） 长期能力研究过程性能过程

38、能力的研究 输入过程输出反馈 长期能力研究过程性能过程能力的研究 过程性能（Process Performance）过程总变差由普通原因和特殊原因造成的变差由6 估计出 是在控制图上所有样本的标准偏差总和过程能力的研究 过程性能（Process Performan过程能力的研究 过程性能子组内变差子组间变差 特殊原因变差普通原因变差 6过程能力的研究 过程性能子组内变差子组间变差2.过程能力指数-Cp过程能力满足产品技术标准（产品规格、公差）的程度。2.过程能力指数-Cpa.无偏移双侧规范情况的短期过程能力指数双侧规格界限是指既具有规格上限(TU)要求，又有规格下限(TL)要求的情况 ，无偏规

39、格中心Tm与分布中心重合， 计算公式：b.单侧规范情况的短期过程能力指数(1)仅给出规格上限TU ，计算公式：f（x）P1P2TLTUTmTf（x）TUxa.无偏移双侧规范情况的短期过程能力指数f（x）P1P2TL(2)仅给出规格下限TL计算公式：c.有偏移情形的短期过程能力指数规格中心Tm与分布中心不重合计算公式： 绝对偏移量 ： 偏移系数 ： 工序能力指数： 当k，即eT/2时， 规定Cpk=0 f（x）TLx-TLf（x）eTLTUP1PTmT(2)仅给出规格下限TL计算公式：f（x）TLx-TLd.Pp、PpkC系列过程能力指数与P系列过程能力指数的公式形式是相同的，二者的差别仅仅在于

40、，前者的公式中 ，而后者的公式中采用 。3.Cp和Cpk的比较说明Cp表示过程加工的一致性，即“质量能力”。 Cpk是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果。4. 3.Pp和Ppk的比较说明C系列过程能力指数是指过程的固有能力指数，而P系列过程能力指数则是过程的实绩过程能力。对于同一个过程而言，长期标准差 大于短期标准差 。过程的质量改进就是逐步减小 ，使之不断向 逼近。例题d.Pp、PpkCpCp：是一个能力指数。它把过程能力与由公差表示的最大可允许的变差进行比较。该指数反映了过程是否能够很好的满足变化的要求。Cp是不受过程位置的影响，只是针对双边公差而计算的，这个指数对单边公差没有

41、意义。CpCp：是一个能力指数。它把过程能力与由公差表示的最大可允CpkCpk：是一个能力指数，它考虑了过程的位置和能力。对双边公差，Cpk将总是小于或等于Cp只有当过程位于中心时，Cpk=CpCpk与Cp应该总是一起进行评价和分析。如果Cp值远大于对应的Cpk值，表明有机会通过使过程趋中来改进CpkCpk：是一个能力指数，它考虑了过程的位置和能力。对双PpPp：是一个性能指数。它把过程性能与由公差表示的最大可允许的变差进行比较。该指数反映了过程是否很好的满足变化要求该指数对于单边公差没有意义Pp不受过程位置的影响PpPp：是一个性能指数。它把过程性能与由公差表示的最大可允PpkPpk:性能指数。它考虑了过程的位置和性能。对于双边公差，Ppk将总是小于或等于Pp，只有当过程位于中心时，Ppk=PpPpk与Pp应该总是一起进行评价和分析。如果Pp值远大于对应的Ppk值，表明有机会通过使过程趋中来改进。Ppk直接与过程所产生的不合格比例有关SPC统计过程控制培训课件ppt优秀课件精品课件培训课件培训教材SPC统计过程控制培训课件ppt优秀课件精品课件培训课件培训教材PpkPpk:性能指数。