《数字电子技术》-实验课件21集成逻辑门电路逻辑功能的测试_第1页
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文档简介

三、实验内容1、74LS04的逻辑功能测试2、74LS00逻辑功能测试3、74LS55逻辑功能测试4、74LS86逻辑功能测试1、测试74LS04的逻辑功能

将74LS04正确插入面包板,并注意识别第1脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为第1脚),按表1-1要求输入高、低电平信号,测出相应的输出逻辑电平。2、测试74LS00逻辑功能

将74LS00正确插入面包板,并注意识别第1脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为第1脚),按表1-2要求输入高、低电平信号,测出相应的输出逻辑电平。3、测试74LS55的逻辑功能

将74LS55正确接入面包板,注意识别第1脚位置,按表1-3要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,填入表中。(表中仅列出供抽验逻辑功能用的部分数据)

4、测试74LS86的逻辑功能

将74LS86正确接入面包板,注意识别1脚位置,按表1-4要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平。四、实验结果分析

若需要测试74LS55的全部数据,则所需测试表应有多少行?即输入数据有多少种组合?

要测试74LS55的全部数据,测试表所需行数为256。因为它有8个数

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