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文档简介

1、1，5。HFE条件开发A阶段作业，D、M、I、C、A，目的：各种范围的Hfe值的合理推式Hfe作业条件，2、5。开发HFE条件的步骤A，D、M、3、5。Hfe条件开发A会话，D、M、I、C、A、A节目1050 40min流程条件HFE增长值流程能力分析：(60个样本)平均值=1.22标准偏差=0.24增量上限：a节目1050 40min工序条件HFE增长值流程能力分析：(60个样品)平均=2.04标准偏差=0.26最大增长：平均3 x标准偏差=2.82，5，5。Hfe条件开发A会话，d，m，m A节目1050 40min工序条件HFE增长值流程能力分析：(60个样本)平均值=2.93标准偏差=

2、0.42最大增量：平均3 x标准偏差=4.17，6，5。上述实验数据(分别为A节目1050 40min流程的计算：最大增加=平均3X标准偏差=1.95(将总体标准偏差设置为与样本标准偏差相同)，并且每个模型M29控制范围为2倍空间，因此，对于小于下限的芯片，将HFE推至A节目1050 40min流程不会产生大的报废)。同样，计算出的3360A节目1050 75min工艺条件只能用于比下限小0.82倍以上的筹码B节目1158 1min工艺条件比下限小2.17倍以上的芯片。适用于每个工序的HFE范围：D，M，以避免HFE过度推拉；7，5。开发Hfe条件I会话，其次考虑中心值分布。对于A节目1050 40min流程，计算：牙齿牙齿流程的最佳HFE=(HFE控制范围下限1)-1.22=HFE控制范围下限-0.22相等A节目1050 75min工艺条件的最佳HFE=HFE控制范围下限-1.04 A节目1050 75min工艺条件：测试HFE小于HFE控制范围下限的0-1倍。使用A节目1050 40min工艺条件测试HFE低于HFE控制范围下限的1-2倍，使用A节目1050 75min工艺条件测试HFE低于HFE控制范围下限的2倍，使用B

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